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半导体工艺试卷(A)

4、描述双大马士革铜布线(图示)。(12分)
5、解释相移掩模(PSM)。(12分)
6、列出并阐述刻蚀多晶硅的三个步骤。(10分)
7、列举离子注入和扩散的优缺点。(10分)
8、什么是CMP?列举CMP的优缺点。(10分)
9、列举并简述三种以上32nm CMOS制造新工艺?(12分)
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杭州电子科技大学研究生考试卷(A卷)
考试课程
《Байду номын сангаас导体工艺》
考试日期
年月日
成绩
学院
电子信息学院
学号
姓名
1、什么是CMOS器件的闩锁效应?描述三种阻止闩锁效应的制造技术。(12分)
2、为什么要用区熔法生长硅晶体?描述区熔法。(10分)
3、什么是LOCOS和STI?为什么在高级IC工艺中,STI取代了LOCOS?(12分)
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