信号完整性测试指导书——Ver 2.0编写：黄如俭（sam Huang）钱媛（Tracy Qian）宋明全（Ivan Song）康钦山（Scott Kang）目录1. CLK Test (3)1.1 Differential Signal Test (3)1.2 Single Signal Test (5)2. LPC Test (7)2.1 EC Side Test (7)2.2 Control Sidse Test (8)3. USB Test (11)3.1 High Speed Test (11)3.2 Low Speed Test (12)3.3 Full Speed Test (12)3.4 Drop/Droop Test (12)4. VGA Test (14)4.1 R、G、B Signal Test (14)4.2 RGB Channel to Channel Skew Test (14)4.3 VSYNC and HSYNC Test (15)4.4 DDC_DATA and DDC_CKL Test (15)5. LVDS Test (17)5.1 Differential data signals swing Test (17)5.2 Checking Skew at receiver Test (18)5.3 Checking the offset voltage Test (19)5.4 Differential Input Voltage Test (20)5.5 Common Mode Voltage Test (20)5.6 Slew Rate Test (21)5.7 Data to Clock Timing Test (23)6. FSB Test (26)7. Serial Data（SATA/ESATA, PCIE, DMI,FDI）Test (29)8. HD Audio Test (30)8.1 Measurement at The Controller (30)8.2Measurement at The Codec (31)9. DDR2 Test (34)9.1 Clock (34)9.2 Write (35)9.3 Read (37)10.Ethernet Test (39)11.SMbus Signal Test (40)12. HDMI Test (42)13. DisplayPort Test (43)1. CLK Test1.1 Differential Signal Test测试设备：示波器，两个差分探头，鼠标，键盘测试软件：3D MARK，负载测试步骤：（1）开启示波器预热30分钟，运行测试软件。
连接差分探头，鼠标，和键盘。
对示波器的probes和channals进行calibration和deskew。
（2）参照测试平台的芯片datasheet,使用Allegro SPB软件，在电路板上找出被测信号测试点,记录下过孔或芯片管脚的位置。
找出待测信号接收端的参数标准。
如图1.1图1.1（3）连接电路板的附属小板，显示屏，电源，将示波器和电路板共地。
开启电路板，正常进入系统，运行3D Mark。
（4）参照被测信号测试标准，在示波器（Agilent ）的菜单选项中选择对应的测试项Frequency/Period/ Duty Cycle/High Time/ Low Time/cyc-cyc-jitter .Spec中有约束条件的要进行条件设置。
如图1.2图1.2（5）用一个差分探头连接差分信号测试点，调节示波器，抓取所需要的波形，并保存。
（6）清除之前的测试选项和波形。
再次从菜单选项中选择测试项。
Rise time/Fall time/Overshoot/Undershoot/High level/Low level（7）根据测试标准的要求，选择相应的探头。
如果要求使用单端探头，将探头的“+”端接信号测试点，“-”端接地；如果要求使用差分探头，将探头连接差分信号的两个测试点，调节示波器，抓取所需要的波形，并保存。
（8）Vcross的测试：a.用两个单端探头的“+”极分别连接clk信号的P/N极，“—”极连接差分信号测试点最近的地。
在同一屏幕上显示两个通道的波形，调整参数使两个通道的OFFSET，单位幅值相同，抓取密集波形。
调出marker,用两条横向的坐标分别卡出两条信号线交点（同一信号相同的边沿）的最大值和最小值。
如图1.3图1.3b.使用无限累积功能，抓取一个交点的累积波形。
调出Marker,用两条横向坐标轴分别卡出交点的最大值和最小值。
两条横项坐标轴的值就是V_cross的值。
如图1.4图1.4（9）Vcross detal的测试：依照Vcross的测试方法，测出Vcross的最大值和最小值，两值的差（即两条Marker值差的绝对值）就是Vcross detal.测试标准：将测得的数据与测试标准对照，判断测试结果是否在标准之内。
若在，则测试结果合格，定为PASS。
若不在标准之内，则测试结果不合格，定为FAIL。
注意事项：(1)测试时，要将示波器与电路板共地。
(2)测试Rise time/Fall time/Overshoot/Undershoot/ High level/Low level时，依据给定的标准选择使用差分探头或时单端探头。
(3)对于测试标准中有约束条件的测试项，要按照标准更改示波器的条件设置，测得的数据才可与标准值比对。
比如，对高电平和低电平范围的规定。
(4)信号的测试标准参考接收芯片端 datasheet 的数据。
1.2 Single Signal Test测试设备：示波器，两个单端探头，鼠标，键盘测试软件：3D MARK，负载测试步骤：(1)-(3)同差分信号测试。
（4）参照信号在接收芯片端的测试标准，从示波器测试软件的菜单选项中选择测试项。
Spec中有约束条件的要进行条件设置。
Frequency/Period/High Time/Low Time/Rise time/Fall time/Overshoot/Undershoot/ Duty Cycle/ Cycle to cycle Jitter/High level/Low level（5）用单端探头探接测试点，调节示波器旋钮，抓取所需要的波形，并保存。
测试标准：将测得的数据与测试标准对照，判断测试结果是否在标准之内。
若在，则测试结果合格，定为PASS。
若不在标准之内，则测试结果不合格，定为FAIL。
注意事项：(1)对于测试标准中有约束条件的测试项，要按照标准更改示波器的条件设置，测得的数据才可与标准值比对。
比如，对高电平和低电平范围的规定。
(2)信号的测试标准参考接收芯片端 datasheet 的数据。
2. LPC Test2.1 EC Side Test测试设备：示波器，两个单端探头，鼠标，键盘测试步骤：（1）开启示波器预热30分钟，运行测试软件。
连接单端探头，鼠标，和键盘。
对示波器的probes和channals进行calibration和deskew。
（2）参照电路图,使用Allegro SPB软件，找出线路最长和最短的LPC数据信号LPC_AD,记录下待测信号的位置。
找出待测信号在EC芯片端的参数标准。
如图2.1。
图2.1 at receiver of EC（3）连接电路板的LCD和电源，将示波器和电路板共地。
开启电路板，正常进入系统.（4）用两个单端探头分别连接LPC_CLK信号和LPC_AD信号在EC芯片端的测试点，调节示波器旋钮，待设置完成后，重新启动计算机以抓取波形。
（5）调出Marker其mark point按照SPEC来定义，测出所需参数值。
如图2.2图2.2 at receiver of EC2.2 Control Sidse Test测试设备：示波器，两个单端探头，鼠标，键盘测试步骤：（1）开启示波器预热30分钟，运行测试软件。
连接单端探头，鼠标，和键盘。
对示波器的probes和channals进行calibration和deskew。
（2）参照芯片的datasheet,使用Allegro SPB软件，找出线路最长和最短的LPC数据信号LPC_AD,记录下待测信号的位置。
找出待测信号在Control端的参数标准。
如图2.3。
图2.3 at receiver of ISCH（3）连接电路的LCD和电源，将示波器和电路板共地。
开启电路板，正常进入系统.（4）用两个单端探头分别连接LPC_CLOUT信号测试点和LPC_AD信号测试点，调节示波器旋钮，待设置完成后，重新启动计算机以抓取波形。
（5）调出Marker其mark point按照SPEC来定义，测出所需参数值.如图2.4图2.4 at receiver of ISCH测试标准：将测得的数据与测试标准对照，判断测试结果是否在标准之内。
若在，则测试结果合格，定为PASS。
若不在标准之内，则测试结果不合格，定为FAIL。
注意事项：（1）对于测试标准中有约束条件的测试项，要按照标准更改示波器的条件设置，测得的数据才可与标准值比对。
比如测量波形的数据时，Test point 要根据datasheet设定。
（2）信号的测试标准参考接收芯片端芯片 datasheet 的数据。
3. USB Test3.1 High Speed Test测试设备：示波器（MSO90404A），1168A，E2678A，E2649（USB测试夹具），USB Cable（若干）。
测试软件：USB一致性测试软件，USBHSET software。
测试步骤：（1）打开示波器，预热30分钟左右。
（2）运行一致性测试软件，进入软件Set Up设置页面，将Device Test Point设置为Host，Test Method设置为Matlab。
图3.1（3）Select Tests设置，选择High Speed Test。
（4）Configure设置，选择测试通道，特征参数为High Speed Near End。
（5）按照Connect测试界面提示的连接方法，选择相应的测试夹具，进行连接。
（6）确认连接无误后，运行测试。
（7）查看测试报告，保存测试报告。
3.2 Low Speed Test测试设备：示波器（MSO90404A），2*N2873A，E2649（USB测试夹具），Low Speed Device，USB Cable（若干）。
测试软件：USB一致性测试软件测试步骤：（1）运行一致性测试软件，进入软件Set Up设置页面，将Device Test Point设置为Host，Test Method设置为Matlab。