光学镀膜材料的理论与实践
料具有熔点高、比重大、高折射率和高机械强度。它们的折射率一般在 1.46~2.7 之 间。它们也被称作硬介质光学材料。 (2) 而氟化物中除含有离子键外,大多含有一定的结合力相对弱的分子键,而且氟离子 的单电荷性都决定了氟化物膜料具有低熔点、小比重、低折射率和较差的机械强度 (膜层较软)。它们的折射率一般在 1.35~1.47 之间,它们也被称为软介质光学薄膜 材料。 (3) 金属或合金含有大量的自由电子,当光射到金属或合金表面时,光子同电子云的表 面层相互作用,使得金属中的电子得到能量而本征激发,显示金属特有的光泽。一 般金属具有较强的反光性和吸光性,因此金属(或合金)材料一般作为反光薄膜材 料或光调节材料。人们可以通过合金化改变电子浓度而改变金属的光性能。纯铜能 吸收较大范围的可见光,而反射 0.57~0.75u 的橙红光,当给铜中加入 5~10%Wt.的 Al 后,形成的金属具有吸收 0.35~0.55u 的可见光,而只反 0.55~0.75u 的金黄色可见光, 这就是典型的一种仿金材料。 (三)光学镀膜材料的表观颜色 光学镀膜材料的本征颜色,是其对自然光谱的作用效果。 1、 一般化合物(氧化物和氟化物)是粉末或团聚态(见图 9,a、b),由于内部组织中 没有多余的价电子,并且其结构是多孔、粗糙的,造成了对光谱的散射和表面均匀 反射。因此多数情况下观察到的化合物是白色的。 2、 晶体化合物材料具有均匀、无气孔、光滑等良好的内部结构(见图 9,c、d),在无 吸收的情况下,光谱中多色光会均匀透过,因此,单晶体化合物一般是无色透明的; 而多晶体内部由于有晶界和晶体缺陷的存在,往往是半透明的。 3、 金属中自由电子的存在,使得照射光子发生能量改变,因此这种作用造成了金属或 合金材料具有较强的反光性、不透明性和银灰色外观。 4、 低价氧化物(如 TiO、ZrO、AlO 等),由于失氧作用,其内部不同程度地存在着没 有配对的自由电子或是不对称离子结构,它们的结构介于氧化物和金属之间,因此, 它们往往出现一定的导电性和金属化颜色。低价氧化物往往呈现灰色、黑色和其它 颜色。如 Ti3O5 呈紫黑色,TiO 为金黄色。其他化合物,如氟化物、某些硫化物也有 类似现象。
三、 镀膜材料制备方法简介 镀膜材料制备的主要方法可概括为:
1、 湿法(水法)制备工艺: 酸(碱)溶法、 液相萃取法、分馏法、结晶法。
2、 火法高温制备工艺: 热还原法、 物理汽相沉积(PVD)法、化学汽相沉积(CVD)法、 液相外延生长法(LEC)、热等静压成型法、高温烧结法(或熔炼法)。
一般材料的制备都是采用特定的湿法工艺和火法工艺相结合的方法,而且不同材料的 制备工艺也有所不同。为了说明材料的制备工艺,图 1 给出了两种工艺制备二氧化钛(TiO2) 的简易流程(见图 1)。
从化学结构上看,固体材料(薄膜)中存在着以下键力: 1. 离子键:离子晶体中,每个离子被一定数量的异号离子所包围,离子晶体中作用力
较大,所以离子键很牢固,这就决定了离子晶体具有熔点高、沸点高和硬度大、强 度高的特点; 2. 共价键:主要通过同质原子贡献电子构成的极性或非极性双原子偶化学键。共价键 在气体分子结构中较为普遍,如 H2,Cl2,CCl4 等。金属键中也常出现不同程度的共 价键力; 3. 原子键:(或金属键):原子键也十分牢固,这类键组成的化合物(Si,SiC 及氮化物) 也具有硬度高、强度大和熔点高的特点; 4. 分子键(或范德华键):把原子联结成分子的力相当大,而分子之间的键又十分弱 (MgCl2等),因此,这类键组成的化合物具有熔点低,强度低的特点。
目前,光学镀膜材料常用品种已达 60 余种,而且其品种、应用功能还在不断被开发。 如在光学装置中一种非常重要的透明导电薄膜,除化合物膜料品种(SnO2或SnO2+In2O3混 合薄膜)外,近年已发展到了金属膜系,当金、银、铜和铝的厚度为 7~20um时,其对可见 光的透射率为 50%,而对红外光透射率小于 10%,这种薄膜已成功地应用于阿波罗宇宙飞 船的面板,用于透过部分可见光,而反射几乎全部的红外光以进行热控制。
四、 典型镀膜材料介绍
(一) 二氧化锆(ZrO2) (1) ZrO2是普遍采用的一种膜料,它具有较高的折射率、膜层吸收小以及膜层牢固、抗
腐蚀等许多优良特性,但它镀膜时的钻坑现象和工艺、材料的不稳定性导致了8 年光学薄膜培训班培训资料
真空高温加热相熔,形成组份恒定的混合膜料。 2、 混合膜料(含 C1 膜料)的特点
在真空高温状态下,几乎所有化合物都有不同程度地分解,特别是一些常态下十分稳 定的氧化物,如SiO2、TiO2、ZrO2、Al2O3等,它们都会发生分解或歧化反应(如Al2O3高温真 空→AlO+ AlO2+ O2↑)这种分解作用会使镀膜过程中的膜层形成复杂的成份,对折射率或 光吸收会产生不良影响。
一、前言 能源、信息和生物技术被称为现代社会的三大支柱,而材料科学又是能源、信息和生
物技术的基础。自上世纪 30 年代氟化镁(MgF2)增透膜层被发明以来,特别是近 20 年来, 由于材料科学与薄膜技术的结合,薄膜技术对材料新功能的不断需求,使光学薄膜材料的 品种、应用范围以及使用数量以惊人的速度增加。因此,镀膜技术的发展,时刻伴随并强 有力地推动着镀膜材料的发展和完善,薄膜材料与薄膜技术形成了密不可分的相辅相成关 系。
TiO2 (高温真空)→TiO+ Ti2O3+ Ti3O5+…… ○1
这一现象在TiO2 镀膜锅底剩料中不难发现,其中各组份重新氧化成TiO2的条件是完全 不一样的。它们氧化程度的不同,决定了成膜后TiO2膜对光吸收的大小。因此,直接用TiO2 蒸发镀膜,工艺条件和膜层性能的重现性也是比较难以控制的。近年来,根据TO2分解或歧 化机理制成了TiO、Ti2O3、Ti3O5镀膜材料,可有效地替代TiO2 镀膜。根据国内外目前对材 料的镀膜结果测试,Ti3O5性能最为稳定,使用效果最佳。
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光学镀膜材料的理论与实践
王武育* 北京有色金属研究总院
一、 前言 二、 光学镀膜材料的分类及特点 三、 镀膜材料制备方法简介 四、 典型镀膜材料介绍 五、 不同工艺制备的氟化镁材料对真空镀膜的影响 六、 钨钼热蒸发源材料的高温蠕变和高温再结晶行为 七、 常用光学系列镀膜材料 八、 结束语
根据罗氏定理,
其中:n——组合膜料的折射率; Ci——第 i 种单元化合物的重量浓度; nI ——第i种单元化合物的折射率; pi——第i种单元化合物的密度。
将可相熔四组份化合物(A、B、C、D)进行化学共沉淀,形成单相体混合料,将混合物在
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*王武育,北京有色金属研究总院矿冶研究所 教授级高级工程师,主要从事金属及化合物 镀膜材料的真空高温制备(PVD、CVD、LEC 法) 电话:82241319 ,13691123683 电子邮件:Wuyu89@
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从用途和用量看,近年来,由于人们生活质量的提高,使加膜眼镜片、冷光镜和日用 色彩装饰业的工业化进程加快,最常见的三种化合物膜料MgF2、ZnS和SiO的用量达到了出 人预料的程度。就目前掌握的情况看,2005 年国内MgF2消耗量达 14.5t,SiO达 8 t,而且有 供不应求的态势。可以预计,大批量、低成本的镀膜材料制备工艺将会有力地促进光学薄 膜材料的品种、用途及生产规模的飞跃。
五氧化三钛(Ti3O5),熔点 1750℃,密度 4.57g/cm3,充氧蒸发,透光波段 0.36~9u, 折射率 2.2,紫黑色粉末、片或晶体颗粒,适合于热蒸发(W、Mo、Ta)或电子枪蒸发。 (三) 中折射混合膜料(C1 膜料)
在镀膜实践中,现成材料的折射率很难满足膜系设计的要求,这就需要对材料进行有 效地组合。目前单元材料中,低价折射率(n<1.60)和高折射率(n>1.80)的材料较多, 而折射率在 1.60~1.80 之间的高质量材料比较难找。我们根据罗伦茨—罗伦兹色散理论, 对单元化合物材料进行了化学当量相熔,组成了多组份的中折射膜料(C1 膜料)。 1、C1 膜料的制备
中,这样造成只有光斑扫描处的料面熔化蒸发,形成材料局部坑洞。钻坑效应对薄 膜的直接影响是:由于坑洞的遮掩引起了蒸发速度的变化,进而造成了膜层形成的 不均匀;坑洞形成影响了光斑对料面的扫描,最终影响了膜层性能的重现性。 2、 ZrO2的稳定化 针对ZrO2成膜中存在的问题,对ZrO2初始原料进行了一些改进。 (1) 混料配比法:向ZrO2中添加一定量的添加剂(如TiO2、MgO、Y2O3等),这些氧化物 的阳离子半径和Zr4+相近,在ZrO2中溶解度很大,易和ZrO2形成稳定的固溶体,能有 效地防止或减弱温度变化→体积变化→折射率变化过程的发生。 (2) 镀膜工艺的实践表明,ZrO2成膜机理为: ZrO2(原料)熔融蒸发 →ZrO(气体)充氧沉积 →ZrO2(薄膜) 也就是说,在短时间的非平衡物理化学变化过程中,ZrO起着主要的作用。ZrO熔点 1900 ℃,导热性能好,易蒸发且电子枪扫描不易钻坑,这些特点为ZrO代替ZrO2镀膜提供了研究 基础。目前,ZrO的研制和镀膜试验已取得了一定进展。 (二) 钛氧化物系列(TiO2、Ti3O5、Ti2O3、TiO) 二氧化钛(TiO2)理论研究和镀膜实践均已证实,TiO2在高温,真空状态下容易发生分 解失氧或歧化反应:
如TiO2和ZrO2在真空 900℃时有释氧现象,而在 1500~1700℃真空下会强烈吸氧,而此 时Al2O3和SiO2正开始释氧,所以此时存在材料氧平衡关系:
折射率的不稳定,从而限制了它的广泛应用。
1、 导致折射率不稳定的成因 从材料研究角度看,造成ZrO2膜层折射率不稳定的因素主要有两方面:一是ZrO2温变
引发的同素异晶相变;二是ZrO2熔点高、导热差引起的钻坑现象。
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