Micrometer Calibration Working Instruction 将千分尺先归零，第一个受检点是5.12mm,公差是±0.02
Rainbird Irrigation Equipment (Shanghai)Co.,ltd 雨鸟灌溉设备（上海）有限公司
文件标号(Document No.): SHCH1105 文件版本(Document Rev): 00 日期(Date): Aug-12- 2011
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Micrometer Calibration Working Instruction 第五个受检点是25.00mm,公差是±0.02
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Micrometer Calibration Working Instruction 测量面的表面粗糙度，要求Ra<0.05u，与0.05的粗糙度样块进行比较
Micrometer Calibration Working Instruction 第四个受检点是21.50mm,公差是±0.02
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测量面的平行度： •平晶是利用光波干涉现象测量平面度误差 的，故其测量方法称为平晶干涉法,也称技 术光波干涉法。测量时,把平晶放在被测表 面上,且与被测表面形成一个很小的楔角 θ ，以单色光源照射时会产生干涉条纹。干 涉条纹的位置与光线的入射角有关。如入 射光线垂直于被测表面，且平晶与被测表 面间的间隙很小,则由平晶测量面P反射的 光线与被测表面反射的光线在测量面 P发 生干涉而出现明或暗的干涉条纹。若在白 光下，则出现彩色干涉条纹。如干涉条纹 平直，相互平行,且分布均匀,则表示被测表 面的平面度很好；如干涉条纹弯曲，则表 示平面度不好。 • λ为光波波长，白光的平均波长为 0.58µm,ν为干涉带弯曲量，ω为干涉带间 距。 • 用4块规格分别是15.87、15.75、15.62 、15.50的平行平晶一次进行比较。
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WIT
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Micrometer Calibration Working Instruction
测量面的平面度： 测量时﹐把平晶放在被测表面 上﹐且与被测表面形成一个很 小的楔角 ﹐以单色光源照射时 会产生干涉条纹。干涉条纹的 位置与光线的入射角有关。如 入射光线垂直于被测表面﹐且 平晶与被测表面间的间隙很小 ﹐则由平晶测量面P 反射的光线 与被测表面反射的光线在测量 面 P 发生干涉而出现明或暗的 干涉条纹。若在白光下﹐则出 现彩色干涉条纹。如干涉条纹 平直﹐相互平行﹐且分布均匀 ﹐则表示被测表面的平面度很 好﹔如干涉条纹弯曲﹐则表示 平面度不好。其误差值为 ﹐式 中 为两干涉条纹间距离﹐ 为干 涉条纹的弯曲值﹐ 为光波波长 ﹐白光波长一般以0.6微米计算 。
Micrometer Calibration Working Instruction 第二个受检点是10.24mm,公差是±0.02
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Micrometer Calibration Working Instruction 第三个受检点是15.36mm,公差是±0.02
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