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薄膜沉积物理方法超强总结

艺重复性好; 6、沉积原子能量较高,还可以改善薄膜对复杂
形状表面的覆盖能力,降低薄膜的表面粗糙 度。
➢ 主要缺点:
1、沉积速率不高; 2、等离子体对基片存在辐射、轰击作用,不但
可引起基片温升,而且可能形成内部缺陷。
溅射沉积法
➢分类:
直流溅射三传极统二/四极极溅溅射射
按电极特性不同,可分为:
磁控溅射
射频溅射
❖ 按靶材性质不同,可分为:射直频流溅溅射射--靶靶材材为为绝金缘属体或或半半金导属体导体
沉积物性质不同,可分为: 常规溅射-沉积物质为纯元素靶材或不同纯元素靶材的合金 反应溅射-通入反应性气体,可沉积靶材与气氛的化合物
溅射沉积法
➢主要工艺控制参数:

靶电流
射频电压在衬底表面出现。 • 靶材可以是绝缘体、金属、半导体等。
2,适用范围:沉积金属材料和非金属材料
溅射沉积法
三、磁控溅射装置及特性
1直流电源 2出水口 3进水口 4进气口5 靶材 6真空泵 7 基片架 8基片偏压
溅射沉积法
三、磁控溅射装置及特性
1、出发点:解决溅射两大问题 慢: 二次电子利用率不高 离化率 不高 沉积速率低; ❖ 热: 不能避免二次电子轰击基片 (阳 极)。
➢ 基本过程:
a, 自由电子被电场加速飞向阳极,与路遇的放电气体 (通常是惰性气 体Ar气) 碰撞,使之失去外层电子而电离,并释放出Ar+和自由电子
b,Ar+受到电场加速飞向置于阴极的靶材,撞击出靶材原子,以及 二次电子,使自由电子数 ;
c,电子在飞行过程中,还可能与Ar+相撞,使之恢复中性状态,但 此过程中电子由激发态回到基态,需要放出能量,这部分能量 以发射光子形式释放。因有大量光子释出,放电形成的等离子 体出现了发光现象,这就是所谓的“辉光”放电
➢ 缺点: 电子束的绝大部分能量会被坩锅的水冷系统带走,热效
率较低; 过高的加热功率会对薄膜沉积系统造成强烈的热辐射; 电子枪系统复杂,设备昂贵。
真空蒸发沉积
三、电弧放电加热蒸发:
1.原理: 将欲蒸发的材料制成放电电
极,在薄膜沉积时,依靠调 节真空室内电极间距的方法 来点燃电弧,而瞬间的高温 电弧将使电极端部产生蒸发 从而实现薄膜的沉积。 2.方法:
直流加热法 ❖ 交流加热法
电弧加热蒸发装置示意图
真空蒸发沉积
三、电弧放电加热蒸发:
3、主要优点: 与电子束蒸发类似,可避免加热体/坩锅材料蒸发污染薄膜; ❖加热温度高,可沉积难熔金属和石墨 (蒸发源即电极,须导 电); 设备远比电子束蒸发简单,成本较低。
4、主要缺点: 电弧放电会产生 m大小的颗粒飞溅,影响薄膜的均匀性和质 量。
薄膜制备物理方法总结

蒸发(Evaporatio n)
薄膜 沉积
物理气相沉积技术 (PVD)

Physical
Vapor
Deposition
溅射(Sputtering ) 离化PVD(离子镀、IBAD、IBD等)
的物 理方 法
外延技术 Epitaxy
分子束外延 (MBE,Molecular Beam Epitaxy 液相外延 (LPE,Liquid Phase Epitaxy ) 热壁外延 (HWE,Hot Wall Epitaxy )
Ei 适中 碰撞弹出(溅射出)靶材原子 很高 入射离子注入(离子注入改性、掺杂)
因此:气体放电/等离子体的产生是溅射的基础
溅射沉积法
➢ 放电条件:
真空环境: P = 10-1~102 Pa !
❖ 放电气体: 需要充入惰性气体 (一般为Ar气)!
外加电场: 在其作用下,放电气体被电离,形成阳离
真空蒸发沉积
四,脉冲激光沉积
2,装置示意图:
真空蒸发沉积
四,脉冲激光沉积
3,PLD的优点:
激光是清洁的,使来自热源的污染减少到最低; ❖ 激光光束只对待蒸镀材料的表面施加热量,可减少来自坩埚等支
撑物的污染; 蒸发速率高,蒸发过程容易控制,高熔点的材料也可以以较高的
沉积速率被蒸发; 聚焦可获得高功率,可沉积陶瓷等高熔点材料以及复杂成分材料
溅射沉积法
四、反应溅射 (reactive sputtering)
1. 反应溅射装置图
溅射沉积法
5、主要应用:沉积高熔点难熔金属及其化合物薄膜、碳材料薄膜.
真空蒸发沉积
四,脉冲激光沉积
PLD也被称为脉冲激光烧蚀:pulsed laser ablation,PLA.
1,原理: 将脉冲激光器产生的高功率脉冲激光聚焦于靶表面,
使其表面产生高温及烧蚀,并进一步产生高温高压等离子 体,等离子体定向局域膨胀,在衬底上沉积成膜。真空 度~10-6 Pa,可实现multilayer的沉积
溅射沉积法
四、反应溅射 (reactive sputtering)
定义:在原子沉积的过程中,由溅射原子和活性气体
分子在衬底表面发生化学反应而形成化合物的溅射 技术称为反应溅射法。
解决将化合物直接作为靶材沉积得到的物质往往 与靶材的化学组成有很大的差别这一问题。 1、调 整溅射室内的气体组成和压力,限制化合物分解过 程的发生; 2、采用纯金属作为溅射靶材,但在工 作气体中混入适量的活性气体,使其在溅射沉积的 同时生成特定的化合物,从而一步完成从溅射、反 应到沉积多个步骤。
➢ 缺点: 支撑材料与蒸发物之间可能会发生反应,造成污染; 一般工作温度在1500~1900 ℃,所以可蒸发材料受到限制; 蒸发率低; 加热速度不高,蒸发时待蒸发材料如为合金或化合物,则有可能
分解或蒸发速率不同,造成薄膜成分偏离蒸发物材料成分。
真空蒸发沉积
二、电子束蒸发:
发射电子束
加速(数千伏)
偏转(横向磁场)
溅射沉积法
➢离子轰击固体表面的各种物理过程:
1)入射离子弹出;
2)入射离子注入; 3)二次电子、溅射原子/
分子/离子、光子从固体表面释出; 4)轰击 固体表面刻蚀、温升、结构损伤;
5)表面吸附气体分解、逸出;
离子轰击固体表面的各种物理现象
6)部分溅射原子可能返回。
轰击后的物理现象主要取决于入射离子的能量 (Ei): 较低 入射离子沉积为主(离子束沉积)
膜容易受污染。 改进思路:三极或四极溅射装置.增加额外电子源 (辅助灯丝) 放电区电子密度 低压下就可以维持放电,并获得高离化率 沉积速率、
杂质气体对镀膜的污染 薄膜质量、沉积效率
溅射沉积法
一、直流溅射:
3,多极、二极优缺点比较: 多极直流溅射装置的优、缺点: 真空度较高,工作电压显著降低; 减少了镀膜污染; 沉积速率有一定提高; 大面积的均匀等离子体仍较难获得; 薄膜沉积速率仍然有限 (慢)。
)
蒸发、溅射、离子镀 三类基本PVD方法!
真空蒸发沉积
两个关键: 1,真空度:P ≤ 10-3 Pa (保证粒子具分子流特征,以直线运动)
真空室压力过高,会出现以下情况。a)粒子频繁碰撞,难以匀的薄 膜; b)污染薄膜(轰击基片并吸附); c)蒸发形成均源被氧化。
2,基片距离 (相对于蒸发源):10~50 cm 能使用情况:蒸发时不发生化学变化。 沉积物中杂质的含量与残余气体的压强成正比,与 沉积的速度成反比。
子 (Ar+) 和自由电子 (e),并分别在电场作用下被 加速,进而飞向阴极(靶材)和阳极。
溅射沉积法
➢ 与蒸发法相比:溅射法易于保证所制备薄膜的化学成分 与靶材基本一致。
(1)与不同元素溅射产额间的差别相比,元素之间在平衡蒸气压 方面的差别太大,但是溅射产额方面差别小。
(2)溅射过程中靶物质的扩散能力较弱。由于溅射产额差别造成 的靶材表面成分的偏离很快就会使靶材表面成分趋于某一平 衡成分,从而在随后的溅射过程中实现一种成分的自动补偿 效应[即:溅射产物高的物质已经贫化,溅射速率下降;而溅 射产额低的元素得到了富集,溅射产额会上升],结果是,尽 管靶材表面的化学成分已经改变,但溅射出来的物质成分却与 靶材的原始成分相同。
电源功率参数靶电压

靶功率
离化气体和反应气体参数分 流压 量
真空系统参数:主要是真空度

温度
基片相关参数转速

ห้องสมุดไป่ตู้压
溅射沉积法
一、直流溅射:
二次电子
气体离子 靶材离子
直流溅射又叫阴极溅射或 者二极溅射。 典型的溅射 条件为: 工作气压: 10Pa 溅射电压: 3000V 靶电流密度: 0.5mA/cm2 薄膜沉积速率:< 0.1um/min
■ 二极溅射系统:真空度不能太高,否则不能维持放电; ■ 三极/四极系统:有辅助电子枪提供更多高能电子 离
化率 可低气压 (高真空) 自持放电 污染 效率
溅射沉积法
二、射频溅射装置及特性:
溅射沉积法
二、射频溅射装置及特性:
1. 特性: • 射频电源的频率13.56MHz • 射频溅射电压1-2KV • 在射频溅射系统中,衬底接地,以避免不希望的
溅射沉积法
三、磁控溅射装置及特性
4、磁控溅射的优势分析: 磁约束 电子运动路径 其与气体分子的碰撞
几率 绝大部分二次电子的高动能被用于气体的电离
气体离化率 正离子产率 溅射速率几 个数量级!
!注意:这就是磁控溅射可在低压下获得极高的离 化率、很高的离子电流密度和沉积速率的原因。
2、实现方法:在靶材 (阴极)表 面附近布置磁体或线圈,使靶面 附近出现强磁场,其方向与靶面 基本平行,而与电场方向正交!
磁约束模型
溅射沉积法
三、磁控溅射装置及特性
3、原理: 与电场方向正交的磁场可有效束
缚电子的运动,形成“磁笼”效应, 从而显著延长电子运动路径,提高电 子与离化气体的碰撞几率,进而提高 气体离化率,并有效放置高能电子对 基片的轰击。电子被束缚在靶面附近 区域内,实现长程振荡运动!
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