技术亮点
• 数字探测系统 • 测量范围达60/90mm，分辨率为0.05/0.075µm • 通过软件选项进行外部/内部探测 • 行程受限的CNC控制测头臂定位 • 电控式探测头保护 • 臂内芯片技术，可：
- 自动配置测力和测量条件 - 为测量方案自动分配测头臂 - 磁性测头臂支架 • 提供适用于各种测量任务的测头臂
测量粗糙度和轮廓时有独立的探测系统， 没有复杂的换装过程。
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T8000 SC 粗糙度和轮廓组合测量， 共用一个探测系统。
nanoscan 高精测量粗糙度和轮廓。
测量斜面和曲面的粗糙度，在轮廓评价中 集成了粗糙度评价。
粗糙度和轮廓同时测量，精度卓越， 操作舒适。
霍梅尔-艾达米克 T8000 R120-400 型粗糙度仪 选配了 wavecontrol™ basic 操作面板 和 MT1 XY0 测量台
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T8000
测量较深的面或两个凸缘之间的面时，探头可回转 90° ，并在进给方向的横向探测，这样就省却了麻烦的 换装过程。
测头既可通过套筒安装，也可安装在进给装置的下方， 所以保证了测量仪的最大柔性和最大应用。
T8000 R120
商品号: 1001 7062
测量范围
±300 µm or ±600 µm
最小分辨率
1 nm or 2 nm
水平测量范围/水平分辨率
120 mm/0.1 µm
测量立柱行程
400 mm
拓展配置 1000 x 500 mm 的硬岩石板
商品号：1003 6585
拓展配置 800 mm 的测量立柱
T8000 C
轮廓测量，可配置数字探测 系统，也可拓展测量粗糙度。
T8000 RC 粗糙度和轮廓组合测量， 通用性好。
简短描述 专业测量粗糙度的入门产品，根据测量 需求有多种配置，也可拓展用于测量轮廓。 经过最佳优化的轮廓测量仪，能够测量、 评价并记录文件。 针对各个测量任务的个性化测量站配置， 进行自动测量运行。
技术亮点
• 数字探测系统 • 测量范围达60mm，分辨率为0.05µm • 下降行程受限的电动测头臂 • 测力可调 • 各种测头臂适用于各种测量任务
wavecontour™数字探测系统：测量范围广，能满足所有标准 配有数字探测系统，即使是非常小的几何形状也能测量。 测量任务。
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T8000
wavecontour™ digiscan： 严格测量任务的系统 解决方案
供货范围
• 带 22” TFT 显示屏的评价电脑，彩色打印机， CD 刻录器，粗糙度评价软件
• 具有自动保存功能的PDF打印机 • 带自动探测功能的电动测量立柱 wavelift™ 400 • 带增量值光栅尺的进给装置 waveline™ 120 • 进给装置的倾斜和紧固单元，回转范围 ±45°，
精回转范围 ±5° • 带10mmT型槽的780x500mm硬岩石板 • TKU 300 测头一套，包含 4 个不同应用的探针 • 固定测头支架 FHZ • 粗糙度标准块 RNDH2
wavecontour™ digiscan探测系统采用具有臂内芯片 技术的智能测头臂。轮廓探测系统可以探测到正在 使用哪一条测头臂，并自动设置正确的测量条件。 因此，当测量任务频繁更换时，可以避免因操作失 误而造成测量不当或损坏针尖。wavecontour™ digiscan探测系统允许使用特殊测头臂延长垂直测量 范围，使用双针尖测头臂和可选软件对工件内外进 行探测。
霍梅尔-艾达米克 T8000 R
选项
• 通过电动倾斜单元和 CNC 软件实现完整的 CNC 功能
• 经过认证的 qs-STAT 接口 (AQDEF) • 螺旋纹路测量：测量粗糙度时可在切线方向
进行旋转进给，螺旋纹路软件 • 工件表面形貌测量：电动 Y 向定位台和软件
HOMMEL MAP，用于 3D 特征数据的显示和评价 • 轮廓测量的拓展包 • 不同应用所需的粗糙度测头和测头臂 • 测量台 MT1 XY, MT1 XYO • wavecontrol™ basic 操作面板 • 仪器台 GTR
带硬质合金探测头的测头臂 • 带10mmT型槽的780x500mm硬岩石板 • 用于支撑工件的测量台MT1 XYO（也可以不选） • 校准用附件一套
C8000 digital
商品号: 1001 7065
测量范围
60 mm
最小分辨率
50 nm
测力设置
手动
测力臂辨别
–
内/外探测
–
测量范围/水平分辨率
120 mm/0.1 µm
OPTICAL SYSTEMS LASERS & MATERIAL PROCESSING INDUSTRIAL METROLOGY TRAFFIC SOLUTIONS DEFENSE & CIVIL SYSTEMS
HOMMEL-ETAMIC T8000 / C8000 霍梅尔-艾达米克 T8000 / C8000
商品号：1003 6584
拓展配置测量轮廓用的数字探测系统 wavecontour™ digital 商品号：1004 3060
wavecontour™ digiscan
商品号：1005 0333
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C8000
紧凑、精密的 轮廓测量系统
C8000 型轮廓仪专为轮廓测量而设计，精度高，性价比 出色。
技术亮点
当然我们也可以完全根据您的要求为您量身配置测量 仪。凭借我们不断创新的技术实力和百年老厂的丰富 经验，我们将为您提供最高精度的测量仪，使您从中受 益。
粗糙度测量 2
轮廓测量
T8000
柔性粗糙度 和轮廓测量仪
型号 T8000 R
C8000
测量内容 测量粗糙度，也可拓展测量 工件表面形貌。
轮廓测量，可配置数字探测系统。
• 能根据测量需求和工件大小进行个性化配置 • 具有人机通讯能力的控制系统 • 配置的数字探测系统保证了测量的高精度和 持续精度 • 强大的评价功能 • 可以处理多个轮廓
霍梅尔-艾达米克 C8000 型测量仪一览
• 电动测头下降装置，行程可调 • 自动测量流程和评价功能 • 不同应用时，测头臂更换简单方便 • 结构紧凑、坚固，既可用于生产现场，也可用于 测量室
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T8000
具有自动测量运行功能的 个性化轮廓测量系统
T8000轮廓测量系统能随时根据需要拓展粗糙度 测量功能，从而为用户的长远投资奠定了可靠 基础。
技术亮点
• 根据测量需求和工件大小进行个性化配置 • 测量站可进行交互式控制 • 数字探测系统保证了持续性的高测量精度 • 强大的评价功能 • 可以处理多个轮廓 • 可以拓展粗糙度测量功能
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共用一个探测系统测量粗糙度和轮廓
采用一个超精的光机探测系统测量粗糙度和轮廓 3
T8000
使用数字探测系统 进行轮廓测量
当公差变小时，与功能相关的几何形状变得也会变得愈加复杂。因此，我们所有的轮廓测量系统均在Z轴与 X轴配有高分辨率的直线光栅尺，从而能够给出直接的二维坐标测量点，而无不良和模拟影响。
测量立柱行程
400 mm
拓展配置 1000 x 500 mm 的硬岩石板 商品号1003 6585
拓展配置 800 mm 的测量立柱
商品号1003 6584
*为长度的1.5倍
C8000 digiscan
商品号: 1005 0329
60/90* mm 50/75* nm 电子 电子, RFID 可选 120 mm/0.1 µm 400 mm 商品号1003 6585 商品号1003 6584
wavecontour™ digital： 用于标准测量任务的 高性价比解决方案
wavecontour™数字探测系统运行可靠，在测量室和 生产现场均可持续提供高测量精度，同时还能满足 轮廓测量技术中的所有典型性能要求。该系统的垂 直测量范围为60mm，这使它便于操作，并能提高 日常测量任务的灵活性。在整个测量范围中，垂直 分辨率可达0.05µm。无论多么小的几何形状， 0.1µm的水平测量方向分辨率也能实现可靠测量和 再现。
霍梅尔-艾达米克T8000 C
技术亮点
• 经过认证的qs-STAT接口（AQDEF） • wavecontrol™ basic操作面板 • 轮廓标准块KN8 • 仪器台GTR • 粗糙度测量扩展套件
供货范围
取决于设备类型
• 带22"TFT显示屏的评价电脑、CD刻录器和轮廓测 量的评价软件
• 具有自动保存功能的PDF打印机 • 具有自动探测功能的电动测量立柱wavelift™ 400 • 带增量线性测量系统的进给装置waveline™ 120或
霍梅尔-艾达米克公司，与您共进, 无限精确。
为您的测量需求提供最完美的解决方案 您可以在我们的众多产品中选择最符合应用的一款。 我们的产品种类繁多，有粗糙度仪 (包含表面形貌测 量)、轮廓仪以及粗糙度和轮廓组合仪。组合仪当中有 带独立探测系统的测量设备，也有共用一个探测系统 的测量设备。
一仪多用是我们贯穿始终的设计宗旨， 所以如果有 特殊测量需求，您可以随时通过选购附件拓展测量仪 的功能。
技术亮点
• 采用基准面测量原理时的进给精度高 • 模块化结构 • 以电脑为基础的评价单元 • 牢固的高斯滤波器符合 ISO/TS 16610-31 标准 • 具有众多汽车制造业独有的特性参数
霍梅尔-艾达米克 T8000 R 粗糙度仪一览
• 能够计算所有常见的表面轮廓、粗糙度和波纹度特征 数据 ( 90多个) • 测量粗糙度和波纹度时的探测距离是120mm • 可采用套筒结构，所以也能测量很难接触到的位置 • 采用通用粗糙度测头，并使用可更换的测头臂，所以 能满足不同或特殊的测量需求 • 稳定和牢固的机动立柱保证了测头的自动定位 • 对软件及标准进行了不断地改进和升级 • 软件的可操作性佳，界面的结构清晰，通过软件可 创建个性化测量程序。