ＣＣＦＬ
ＬＥＤ
導光板
作用:破壞光源全反射,將光源由X,Y平面,轉換成Z方向導出
導光板
設計原理 光源曲線
入光側
背光均勻性
網點密度曲線
導光板
材質
PC:用於10.1”以下產品 優點: 折射率高,耐候性佳 缺點: 易產生按壓白印(團), 色度偏差較大 PMMA:用於10.1”以上產品 優點:表面硬度高,色度偏差較小 缺點:折射率低,耐候性差
成型製程 注塑 ,印刷,噴印,熱壓印…等
網點製程 直刻,蝕刻,雷射,撞點…..等
BLM 材料
Reflector：
由於光線進入Light Guide 後除了從發光面導出外，亦會從反面射出， 並且亦有光線亦會因為Diffuser或是BEF造成光源往反面射出，故在反 面必須加入反射面，可防止漏光與提高正視輝度。 可分為鏡面反射或是擴散反射兩大類。 鏡面反射：又可分為因利用建設性干涉達到反射目的（代表作品：ＥＳ Ｒ），以及利用鍍上金屬膜達到反射目的（代表作：３７Ｗ０１）。 擴散反射：PET 中內含大小不一之TiO2擴散粒子，因為TiO2與PET折 射率不同，當光線入射後會造成散射現象。白色的Housing亦是使用此 方式製成。 PET TiO2
BLM 材料
鐵框: 功能:1.提高模組機械強度 2.提高散熱能力 3.提升ESD/EMI能力 膠框: 功能:1.承載LCD 2.提升導光板效率 口字膠: 功能:1.連結背光與LCD 2.遮蔽邊緣亮線
LG 加入光學Film 之視角演變
Only LG + Diffuser + Diffuser + BEF
BLM 材料
Diffuser：
減少導光板出射光的方向性，使射出光均勻化，亦可將ＬＧ因製程不良造成 的小斑點模糊化。 Diffuser可分為 Film 表面塗佈擴散粒子(TiO2、SiO2)，或者是表面製作結構(滾 壓，壓印)達成擴散效果。 塗佈擴散粒子的製程方式較為簡單，擴散效果亦佳。
而若是在Film表面製作結構通常是有特殊目的，例如結構為Holographic Structure，可將光源擴散成固定角度，或固定形狀。由於是有特殊目的之 Diffuser，通常並不適用於Backlight。 壓印方式之擴散片 塗佈方式之擴散片
BLM 材料
BEF：
BEF 種類琳瑯滿目，但是其基本外型為90度稜鏡是 大致不變的。BEF使用時可使用兩張互相垂直，使其 正視角輝度提升。 BEF 的功能主要是將斜向光束偏折成正視角，由於 BL導出的光多數是傾斜的，加入Diffuser 也只能稍微 將正視角的光能量增加一些些，故並需加入BEF。 需注意的是，加入BEF雖然會提升輝度，但若是計算 Lux (lumen/m^2)則是下降的。
Snell’s Law
BLM 材料
Light source：可為 LED 或是 CCFL Housing(Frame)：白色塑料 (PC+TiO2) Reflector：ESR、Slivery Reflector、White Reflector。 Light guide：PC 、PMMA
Diffuser：High Haze Diffuser 90 % up、Low Haze Diffuser。
BLM 材料
BLM 材料
BEF 結構:
LCD 像素
1.Pixel Moire:因BEF pitch與LCD像素Pixel尺寸,週期性干涉所產生
2.Reflective Moire(牛頓環,Mura):局部區域Gap變異(過大/小)所產生
上擴散片: 功能:1.提高背光遮瑕能力 2.可降低BEF轉動角度,降低成本 3.絲印黑邊後,可以根除大角度亮邊問題
Snell’s Law：
N1Sin 1 N 2Sin 2
照明單位
熾熱燈：發出了總能 量為15 lm的光 觀察者：觀察熾熱燈亮 度為 0.08 cd 值，觀察 2 被照物為 16 cd / m
被照物：單位面積內所發 出（反射）總能量 100 lm / m 2
照明單位
Snell’s law in BLM
BEF：Prism Structure Bezel:SUS201/304,aluminum,馬口鐵 鍍鋁鋅..等
LED
以背光模組而言，在其他條件相同下，CD值相同之 NSSW206 比 NSSW006 輝度高至少10%以上。
色度
產出表
Light Source：
使用 CCFL或是使用 LED，會導致 LG 整個設計方式不同，主要在於 CCFL 為線光源，LED則為點光源，線光源轉為面光源較為容易，而 點光源直接轉為面光源還需再考慮角度(方位角)問題。
背光結構及原理介紹
Leading The Vision World
目錄
1. 2. 基礎光學、照明 BLM 部品及結構原理簡介 LED LG Reflector Diffuser BEF BLM規格 Q&A
3. 4.
基礎光學
BLM 中最常發生也最重要的定律：Snell’s Law。 發生於兩種不同介質面之間。
+Diffuser + XBEFFra bibliotek BLM 光學規格
業界常見均勻性規格:60%,65%,70%,75%,80% 業界常見量測位置如下:
均勻性計算方式: 1. △B= B Min/B Max 2. △B= B Max/B Min 規格換算:80%=1.25
谢 谢！