姓名：职位：日期：得分：
一、填空题（每空3分，共计24分）
1.判定测量系统在主要焦点是：。

2.测量系统是指：用来对被测特性赋值的用来获得测量结果的整个过程。

3.重复性，再现性的接受准则：测量系统能接受标准；测量系统有条件接受标准；测量系统不能接受标准。

4.过程能力指数有：。

5.测量系统的五性分析是指：。

6.统计过程控制（SPC）是一类系统。

二、判断题（每空2分，共计20分）
1.所有的特殊性均应使用统计过程控制。

（）
2．计数型量具是将各个零件与某些指定限值相比较，如果满足限值则接受零件，否则拒收。

（）
3.样品必须从过程中选取并代表其整个工作范围。

若每天取一个样本，持续若干天。

（）
4.机器能力指数是通过很长一段时间内进行的测量，应在足够长的时间内收据数据，将数据画在控制图上，如未发现变差的特殊原因，变可计算长期的能力指数。

（）
5.在绘制控制图时，不管采取何种方法，均应注意控制图应能显示过程受控，否则不能计算过程能力。

( )
6.特殊原因都是恶性的，都应该进行消除。

（）
7.当过程能力较高时，为降低成本，采取方法使之降低，这与持续改进项矛盾，不可取。

( )
8.当过程能力不足时，为提高过程能力，应进一步减小普通原因和特殊原因造成的变差。

（）
9.PpK用于批量生产时对过程能力分析，CpK用于批量前对过程能力的分析。

（）
10.P图控制法适用于对所有的计数型数据统计过程的控制。

（）
三、名词解释（每空5分，共计25分）
1.控制图：
2.测量系统：
3.变差：
4.标准差：
5.CpK、PpK、PPM
四、简答题（1、2题各10分，3题11分，共计31分）
1.什么是偏倚？什么是线性？什么是稳定性？
2.什么是过程？对过程采取措施应包括哪几个方面？
3.请写出控制图中常见的八种过程不受控的表现情况？
考试题答案：
一、填空题：
1、该系统有关测量变差和类型的
2、操作、程序、量具、设备、软件以及操作人员的集合
3、小于10% 10%——30% 大于30%
4、Cp、CpK、Pp、PpK、Cm、CmK
5、重复性、再现性、稳定性、偏倚、线性
6、反馈
二、判断题：
1、×
2、×
3、√
4、×
5、×
6、√
7、×
8、√
9、×10、×
三、名词解释：
1、表现一个过程的某个特性的图形表示法，图上画出了从该特性所收集到的一些统计量的数值，如一条中心线，一条或两条的控制限（描述过程性值变化趋势的图形）。

2、对测量单元进行量化或对被测的特性进行评估，其所使用的仪器或量具、标准、操作、方法、夹具、软件、人员、环境及假设的集合。

即用来获得测量的整个过程。

3、过程的单个输出之间不可避免的差别：变差的原因可分为两类：普通原因和特殊原因.
4、过程输出的分布宽度或从过程中统计抽样值（例如：子组均值）的分布宽度的量度，用希腊字母或字母δ（用于样本标准差）表示。

5、CpK：（稳定过程能力的指数）指一稳定过程下的“能力指数”。

PPK：（性能指数，即初期过程的性能指数）是以新产品的初期过程性能研究所得是数据为基础。

PPM：（质量水准，即每每百万零件不合格数）指一种根据实际的由缺陷材料来反映过程能力的一种方法。

PPM数据常用来优先制定纠正措施。

三、简答题;
1、偏倚：测量系统的观测平均值与基准值的差值。

线性：量具在正常工作量程内的偏倚变化量。

稳定性：测量系统在某一时间内测量桶一基准或零件的单已特性时获得的测量值的总变差。

2、过程：共同作用，以产生输出的供应商、生产者、人、设备、输入材料、方法和环境以及使用输出的
顾客集合。

对过程采取的措施包括：
1）改变操作：例如培训操作人员，变换输入材料。

2）改变过程本身的基本要素：例如改变设备，人员的沟通方式和相互关系。

3）改变过程设计：例如改变工艺流程，产品工艺设计，环境等。

3、控制图中常见的八种过程不受控的表现情况为：
1）不能有点超出上、下控制线（判定准则：1:1界外→有1点在A区以外）
2）连续3点中不能有2点落在A区或A区以外之区域（判定准则：2:2/3A→连续3点中有2点在A 区或A区以外）
3）连续5点中不能有4点落在B区或B区之区域（判定准则：3:4/5B→连续5点中有4点在B区或B区以外）
4）不能有连续9点或更多点落在控制中心线的同一侧（判定准则：4:9单则→连续9点在控制中心的同一侧）
5）不能有连续7点或更多点持续上升或下降（判定准则：5:7连串→连休7点或更多点持续上升或下降）
6）不能有连续14点交互着一升一降（判定准则：6:14升降→连续14点交互着一升一降）
7）不能有连续8点在中心线的两侧，但C区并无点子（判定准则：7:8缺C→连续8点在中心线的两侧，但C区并无点子）。