玻璃丝包薄膜粉云母带绕包扁铜线时间:2010-01-27 11:26来源:unknown 作者:2 点击:32次1、适用范围本标准适用于10KV级交流电机定子绕组用的具有自粘特性的玻璃丝包薄膜粉云母带绕包扁铜线。

以下简称薄膜粉云母带扁铜线。

2、1、适用范围本标准适用于10KV级交流电机定子绕组用的具有自粘特性的玻璃丝包薄膜粉云母带绕包扁铜线。

以下简称薄膜粉云母带扁铜线。

2、引用标准GB6108.3□绕组线导体第3部分，扁铜线的尺寸。

GB/T4074.2□绕组线试验方法、第2部分、尺寸测量GB7672.1□玻璃丝包绕组线，第一部分一般规定。

GB5584.2□电工用铜、铝及其合金扁线，第2部分铜扁线。

JC169无碱玻璃纤维纱。

沪Q/HG13-358□聚酰亚按薄膜线及其复合薄膜。

Q/XT241 X5540-1桐马环氧粉云母带 JB1256 6020 聚脂薄膜。

JB1259 5438-1环氧粉云母带GB3048.2□电线电缆，金属导体材料电阻率实验方法。

GB/T4047.3绕组线试验方法，第3部分，机械性能GB/T4047.5绕组线试验方法，第5部分由性能（击穿电压）3、定义3.1绝缘厚度薄膜粉云母带扁铜线的绝缘厚度包括玻璃丝包外层、薄膜绕包层和粉云母带包层的厚度。

按GB/T4047.2规定的方法，在薄膜粉云母带扁铜线上测得的外形尺寸与相应导体尺寸之差。

3.2温度指数薄膜粉云母带绕包扁铜线的温度指数，根据底层薄膜粉云母带和粘结漆的温度指数来决定，取其中最低的温度指数。

4、产品代号和表示方法4.1绝缘方式和表示方法单玻璃丝包薄膜粉云母带绕包扁铜线SBMFB 双玻璃丝包薄膜粉云母带绕包扁铜线SBEMFB4.2型号及规格4.2.1型号玻璃丝包薄膜粉云母带绕包扁铜线型号如表Ⅰ序号型号名称1SBMFB/130温度指数为130的单玻璃丝包薄膜粉云母带绕包扁铜线。

2SBEMFB/130温度指数为130的双玻璃丝包薄膜粉云母带绕包扁铜线。

3SBMFB/155温度指数为155的单玻璃丝包薄膜粉云母带绕包扁铜线。

4SBEMFB/155温度指数为155的双玻璃丝包薄膜粉云母带绕包扁铜线。

5SBMFB/180温度指数为180的单玻璃丝包薄膜粉云母带绕包扁铜线。

6SBEMFB/180温度指数为180的双玻璃丝包薄膜粉云母带绕包扁铜线。

4.2.2规格、尺寸、范围a边 1.00-5.6mm b边2.00-13.5mm4.3产品表示方法4.3.1产品用型号、绝缘厚度、温度指数、规格及本标准、编号表示。

4.3.2绝缘厚度表方法如表2所示表2 绝缘厚度表示法表4.3.3温度指数用130、155、180代号表示4.3.4举例例1、温度指数为155双层玻璃丝包0.05mm厚度聚酰亚胺复合薄膜和0.14mm 厚粉云母带绕包扁铜线，绝缘厚度为1mm标称尺寸：a边2.0mm、b边5.0mm，表示为SBEMFB-100/155 2.0*5.0 QB/XC03-2003例2、温度指数为180双层玻璃丝包，双层0.05mm厚聚酰亚胺复合薄膜0.14mm 厚粉云母带绕包扁铜线，绝缘厚度1.2mm标称尺寸：a边2.5mm、b边6.0mm，表示为SBEMFB-120/180 2.5*6.0 QB/XC03-2003例3、温度指数为155单层玻璃丝包0.04mm厚聚酰亚胺复合薄膜0.14厚粉云母带绕包扁铜线，绝缘厚度为0.8mm标称尺寸：a边2.0mm、b边4.0mm，表示为SBMFB-80/155 2.0*4.0 QB/XC03-20035、符号本标准所用符号应符号GB7672. 1 第5章规定6、绝缘结构6.1 FH薄膜或6020聚酯薄膜叠包一次6.2 F级5440-1（或X570-1）桐马环氧粉云母带或B级5438-1环氧粉云氧带或H级二苯醚粉云母带叠包一次。

6.3 单层（或双层）玻璃丝绕、外涂自粘性绝缘漆。

7、绝缘材料7.1玻璃纤维纱薄膜粉云母包扁铜线用玻璃纤维纱应符合JC169的规定。

7.2薄膜聚酰亚胺-F46复合薄膜应符合沪Q/HG13-358的规定，6020聚酯薄膜应符合JB1259的规定。

7.3粉云母带X5440-1同马环氧云母带应符合Q/XT241规定5438-环氧粉云母带应符合JB1259的规定。

8、导体8.1薄膜粉云母绕包扁铜线用扁铜线应符合GB5584.2.TBR型的规定，扁铜线表面应光洁，不应有毛刺、擦伤、铜粉、氧化层及油污。

8.2导体的标称尺寸及标称截面积应符合GB6108.3的规定，如表3所示。

8.3导体的偏差范围，应符合GB6108.3的规定，如表4所示表4 导体偏差范围表8.4导体的圆角半径及偏差范围应符合GB6108.3的规定，如表5所示。

表5 mm注：当b大于4.75mm时，经双方协商。

（1）圆角半径可为1/2amm。

（2）圆角半径可为0.8amm。

8.6电阻导体在20℃时单位长度直流电阻R20不大于（1）式计算的值。

R20=ρ20/Smin (1)（1）式中（2）Smin-导体最小截面积，按a、b最小尺寸和R的最大值计算。

（3）Smin=amin×bmin-0.8584r2/m（20℃时导体电阻率）8.7伸长率导体的断裂伸长率应符合表6的规定表6 断裂伸长率9、绝缘厚度绝缘厚度应符合表7的规定，宽边上的绝缘厚度(B-b)不作考核。

表7 绝缘厚度表注：薄膜粉云母带绕包扁铜线的绝缘厚度可根据用户需要双方协商决定。

10、柔软性和附着性10.1弯曲10.1.1双玻璃丝包薄膜粉云母带绕包扁铜线按表8规定的圆棒进行宽边（b）和窄边（a）弯曲后，绝缘层应不开裂至露薄膜。

表8 弯曲直径 mm10.1.2单玻璃丝包薄膜粉云母带绕包扁线不作考核。

10.2附着性薄膜粉云母带绕包扁铜线的附着性是指扁铜线绕包FH薄膜后经高温烧结，薄膜与导体之间、薄膜与薄膜之间的粘结强度。

试样经拉伸10%之后，绕包层分距离不大于导体窄边（a）尺寸，非烧结薄膜附着性不作考核。

10.3烘压粘合性薄膜粉云母带绕包扁铜线烘压粘合性试验，取试样长约150mm，6-8根，平直试样整齐放在烘压模中压紧，放入180±3℃烘箱中烘焙10分钟，取出试样立即旋紧螺钉再次压紧，放入烘箱中烘焙8分钟后取出冷取至室温，将粘合成体的导体试样自1m高处自由落下，试样应不开裂。

11、击穿电压试样按表8规定的圆棒弯曲后，用钢珠法测量试样工频击穿电压，4个试样的击穿电压值应不低于表9的规定。

表9 击穿电压表12、因接丝、修补（包括薄膜、粉云母带接头）所造成的绝缘粗大部分最大厚度应不超过绝缘厚度规定值的50%，长度应不超过去时100mm，每盘线不得超过8处。

13、绕包13.1玻璃丝绕包玻璃丝应紧密、均匀在绕包在导体上，双玻璃丝包线的两层玻璃丝包方向应相反。

13.2薄膜绕包薄膜带采用重叠绕包，重叠宽度不少于带宽的45%，薄膜型号、厚度、绕包层数及其重叠宽度也可由供需双方协商决定。

13.3粉云母带绕包粉云母采用重迭绕包，重迭宽度少于带宽的45%。

粉云母带型号、绕包层数及其重叠宽度也可由供需双方协商决定。

14、最大外形尺寸薄膜粉云母带绕包扁铜线最大外形尺寸应不超过导体的最大尺寸（标称尺寸加正偏差）与规定的最大绝缘厚度之和。

若最大外形尺寸不超过本规定，则允许绝缘厚度超过相应的规定值。

15、外观浸渍漆涂层应均匀、色泽一致，表面不应有影响性能的缺陷。

16、试验方法外观用正常视力检查，其余试验方法按本标称表10进行。

17、验收规划17.1产品应由制造厂的技术检查部门检查合格后方可出厂，出厂的产品应附有产品质量检验合格证或认证标志。

17.2按GB/T4074.1规定的型式试验（T）、抽样试验（S）例行试验（R）等试验类型，根据本标准有关规定进行验收，检查项目及试验类型如表10所示。

表10 技术要求表序号项目名称技术要求试验类型试验方法1外观本标准第15条R正常视力检查2尺寸T.SGB/T4074.22.1导体尺寸及圆角半径测量本标准第8.2、8.3、8.4条2.2绝缘厚度测量本标准第9条2.3最大外形尺寸测量本标准第14条3直流电阻测量本标准第8.6条GB3048.24伸长率检测本标准第8.7条GB3048.35击穿电压测试本标准第11条GB/T4074.56弯曲试验本标准第10.1条GB/T4074.57粘合性试验本标准第10.3条QB/XC03-200317.3每批抽样数量为5%，但最少不得少于2盘，抽检项目的测试结果不合格时，应加倍取样，就不合格项目进行复试，仍不合格者，该批产品即为不合格产品。

18、包装18.1薄膜粉云母带绕包扁铜线应成盘交货，每盘排线应紧密均匀、整齐、并妥善包装。

18.2薄膜粉云母带绕包扁铜线不允许焊接。

18.3每盘段数不应超过3个，当每盘多于一个线段时，在标签上标明，并用明显标记标明另一个线段的始端，线段的最小重量和最大成盘重量应符合表11的规定。

表11 交货重量表注：每盘线最大成盘重量可根据供需方协商决定。

18.4每盘线的薄膜接头不超过4个，粉云母带接头不得超过4个，接头长度应不大于100mm。

18.5每盘线应附有标签、标明：a、制造厂名称及商标；b、产品型号及规格；（mm）c、线段数；d、毛重、净重、（Kg）e、制造日期：年月日f、检验员：________g、标准编号；QB/XC03-2003。