计算机标准化考试试题第一章X射线衍射分析一、填空（每空1分）1.X射线从本质上说，也是[ 电磁波]，其波长范围大约在[0.01～1000Ǻ]。
2.X射线管发出的X射线，可得到面积为1mm×1mm的[ 点]焦点和面积为0.1mm×10mm的[线]焦点。
从[线]焦点窗口发出的X射线适用于衍射仪的工作。
3.标识X射线谱中，对一定线系的某条谱线而言，其波长与原子序数的平方近似成[反比]关系，这就是著名的[ 莫塞莱]定律。
4.伴随光电吸收而发生的有[荧光X射线]和[俄歇电子]。
5.布拉格方程2dsinθ=λ是X射线晶体学中最基本的公式，其中d是[晶面间距]，θ是[布拉格角（半衍射角）]，λ是[入射X射线波长]。
6.通常将入射线与晶面的交角θ称为[布拉格角（半衍射角）]，入射线与衍射线的交角2θ称为[衍射角]。
7.X射线衍射方法有[劳厄法]、[转动晶体法（转晶法）]、[粉晶法]和[衍射仪法]四种方法。
8.从粉末衍射线束强度的测量中，可以得到有关[晶体结构]，多相混合物中各物质的[相对含量]等多种信息。
9.衍射仪的工作方式有[连续扫描]和[步进扫描]两种。
10.进行定性相分析时，必须先将试样用粉晶法或衍射仪法测定各衍射线的[衍射角]，将它换算为晶面间距d，再测出各条衍射线的[相对强度]，然后与各种结晶物质的标准衍射花样进行比较鉴别。
11.粉末衍射标准联合委员会专门负责收集、校订各种物质的衍射数据，将它们进行统一的分类和编号，编织成卡片出版，这种卡片组被命名为[粉末衍射卡组]，简称[PDF]卡。
二、判断题(每题1分)1标识X射线（特征X射线）的波长只决定于元素，不同元素将发出不同波长的谱线。
[对]2X射线的相干散射不损失能量，只改变方向，它们可以相互干涉形成衍射图样。
[对]3布拉格公式是X射线晶体学中最基本的公式，它与光学反射定律加在一起就是布拉格定律。
[对]4劳厄法是用连续X射线照射多晶体的衍射方法。
[错]5连续扫描无滞后及平滑效应，因此衍射峰位正确、分辨率好。
[错]6在确定衍射峰位时，切线法适用于线形尖锐的情况。
[错]7在进行定性物相分析时，d值的数据比相对强度的数据重要。
[对]8在进行定性物相分析时，高角度区域的数据比低角度区域的数据重要。
[错] 9X射线物相定量分析，是根据混合试样中各相物质的衍射线强度来确定各相物质的相对含量。
[对]10用谢乐方程可以计算颗粒尺寸。
[错]三、单项选择题(每题1分)1. X射线衍射分析的缩写是[ A ]A.XRD；B.TEM；C.SEM；D.DTA。
2. X射线衍射分析方法中，应用最广泛、最普遍的是[ D ]A.劳厄法；B.转动晶体法；C德拜法；D.衍射仪法。
3. X射线衍射仪的核心部件是[ B ]A. X射线管；B.测角仪；C.探测器；D.高压电源。
4.在进行X射线衍射谱分析时，确定衍射峰位的方法中，适用于线形尖锐情况的是[ A ]A.峰顶法；B.切线法；C.半高宽中点法；D.中点连线法。
5.JCPDS编制出的索引共有三种，适用于已知试样中含有某种元素或某几种元素的情况的索引是[ A ]A.字顺索引；B.哈那瓦特索引；C.芬克索引。
四、多项选择题(每题2分)1. X射线衍射分析在无机非金属材料研究中可用于[ ABCD ]。
A.物相分析；B.测定晶格常数；C.判定晶体的对称性和取向；D.测定晶粒大小。
2. 由波的干涉加强条件出发，推导出衍射线的方向与点阵参数、入射线相对于点阵方位及X射线波长之间的关系（X射线衍射的几何条件），这种关系的具体表现为[ AB ]A.劳厄方程；B.布拉格定律；C.莫塞莱定律；D.谢乐方程。
3. 在X射线衍射研究晶体的方法中，用于研究单晶体的方法是[ AB ]A.劳厄法；B.转动晶体法；C德拜法；D.衍射仪法。
4. X射线与物质相互作用中，伴随光电吸收发生的有[ CD ]A.相干散射；B.不相干散射；C.荧光X射线；D.俄歇电子。
5. 在下列方法中，用于确定X射线衍射谱中衍射峰位的方法是[ ABC ]A.峰顶法；B.半高宽法；C.抛物线模拟法；D.外推法。
第二章电子显微分析一、填空（每空1分）1.电子显微分析是利用[聚焦电子束]与试样物质相互作用产生的[各种物理信号]，分析试样物质的[微区形貌]、[晶体结构]和[化学组成]。
2. TEM的分辨率是[0.104—0.25]nm，放大倍数是[100—800000]倍；SEM的分辨率是[3—6]nm，放大倍数是[15—300000]倍。
3. 电磁透镜的像差有[球差]、[色差]、[轴上像散]和[畸变]。
4. 透射电子显微镜的结构分为[光学成像]系统、[真空]系统和[电气]系统。
5. 透射电镜分析中，电子图像的衬度按其形成机制有[质厚衬度]、[衍射衬度]和[相位衬度]三种衬度。
4. 解释扫描电子显微像镜的衬度有[形貌衬度]、[原子序数衬度]和[电压衬度]三种衬度。
6. 电子探针X射线显微分析（EPMA）是一种[显微]分析和[成分]分析相结合的微区分析，是研究材料组织结构和元素分布状态的极为有力的分析方法。
其中常用的X射线谱仪有[波谱仪]和[能谱仪]两种。
7.电子探针分析有四种基本分析方法：[定点定性分析]、[线扫描分析]、[面扫描分析]和[定点定量分析]。
二、判断题(每题1分)1.观察纳米粒子必须用电子显微镜，不能用光学显微镜。
[错]2.电子波长与其加速电压平方根成正比，加速电压越高，电子波长越长，电子的能量越小。
[错]3.电磁透镜是一种可变焦距或可变倍数的会聚透镜，这是它有别于光学玻璃凸透镜的一个特点。
[对]4.弹性散射电子由于其能量等于或接近于入射电子能量E0，因此是透射电镜中成像和衍射的基础。
[对]5.透射电镜是一种高分辨率、高放大倍数的显微镜，是观察和分析材料的形貌、组织和结构的有效工具。
[对]6.扫描电镜电子图像的衬度按其形成机制有质厚衬度、衍射衬度和相位衬度。
[错]7.质厚衬度理论适用于一般成像方法的非晶态薄膜和复型膜试样所成图像的解释。
[对]8.多晶电子衍射得到的电子衍射花样是一系列按几何图形配置的衍射斑点。
[错]9.扫描电镜具有场深大（三百倍于光学显微镜）的特点，适用于粗糙表面和断口的分析观察。
[对]10. 扫描电镜试样制备时要进行镀膜处理，其目的是避免在电子束照射下产生点和积累，影响图像质量，并可防止试样的热损伤。
[对]11.二次电子像主要反映试样表面的形貌特征，像的衬度是形貌衬度，图像中凸尖和台阶边缘处二次电子发射最多，亮度最高；平坦部或凹谷发射的二次电子最少，亮度最暗。
[对]12.能谱仪分析的元素范围广（4Be～92U）、探测极限小、分辨率高，适用于精确的定量分析。
[错]三、单项选择题(每题1分)1.透射电子显微分析的缩写是[ A ]。
A.TEM；B. SEM；C. EPMA；D.DTA。
2.扫描电子显微分析的缩写是[ B ]。
A.TEM；B. SEM；C. EPMA；D.DTA。
3.电子探针X射线显微分析的缩写是[ C ]。
A.TEM；B. SEM；C. EPMA；D.DTA。
4. 分辨率（分辨本领）是电磁透镜的最重要的性能指标，它受到衍射效应、球差、色差和轴上像散等因素的影响，其中衍射效应和[ A ]是最主要的。
A.球差；B.色差；C.轴上像散；D.畸变。
5.透射电镜是应用[ A ]来成像。
A.透射电子；B.背散射电子；C.二次电子；D.俄歇电子。
6.无机非金属材料大多数为多相、多组分的非导电材料，直到60年代初产生了[ D ]后，才使无机非金属材料的薄膜制备成为可能。
A.超薄切片方法；B.电解抛光方法；C.化学抛光方法；D.离子轰击减薄方法。
7.适合透射电镜观察的试样是厚度小于[ C ]的对电子束“透明”的试样。
A.50nm；B.100nm；C.200nm；D.500nm。
8.扫描电镜用不同信号成像时分辨率是不同的，分辨率最高的是[ B ]。
A.背散射电子像；B.二次电子像；C.X射线像；D.吸收电子像。
9. 扫描电镜分析中，适用于解释形貌像的衬度是[ A ]A.形貌衬度；B.原子序数衬度；C.电压衬度；D.质厚衬度。
10.四、多项选择题(每题2分)1.电子显微分析包括[ BCD]A.X射线衍射分析；B.透射电子显微分析；C.扫描电子显微分析；D.电子探针X 射线显微分析。
2.在电子与固体物质相互作用中，从试样表面出射的电子有[ ACD ]A.背散射电子；B.透射电子；C.二次电子；D.俄歇电子。
3.透射电镜电子图像的衬度按其形成机制有[ ABC ]。
A. 质厚衬度；B. 衍射衬度；C. 相位衬度；D.形貌衬度。
4.透射电子显微分析中，用于晶体薄膜试样所成图像解释的衬度是[ BC ]A.质厚衬度；B.衍射衬度；C.相位衬度；D.原子序数衬度。
5.扫描电镜的衬度，根据其形成的依据可分为[ BCD ]。
A.质厚衬度；B.形貌衬度；C.原子序数衬度。
D.电压衬度。
第三章、第四章第五章一、多选题：（每题2分）1.多原子分子的振动模型的基本类型可分为：（a，c）（第四章）（a）伸缩振动（b）扭动（c）弯曲振动（d）摇摆2. 伸缩振动的基本类型有：（a，d）（第四章）（a）对称伸缩振动（b）剪式弯曲振动（c）旋转振动（d）非对称伸缩振动3. 多原子分子的弯曲振动可分为：（a，b，c，d）（第四章）（a）变形或剪式振动（b）摇摆或面内弯曲（c）摇摆或面外弯曲（d）扭动4. 对红外光谱来讲，产生吸收振动需要满足：（a，b）（第四章）（a）振动频率与红外光光谱段的某频率相等。
（b）偶极矩的变化（c）非红外活性振动（d）振动的简并5. 红外光按波长的不同可划分为以下区域：（a，b，c）（第四章）（a）近红外区域（b）中红外区域（c）远红外区域（d）极远红外区域6. 影响红外光谱图中谱带位置的因素有：（a，b，c，d）（第四章）（b）键应力（c）氢键（d）物质状态7. 影响红外光谱图中谱带强度的因素有：（a，c）（第四章）（a）偶极矩的变化（b）物质的状态（c）能级的跃迁几率（d）键应力8. 红外光谱带可划分为：（a，b）（第四章）（a）官能团区（b）指纹谱带区（c）不对称振动区（d）对称振动区9. 红外分光光度计由以下部分组成：（a，b，c）（第四章）（a）红外辐射光源（b）单色器（c）检测器（d）衍射光栅10. 红外分光光度计中的单色器包括以下元件：（a，b，c）（第四章）（a）狭缝（b）准直镜（c）色散元件（d）棱镜11. 红外分光光度计中的热检测器有以下种类：（a，b，c，d）（第四章）（a）热电偶（b）热电检测器（c）高莱槽（d）测辐射热计12. 影响红外分光光度计测量准确度的主要因素有：（a，b，c）（第四章）（a）噪音（b）杂散光（c）仪器的动态响应（d）扫描速度13. 红外光谱实验中固体样品制备的主要方法有：（第四章）（b）悬浮法（c）卤化物压片法（d）薄膜法14. 光电子能谱测量中化学位移的解释有以下模型：（a，b，c）（第五章）（a）离子型化合物静电模型（b）分子电位—电荷热能模型（c）等效原子核心－等价电子壳层模型（d）振动模型15. 光电子能谱仪由以下部分构成：（a，b，d）（第五章）（a）激发光源（b）光电子能谱分析器（c）电子倍增管（d）测试和记录系统16. 以下选项中属于光电子能谱粉末试样制备方法的有：（a，c）（第五章）（a）压片法（b）点焊法（c）溶剂处理法（d）冷凝法17. 光电子能谱可用于以下方面的分析：（a，b，d）（第五章）（a）化学分析（b）固体表面相的研究（c）形貌分析（d）化合物结构的鉴定18. 俄歇电子能谱可以用于以下方面的分析：（a，b，c）（第五章）（a）定性分析（b）定量分析（c）状态分析（d）断口分析19. 红外光谱实验中的薄膜法包括以下方法：（a，b，c，d）（第四章）（a）剥离薄片法（b）熔融法（c）溶液法（d）沉淀薄片法20. 以下方法中属于特殊红外光谱分析技术的有：（a，b，c，d）（第四章）（a）微量样品红外测量法（b）偏振红外光谱技术（c）内反射法（d）傅立叶变换红外光谱法二、填空题：（每空1分）1. 将透过物质的光辐射按波长长短排列，并测量不同波长处的辐射强度，得到的是（1）。