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统计过程控制培训课件

(3)单侧公差,只有上限要求
有的产品,如机械产品的清洁度,形位公差,药品中杂质的含量等只给出上限要求,而对下限没有要求,只希望越小越好,这时,工序能力指数计算如下:
CP=(Tu-μ)/3σ≈(Tu-X)/3S
当X≥Tu时,令CP=0。表示工序能力严重不足。
例:某锅炉厂要求零件滚柱的不同轴度小于1.0,现随机抽取滚柱50个,测得其不同轴度均值X=0.7823,S=0.0635,求CP?
2、如何计算过程能力
-正态分布的情况下,过程能力用分布的±3σ宽度来表达
-σ的计算方法
●按极差估计
●按标准差估计
3、什么是过程能力指数(Cp,Cpk)
-Cp,Cpk表示过程能力满足技术规的程度
-Cpk值与σ,技术规宽度,分布和技术规的位置有关
-当过程均值与规中心值重合时,Cpk=Cp
CpkU=UcL-μ/3σ
-属于局部的问题也不要轻易采取系统措施
-考虑经济因素,作出合理的决定
-过程控制系统应能提供正确的统计信息(MSA)
四、过程能力与能力指数
1、什么是过程能力
-过程在统计受控状态下的变差大小
-过程能力是由造成变差的普通原因确定的
-过程能力通常代表过程本身的最佳性能
-过程能力决定于质量因素4M1E而与技术规无关
当X≤TL时,令CP=0,表示工序能力严重不足。
例:某电器厂生产小型变压器,规定其初次级线圈间的击穿电压不得低于1000伏,随机抽样60个变压器,试验结果计算平均击穿电压X=1460伏,S=93,求CP?
解:由题知TL=1000,X=1460,S=93
CP=(1460-1000)/(3*93)=1.65
工序能力指数的评定标准
CP值围 级别 指数评价
CP≥1.67 I 过高
1.67> CP≥1.33 Ⅱ 充分
1.33> CP≥1.00 Ⅲ 尚可
1.00>CP≥0.67 Ⅳ 不足
0.67> CPⅤ 严重不足
根据CP值与K值求不合格品率P的数值表(%)
K
P
CP
0.00
0.04
0.08
0.12
0.16
0.20
μ±2σ 0.954499
μ±3σ 0.997300
μ±4σ 0.99993657
μ±5σ 0.999999742
μ±6σ 0.999999998
三、两种变差原因及两种过程状态
1、两种性质的变差原因
*如果仅存在变差的普通原因,
随着时间的推移,过程的输出,
形成一个稳定的分布并可预测。
*如果存在变差的特殊原因,
过程的呼声
顾客的呼声
控制策略:控制过程、预防缺陷、避免浪费。
3、两种模型的比较
模型
特点
检 测
反 馈
控制
输出
过程
方法
事后把关
预防
经济性

比较好
质量
不能保证
稳定
4、计量型随机变量的分布
5、正态分布――过程控制中最常用的分布
μ―均值 σ2―方差 σ-标准差 ±3σ-常用来表示变差大小
变量围 正态分布概率
μ±σ0.682689
Cpk为以上两值较少者
CpkL=μ-LCL/3σ
Cp=UcL-LCL/6σ
* 工序能力指数表示工序能力满足产品质量标准(产品规格、公差)的程度,一般记以Cp 。
*各情况的工序能力指数的计算方法如下:
(1)双侧公差(质量特性值分布中心μ与公差中心M重合)无偏移情况
Cp=T/6σ≈(Tu-TL)/6S
式中,T为技术规格,Tu为规格上限,TL为规格下限,σ为质量特性值分布的标准差,S为样本标准差,S为σ的估计值,即R/d2。
统计过程控制(SPC)
一、什么是过程
所谓过程指的是共同工作以产生输出的供方生产者、人、设备、输入材料、方法和环境以及使用输出的顾客之集合。

机产品
4M1E料服务


输入 过程/系统 输出
●●●
二、两种过程控制模型和控制策略
1、缺陷检测过程模型


控制策略:控制输出,事后把关,容忍浪费。
2、具有反馈的过程控制模型
(2)双侧公差(质量特性值分布中心与公差中心不重合)有偏移情况
若产品质量特性值分布中心μ与公差中心M二者不重合,有偏移,则不合格品将增加。这时计算工序能力指数的公式需加修正。
*定义分布中心μ与公差中心M的偏移ε=∣M-μ∣
*μ与M 的偏移度K=ε/(T/2)=2ε/T
*分布中心偏移的工序能力指数CPK=(1-K)T/6σ。
解:由题给定Tu=1.0, X=0.7823, S=0.0635
CP=(1.0-0.7823)/(3*0.0635)=1.14
(4) 单侧公差,只有下限要求
有的产品,如机电产品的机械强度,耐电压强度,寿命、可靠性等要求不低于某个下限,而对上限没有要求,只希望越大越好,这时,工序能力指数计算如下:
CP=(μ-TL)/3σ≈(X - TL)/3S
当μ=M,即分布中心公差中心重合无偏移时,K=0,
CPK=CP,而当μ=Tu或μ=TL时,K=1 CPK=0
表示工序能力由于偏移而严重不足,需要采取措施。
例:某零件的孔径为φ1400.017,经随机抽取50件进行检验,计算得零件的平均孔径X=140.00952,标准差S=0.00354,求CPK?
解:①首先计算零件孔径的偏移
(公差中心) (规格围) (分布中心)
M=(Tu+TL)/2 T=Tu-TLμ=X
ε=∣(140.017+140.000)/2-140.00952∣=0.00102
②计算偏移度
K=0.00102/[(140.017-140.000)/2]=0.12
③计算CPK
CPK=(1-0.12)[(140.017-140.000)/(6*0.00354)]=0.70
*根据 T与6σ的相对大小可以得到三种典型情况:
a)Cp值越大表明加工精度越高,但这时对设备和操作人员的要求也越高,加工成本也越大,所以对于Cp值的选择应根据技术要求与经济性的综合考虑来决定。
b)当T=6σ时,Cp=1,从表面上看,似乎这是满足技术要求又很经济的情况,但由于生产总是波动的,分布中心一有偏移,不合格品率就要增加,因此通常Cp值大于1。
随着时间的推移,过程的
输出不稳定。
2、两种过程状态


3、两种控制措施
*系统措施
-通常用来减少变差的普通原因
-通常要求管理层的措施
-工业经验,约占过程措施的85%
*局部措施
-通常用来消除变差的特殊原因
-通常由与现场有关的人员解决
-工业经验,约占过程措施的15%
4、过程控制要点
-属于系统的问题不要去责难现场人员,要由系统采取措施
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