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红外传感器来料检验规范(C)004

深圳市昶宇电子有限公司文件版次:A/O
制定日期:2013-3-19
文件标题:红外传感器来料检验规范制定部门:品质部页次:1/2 1.0目的:
确定检验作业条件,确定抽样水准,明确检验方法,建立判定标准,以确保产品品质。

2.0.适用范围:
本检验规范适用于我司IC检验作业。

3.0权责单位:
本检验规范由品质部制定,管理者代表核准后发行; 所制定之规格,如有修改时,须经原制定单位同意后修改之
4.0应用文件:
国家标准GB/T2828.1-2003一般检查水平II)、工程图纸、工程样板。

5.0检验标准:
5.1.1国家标准GB/T2828.1-2003一般检查水平II,正常检验、单次抽样计划,
AQL订定为 CRI=0 、MAJ=0.65 、MIN=1.5
5.1.2相关抽样标准或判定标准,可视品质状况或客户要求等做修正。

6.0定义
6.1缺点分类:
6.1.1.严重缺陷(CRI):可能对机器或装备的操作者造成伤害;潜在危险性的
效应,会导致与安全有关的失效或不符合政府法规;影响机械或电气性能,产品在组装后或在客户使用时会发生重大品质事件的。

深圳市昶宇电子有限公司文件版次:A/O
制定日期:2013-3-19
文件标题:红外传感器来料检验规范制定部门:品质部页次:2/2
6.1.2主要缺陷(MAJ):性能不能达到预期的目标,但不至于引起危险或不安
全现象;导致最终影响产品使用性能和装配;客户很难接受或存在客户抱怨风险的产品
6.1.3 .次要缺陷(MIN):不满足规定的要求但不会影响产品使用功能的;客
户不易发现,发现后通过沟通能使客户接受的。

7.0外观检验:
7.1外观质量及结构质量
7.2电气间隙及爬电距离
8.0主要性能试验:
8.1红外线传感器的外壳材料必须采用Q235材料。

用洛氏硬度仪检测。

出现负
值的为合格。

8.2金属外壳是否存在划痕、锈蚀,紧固件是否松动。

8.3材料加工、处理及装配是否符合相关标准。

8.4红外线传感器本安端子与外壳之间应能承受500V、50Hz,历时1MIN的工频
耐压试验,且无击穿与闪洛现象和漏电流不大于5MA。

编制审核核准。

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