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编辑
• 撤销操作：只能撤销一步操作步骤。 • 剪切、拷贝、粘贴：可将选中谱图剪切（拷 贝）到剪贴板上，然后粘贴到其 他omnic窗 口或者其它应用软件中（如电子数据表，文 字处理或者绘图程序等）。 • 谱图镜像粘贴：粘贴的谱图与原谱图使用同 一数据组，对其中一个进行改动，另一个会 产生同样的改动。 • 删除标注：用选择工具将需要删除的标注画 框包围后删除标注。 • 选项\编辑菜单\编辑工具栏：用户可以根据 自己的爱好编制Omnic操作软件。编制完成 后可以用‘文件’菜单中‘保存配置’保 存在一个配置文件中。
关于显示
• • • • 窗口： 可显示多个窗口，只有一个是活动窗口。谱图可以在不同窗口复制、 粘贴。也可从窗口粘贴到其他应用程序（如Word,Excel等）。 状态监控：√绿勾—诊断测试通过；◎ 黄圈—冷却的检测器变热； Ｘ红叉-仪器故障或者仪器与计算机通讯失败。 谱图： 一个窗口可以显示多张谱图。被选中谱图的缺省颜色为红色。可以按 Ctrl键或者Shift键进行多选。 坐标轴： X-轴：通常用波数（cm-1)表示，也可以用波长表示。 Y-轴：采用透射法测定样品时，使用%透射率或者吸光度。根据 不同样品测定方法和需要：还可以选择单光束，干涉图，KubelkaMunk, 光 声光谱， %反射率或者Log(1/R)。 单光束光谱：由干涉图经傅立叶变换文件
• 打开：文件类型： .SPA-spectra缩写，Omnic默 认类型；.SPG-光谱组；.CSV-文本文件；.0??PeakSolve文件。.JDX-可包含多张光谱存于一个 文件中的文本文件。 另存为：可将文件设成‘只读’ ；可以设谱图标 题名为文件名。 保存谱图组：将多张谱图保存到一个谱图文件中。 Mail光谱：将所选谱图作为电子邮件的附件发送。 配置文件：可以根据爱好对omnic软件进行设定。 包括对OMNIC登录 编辑菜单中-选项、编辑菜单、编辑工具栏中参数的 设定。 Log记录：记录仪器的操作
Omnic 软件使用指导
2009-4-10
绪论
• Omnic 与系统
Omnic 是FT-IT光谱仪的一个高级软件包。用其可以方便地对光谱进行采集、 处理、 简单定量分析等操作。并可实时监测仪器操作，如果出现故障，给出提示并解 释如何排除。 版本：1.0-8.0 , EZ-Omnic（旧简化版） , Omnic lite (新简化版） Omnic 8.0 对计算机要求： Windows XP professional SP2 或Windows Vista Business 操作系统 Intel Core 2 Duo 处理器 2.2GHz; 2GB 内存 160 GB hard disc with 1GB free space CORW/DVD combo drive USB2.0 Port (not a hub) .parallel or USB 2,0printer Port. Omnic 操作界面的语言选择： Start\Control Panel\Regional and Language Option中 Regional Option 和 Advanced 选项，中文选择Chinese (PRC),英文选择English (United States)
采集
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实验设置：设定采集参数、如何检查采集光谱质量的参数、检索设置参数、 执行光谱仪诊断检查和准值光谱仪。生成实验（参数）文件。
打开参数文件：在‘参数文件’下来菜单中选择，或者在‘实验设置’中打开。安装智能附 件时，软件自动选择相应的参数文件。 恢复默认设置：将C:\My Documents\Omnic\PARAM\FACTOR拷贝要恢复的参数文件覆盖 C:\My Documents\Omnic\PARAM中同名文件
编辑
选项\打印： ‘轴线粗细’：1-6；‘刻度粗细’：1-6； ‘谱线粗细’：1-10。（细-粗） ‘颜色用不同线性表示’：用相同粗细的不同条文（如虚线）代表不同颜色的谱图（尤其 用于黑白打印机） 选项\采集： ‘光阑过大影响分辨率时提示’：增加光阑孔径会降低分辨率。 ‘光学台和智能附件状态监测’: 监测光学台状态。安装智能附件时出现相关信息。 ‘设定智能吹扫’：放入、取出样品时，增加吹扫气流速。最大250秒。 选项\处理： ‘自动关闭任务窗口’：操作结果放入光谱窗口后自动关闭任务窗口。 ‘标峰’：’谱图分析‘标峰时，选择剪贴板拷贝出的峰表按峰位排序，还是强度排序。 ‘自动基线校准’：选择‘谱图处理’-自动基线校准时用得多项式级数和反复次数。 ‘Y-轴检查’：数据处理时检查Y-轴数据格式。 ‘设定水和二氧化碳参考谱图’：参考谱图至少采集64次，并尽量使用与样品谱图相同分 辨率。 ‘设定环境空气制动抑制参考谱图’：采集时：分辨率为0.5或1，格式为干涉图。 选项\窗口： 用于新光谱窗口的默认设定。已有窗口的设定在显示菜单中的‘显示参数设定’中。
编辑
• 选项\文件： ‘使用选择文件类型’： 打开、保存文件时只能使用指定的文件类型。 ‘打开谱图到新窗口’： 如果关闭此选项，打开谱图到放入当前活动窗口。 ‘覆盖文件前提示’： 覆盖同名光谱文件或者配置文件前提示。 ‘记录存为RTF文件’： Log文件存为格式丰富的文本文件，可以粘贴谱图。 ‘频率标准化’： 用15798cm-1参考激光频率的光谱仪采集的光谱的数据点的位置称为标准位 置。频率标准化是将打开的光谱数据点的位置变为标准位置。 只有两个频率不等且其差值小于20cm-1时才使用。 可用于由CSV、JDX转化得到或色散型仪器采集的光谱的校正。 选项\显示： ‘标注小数点为数’：最多5位。 ‘刻度粗细’： 坐标轴刻度粗细。允许值1-6（细—粗）。 ‘谱线粗细’： 允许值1-10（细—粗）。 ‘谱图颜色’： 设定光谱、标注、坐标标记、刻度和样品信息的颜色。光谱加 到窗口时，依次使用右边八种谱图颜色。第九张又开始使用第一种颜色。
三 个 目 录
帮助： 1，Omnic中帮助菜单 2，赛默飞世尔科技客户服务电话：
800-810-5118
400-650-5118
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绪论
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红外光谱理论
红外光谱是根据物质吸收辐射能量后引起分子振动的能级跃迁，记录跃迁过程而获得 该分子的红外吸收光谱。分子振动时，分子的偶极距发生变化，则该分子是红外活性 的，能够产生红外吸收。 在中红外区，分子中基团振动模式分为两大类：伸缩振动和弯曲振动。 中红外区频率范围：4000-400 cm -1，其中， 4000-1330 cm -1为基团频率区，与分子结构有对应关系。 1330 -400cm -1为指纹频率区。分子结构微小的变化会引起指纹频率的变化。 汽态H2O伸缩振-转光谱位于3950-3500 cm -1,变角振-转光谱位于2000-1300 cm -1, CO2振-转吸收谱带的P支、Q支和R支分别位于2359 cm -1,2338 cm -1,669 cm -1 . FTIR (Fourier Transform Infrared) 傅立叶变换红外光谱仪. FTIR采用了干涉仪可以对目标频率范围内的所有频率同时进行采集。采集得到的干涉 图信号经过傅立叶变换后得到光谱图信号（单光束光谱）。
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绪论
• Omnic 软件结构
C:\My Documents\Omnic Spectra-光谱；Libs-谱库；Param-实验参数； Quant-定量方法；Report-报告 C:\Program Files\Omnic—程序文件及驱动 Start\All Programs\Thermo Scientific Omnic Documentation-仪器及软件用户手册； Library Converter-谱库转换程序
%透射率：T= I 0 x100%= 背景单光束谱图 x100%
I
样品单光束谱图
I-红外光透过样品光强 I 0 -红外光透过背景光强
背景光谱包含仪器和光谱内部环境或制样附件的信息。 吸光度：A=-LogT=Log 1
T
关于显示
• • • 标题框：谱图标题颜色与谱图相同，可以直接修改谱图标题名。 信息按钮：纪录选中谱图的采集、处理和标注信息。可以在标题、注释 和自定义信息栏中进行编辑，并可将所有信息复制到剪贴板。 图标工具 —选择工具：选择项目；扩展（拉框放大）、缩小（按住Shift键） 谱图，窗口内（间）移动谱图，选择要删除的标注。 —区间工具：选择光谱区间或测量一个未校正区间的面积。 —光谱坐标工具：显示一个点的X值和Y值。 —峰高工具：测量峰的高度。 —峰面积工具：测量峰的面积。 —标注工具：添加注释，移动注释，删除注释 注：使用光谱坐标或峰高工具时按住Shift键可自动找到峰的顶端。 取景窗与缩放条：可改变光谱显示范围。 任务窗口：使用某些OMNIC 命令时，会显示一个专用窗口，通过此窗口 可以看到操作的过程，或在过程中与软件对话。
采集
采集：
‘扫描次数’：取多次扫描的平均值。优点：增加扫描次数(n)可以提高信号(Signal) 和 噪声 (Noise)的比值—信噪比(SNR).SNR n 。缺点：增加扫次数会延长扫描时间。 如何选择：可先采16次，然后视信噪比情况增加。采集完成后可选择‘增加扫描次数’。 背景扫描次数可与样品不同。 ‘分辨率’：指分开两条相邻谱线的能力。单位cm-1。分辨率与谱图数据点间隔成正比。优 点：分辨率越高（数值越小），光谱中的数据点靠得越近，从而可以区分越窄的谱带。缺 点：提高分辨率，延长扫描时间，降低信噪比。 如何选择：通常固体或者液体，用8cm-1或4cm-1分辨率。气体2cm-1或更高。样品与背 景应使用相同的分辨率。 高分辨率光阑过大(<2cm-1)时可能引起光谱畸变。此时仪器会自动调节光阑大小。 ‘最终格式’： Kubelka-Munk(KM)： KM能够减少或消除漫反射时与波长有关的镜面反射效应。采用漫反射技 术时，由于光程长度的变化在许多情况下得到的样品含量不随Log(1/R)形式成线性变化， KM提供了与含量更好的线性关系。KM=(1-R)²/2R.R=样品反射光强/背景反射光强。 光声：将光声光谱技术采集到的谱图转化为光声光谱单位。 %反射率：使用反射技术（镜面反射，衰减全反射，漫反射）时表示样品反射能量的比率。 %R=(Is/Ib)×100 Is—样品反射能量强度;Ib—背景反射能量强度。 Log(1/R)：表示反射实验中所吸收的红外能量，等价与透射测量中的吸光度。