1.目的
测量手机各时钟信号是否符合设计规范，以确保手机各项性能稳定可靠。

2.适用范围
适用于新开发手机产品在试产阶段的评测。

3.测试准备和说明：
3.1程控电源、数字示波器、频率计、原理图及PCB丝印图、原配耳机、SIM卡、TF卡、
烙铁、细导线若干、蓝牙耳机；
3.2测试结果如有必要需附测试波形图。

4.测试过程：
4.1 实时钟32.768KHz时钟测试(测试用例编号:
5.
6.1)
4.1.1测试条件：
被测机开壳,装SIM卡、TF卡开机。

4.1.2 测试步骤：
1）从原理图上找到32.768KHz晶体位置，频率计探头负极接地，正极接晶体XOUT 端，频率计(10M档位)读数即为晶体频率；
2）示波器采集模式设为取样，余辉时间设置为5秒；
3）通道耦合选取直流模式，档位设定为100mV，时间标度设置为10.0us；
4）按测量键选取测量频率，上升时间，下降时间，峰值电压，占空比等；
5）按测试说明要求，在摄像状态选取一个半周期的完整波形，按运行/停止键抓取波形，测量读取数据并按Save键保存波形。

4.1.3 预期结果：
测试项目参考值
电压峰值690-750mV
毛刺0
频偏±20ppm
抖动幅度0
占空比50%
4.2 主时钟26MHz时钟测试(测试用例编号:
5.
6.2)
4.2.1测试条件：
被测机开壳，被测机开壳,装SIM卡、TF卡开机。

4.2.2 测试步骤：
1）从原理图上找到26M晶体位置，频率计探头负极接地，正极接晶体XOUT端，频
率计(120M档位)读数为即晶体频率；
2）示波器采集模式设为取样，余辉时间设置为5秒；
3）通道耦合选取直流模式，档位设定为500mV，时间标度设置为400ns；
4）按测量键选取测量频率，上升时间，下降时间，峰值电压，占空比等；
5）按测试说明要求，在通话状态选取一个半周期的完整波形，按运行/停止键，测量并读取数据，上升时间，下降时间，峰值电压，占空比等，按Save键保
存波形。

4.2.3 预期结果：
测试项目参考值
电压峰值≤600mv
毛刺≤160
频偏±20ppm
抖动幅度0
占空比50%
4.3 蓝牙32MHz时钟测试(测试用例编号:
5.
6.3)
4.3.1测试条件：
被测机开壳,装SIM卡、TF卡开机，蓝牙开启，接蓝牙耳机。

4.3.2 测试步骤：
1）从原理图上找到32M晶体位置，频率计探头负极接地，正极接晶体XOUT端，频
率计(120M档位)读数为即晶体频率；
2）示波器采集模式设为取样，余辉时间设置为5秒；
3）通道耦合选取直流模式，档位设定为200mV，标度设置为400ns；
4）按测量键选取测量频率，上升时间，下降时间，峰值电压，占空比等；
5）按测试说明要求,在蓝牙听mp3状态选取一个半周期的完整波形,按运行/停止
键抓取波形,测量并读取数据再按Save键保存波形。

4.3.3 预期结果：
测试项目参考值
电压峰值≤800mv
毛刺0
频偏±20ppm
抖动幅度0
占空比50%
4.4 FM时钟测试(测试用例编号:
5.
6.4)
4.4.1测试条件：
被测机开壳,装SIM卡、TF卡开机，接耳机开收音。

4.4.2 测试步骤：
1）从原理图上找到FM时钟信号输入位置，频率计探头负极接地，正极接信号输
入端，频率计(10M档位)读数即为时钟频率；
2）示波器采集模式设为取样，余辉时间设置为5秒；
3）通道耦合选取直流模式，档位设定为1.0V，时间标度设置为10.0us；
4）按测量键选取测量频率，上升时间，下降时间，幅值电压，占空比等；
5）按测试说明要求，在插耳机收听调幅广播状态选取一个半周期的完整波形，
按运行/停止键抓取波形；
6）测量并读取数据后按Save键保存波形。

4.4.3 预期结果：
测试项目参考值
上升时间≤300
下降时间≤300
上过冲0.5V
下过冲-0.2V
电压幅值 2.8V
毛刺20mV。