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应忽视实验自身所特有的个性。 图 2 和图 3 是双棱镜法和洛埃镜法的光路图， 对比着分析就 可领悟到它们的异同之处。
图 2
菲涅耳棱镜法实验光路
图 3 洛埃镜法实验光路 实验中的屏用以呈现干涉条纹，且应能测量条纹的间隔距离 e，故采用带有标尺和测量 准线的测微目镜，可详见本书附录。 本实验中两相干光源的距离d是不能直接测量的，因为两种方法中都存在着虚光源，为 此，必需用透镜成象的方法将虚光源成实像于屏上进行测量，具体方法是：在物(相干光源) 和屏(测微目镜)的距离大于透镜焦距四倍的条件下，保持物、屏距离不变，移动透镜位置必 可使两相干光源在屏上成大、小象各一次，因而可以分别测量两相干光源的大、小象的间距 d1和d2，然后根据图 4 的成象原理图有：
4 X 2 + 4(Y + a ) 2 + d 2 dX 由 <<1 的条件可知，为使 Δ = 能成立，观察区域X、Y及线 2 Z0 8Z 0
源长度均应受到限制，一般情况下这些条件是能够满足的。下面以一实例作些估算： d=1.5mm，线光源长(狭缝长)l0mm(a=5mm)，在Z0=500mm处的小区域内进行观察，区域大 小 为 10 × l0mm2( 相 当 于 测 微 目 镜 的 视 场 大 小 ) ， 则
处光强为极小值，屏上呈现出一条暗纹。 屏上相邻两极大值之间的距离为亮条纹的间隔距离为 e1 ,屏上相邻两极小值之间的距 离 e2 为暗条纹的间隔距离。从上述讨论可知，第 k 级极小值在屏上的位置 x k 为：
xk =
相邻的第 k + 1 级极小值位置 x k +1 为：
Z λ (2k + 1) d 2
λ=
d e Z
实验通过直接测量两相干光源之间的距离 d、光源至屏的距离 Z 和干涉条纹的间距 e，便可 间接测得相干光的波长 λ 。 实验中S1和S2这一对相干光源是通过对狭缝射出的光波作波阵面分割来获得的。由于分 割波阵面时可用不同的光学元件，故而有杨氏双缝法、菲涅耳双棱镜法、菲涅耳双面镜法和 洛埃镜法等，虽然它们获得的两相干光源特性略有差异(如杨氏双缝法是一对实光源，洛埃 镜法是一实一虚的相干光源，菲涅耳双棱镜和双面镜法是一对虚光源)，且干涉图样特征会 稍有不同，但因源于同理，故大同小异。实验者在实验中既要掌握双光束干涉的共性，也不
Z λ d
（1）
e 时，点源 S’的亮条纹与点源 S 的暗条纹相重合，E 上就观察不到干涉 2
现在设想光源是以 S 为中心的扩展光源 S’S"，如图 8 所示。光源上的每一点源都会在 屏 E 上形成自己的干涉条纹， 而整个扩展光源所产生的干涉图样应是每个点源形成的条纹相 加结果。当扩展光源的边缘点 S'在屏上形成的干涉条纹与点 S 在屏上形成的干涉条纹错开 的距离 Δ 为:
x k +1 =
所以暗条纹的间隔距离 e2 为：
Z λ [2( k + 1) + 1] d 2
e2 = x k +1 − x k =
同理可得到亮条纹的间隔距离 e1 为：
Z λ d
e1 =
Z λ d
由此可见，无论是明条纹还是暗条纹。它们都是等间距的，且 e1 = e2 = e ， e 统称为条纹的 的间距，因而对明条纹或暗条纹均有下列关系式：
dX 4 X 2 + 4Y 2 + d 2 [1 − ], Z0 8Z 02
当
4 X 2 + 4Y 2 + d 2 <<1 时（称近轴条件） ， 8Z 02
Δ= dX Z0
即在 Z 轴附近的区域内 Z，观察面上任一点的程差仅与 X 成正比，所以干涉图样是平行于 Y 轴的等间距的条纹。
现在考虑两个相距为d的平行线光源的情况，坐标选取如图 6 所示。线上各点是不相干 的，但两线光源上相同Y值的点对是相干的，如Y=-a处的点对S1'和S2'是两相干点源，这是与 用一般光源照明狭缝, 然后通过一定方法将其变成两个线源产生干涉的实际装置相符合的。 观察平面Z0上的干涉图样应是各点对在Z0平面上形成的干涉条纹的叠加，下面考虑Y=-a的这 一点对在Z0平面上P点的程差：
S S d d = 0' = 0 ； d 2 Si d1 S i
'
S0
S1
d
Si
L
d1
' 从原理上讲 S 0 = S i' , S 0 = Si ，
所以有 d =
d1 ⋅ d 2 ，测量时应选择
d
S2
S1 S2
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L
d2
合适的物屏距以免 d1 、d 2 相差过份悬
S 0'
图 4
S
' i
殊。 实验是在导轨上进行的， 当需要测量狭缝(光源)和测微目镜(屏)位置和它们之间的距离 时，必需考虑它们的实际位置和滑块读数标线之间的修正量，它们分别是：狭缝为 40.Omm，
r1 S1 d r2
30.00
x
O
S2
190.00
Z
ห้องสมุดไป่ตู้
图 1
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d d (x + )2 − (x − )2 r −r 2 2 ≈ xd （当 Z >> d 时， r + r = 2Z ） Δ = r2 − r1 = = 1 2 r2 + r1 r2 + r1 Z
2 2 2 1
当Δ =
xk d Z = kλ (k = 0,±1,±2,L) 时，两相干光线相干加强， x k = ⋅ kλ 处光强达到极 Z d
选十七、选十八
用双光束干涉法测定钠光的波长
(a)双棱镜法（十七） (b)洛埃镜法（十八）
一、目的要求 这两个实验都是采用分波阵面方法实现双光束干涉， 并依据双光束干涉原理测定钠光的 平均波长。通过实验应达到下列要求∶ 1． 了解双光束干涉的原理以及在实验中获得相干双光束的方法(要求依据原理绘制实验 光路图)。 2．正确调整光路，使双棱镜棱脊(或洛埃镜镜面)与狭缝平行；干涉条纹与测微目镜中 的测量准线平行； 光路与光具座的测量标尺平行(俗称三平行条件)。 明确三平行调节要求 的目的和判据。 3．观察光源宽度对双光束干涉的具体影响，定性地从理论上加以分析。 4. 观察不同物理量变化时(如相干光源的间距变化、光源与屏之间的距离变化等)干涉 图样的变化情况，并作出解释。 5． 加深理解凸透镜成象的原理以及应用于该实验中测量虚像间距的方法(要求绘制虚像 间距测量的光路图)。 6．对钠光平均波长测定的正确度要求是∶(a)双棱镜法：7％，(b)、洛埃镜法：3％。 二、仪器设备 光具座及支架、滑块，狭缝、钠光灯、双棱镜或洛埃镜，凸透镜，测微目镜。 三、参考书目 1．程守洙、江之永《普通物理学》第三册(1982 年修订本)P.1—16。 2. 母国光、战元龄《光学》P.195 一 213。 3．林抒、龚镇雄《普通物理实验》P.382—384。 4．杨之昌《物理光学实验》P.6—9、P.46—57、 P.115—123。 四、原理与方法 在图 1 中，S1和S2是相距为d的一对相干光源；当观察屏离光源的距离为Z，且Z>>d时， 两相干光源射出的光线到达屏上任一点x的程差为：
先讨论两个相距为d的点光源S1和S2在Z0平面上形成的干涉条纹形态， 选取的直角坐标系 如图 5 所示。Sl、S2发出的同相光波到达Z0平面上P点的程差为：
Δ = S 2 P − S1 P = r2 − r1
而 r1 =
d d Z 02 + ( X − ) 2 + Y 2 ； r2 = Z 02 + ( X + ) 2 + Y 2 2 2
大值；在观察屏的小范围内， x k 处将呈现出垂直于纸面的一条亮线。假如 S1 和 S2 是垂直 于纸面的有限长度的线光源（如狭缝） ，则亮纹更亮（详见参考资料一） 。 当Δ =
xk d λ = (2k + 1) 2 Z
(k = 0,±1,±2,L) 时， 两光线干涉相消，x k =
λ Z ⋅ (2k + 1) 2 d
4 X 2 + 4(Y + a) 2 + d 2 = 2.5 × 10 − 4 << 1 。 8Z 02
用线光源代替点光源后，能够增加干涉图样的强度，但同时也给实验带来了一个困难， 这就是必需使线光源的取向正确，即狭缝必需和双棱镜棱脊(或洛埃镜镜面)平行，否则就观 察不到干涉图样，这是在调整实验装置时要充分注意的。 二、关于光源宽度问题的讨论 原理中所述的相干点源或线源都是没有宽度的几何点或线， 但实际的光源都是有一定宽 度的，例如用狭缝作为线光源时，缝就不可能是无限细的，下面以双棱镜法为例简略地讨论 光源宽度对干涉图样的影响问题。
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(X + d )2 + Y 2 2 < 1 的条件下， r1 和 r2 可表示为： 在 （忽略高次项） Z 02
2 2 d 2 d 2 1 ( X − 2) + Y 1 ( X − 2) + Y 2 r1 = Z0 {1 + ⋅ − ⋅[ ]} 2 2 2 8 Z0 Z0
2 2 d 2 d 2 1 ( X + 2) + Y 1 ( X + 2) + Y 2 ] } r2 = Z 0 {1 + ⋅ − ⋅[ 2 8 Z 02 Z 02
Δ=
dX 4 X 2 + 4(Y + a ) 2 + d 2 [1 − ] Z0 8Z 02
4 X 2 + 4(Y + a ) 2 + d 2 当 <<1 时， 8Z 02
Δ= dX Z0
由此可见，在满足上述条件下，S1'和S2'相干点源在Z0平面上Z轴附近的小区域内所形成 S2在Z0平面上所形成的干涉条纹是完全相同的。 由于Z0平面上干涉图样的强 的干涉条纹与S1、 度等于线源上各点对形成的干涉强度的和， 所以在杨氏干涉实验中采用线光源后增加了干涉 图样的强度， 但并不改变条纹的形状， 这有利于观察和测量的， 这就是 “后人重复此实验时， 把针孔改为狭缝”的道理所在。