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第4章晶体结构缺陷PPT课件

a).Frankel缺陷:因晶格上原子的热振动使能量较大的原子离开平 衡位置,进入间隙,形成间隙原子,而原来的位置上形成空位。
特点 ——①间隙原子和空位成对产生;②晶体的体积不发生改 变;③两种离子半径相差大时弗伦克尔缺陷是主要的。
例 : 纤锌矿结构ZnO 晶体,Zn2+ 可以离开 原位进入间隙,此间 隙为结构中的另一半 “四面体空隙”和 “八面体空隙”位置。
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②、填隙原子:Mi和Xi分别表示M及X原子处在间隙位置上。
③、错放位置:MX表示M原子被错放在X位置上。
④、溶质原子:LM表示L溶质处在M位置,SX表示S溶质处在 X位置,Li表示L溶质处在间隙位置。
如Ca取代MgO中的Mg写作CaMg,Ca填隙在晶格中写作Cai。
⑤、自由电子及电子空穴:在强离子性材料中,通常电子是 位于特定的原子位置上,这可以用离子价来表示。但有些情 况下,价电子并不一定属于某个特定位置的原子,在光、电、 热的作用下可以在晶体中运动,这时可用e'表示这些自由电 子,同样,可以出现缺少电子,而出现不属于某个特定的原 子位置的电子空穴,用h•表示。
力的大小的变化而发生组成偏离化学计量的现象。即化合 物中不同种类的离子或原子数之比不能用简单整数表示。
如TiO2在还原气氛下形成TiO2-x(x=0~1),这是一种n型 半导体。
非化学计量缺陷
电荷缺陷
价带产生空穴 附加 导带存在电子 电场
周期排列不变 周期势场畸变 产生电荷缺陷
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§4–2缺陷化学反应表示法
如果取走一个X2-离子,即相当于取走一个X原子加上二个电
子,那么在X空位上就留下2个电子空穴2h•。如果这二个电子
空穴被束缚在X空位上,则X2-离子空位可写成VX•• 。用缺陷 反应式表示为: VM''←→ VM + 2e'; VX•• ←→ VX + 2h• 8
把离子化合物看作完全由离子构成(这里不考虑化学
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b). Schottky缺陷:正常格点上的原子由于热运动迁移到晶体 表面,在晶体内部正常格点上留下空位。
特点—— ①对于离子晶体,正、负离子空位同时成对产生; ②晶体体积增大;③正、负离子半径相差不大时, 肖特基缺陷是主要的。
Na CVlN aVC •l
热缺陷浓度随着温度的 上升而呈指数提高,对于某 种特定材料,在一定的温度 下都有一定的热缺陷。
热缺陷浓度表示 : n exp- ( E) N 2KT
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(2) 杂质缺陷
概念——杂质原子进入晶体而产生的缺陷。原子进入晶体 的数量一般小于0.1%。
种类——间隙杂质 置换杂质
特点——在固溶度以内杂质缺陷的浓度与温度无关, 只决定于溶解度。
存在的原因——本身存在 有目的加入(改善晶体的某种性能)
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(3) 非化学计量结构缺陷(电荷缺陷) 某些化合物的组成会明显是随着周围气氛的性质和压
杂质原子
杂质原子进入晶格(结晶过程中混入或加 入,一般不大于0.1%,)。
间隙位置—间隙杂质原子
进入 正常结点—取代(置换)杂
固 溶
质原子。

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2)根据产生缺陷的原因来分: 热缺陷 杂 质 缺陷
非化学计量结构缺陷(电荷缺陷)
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➢(1)热缺陷:当晶体的温度高于绝对0K时,由于晶格内原
子热运动,使一部分能量较大的原子离开平衡位置造成的缺陷。
对于计量化合物(如NaCl、Al2O3),在缺陷反应式中作为 溶剂的晶体所提供的位置比例应保持不变,但每类位置总数可 以改变。
对于非化学计量化合物,当存在气氛不同时,原子之间的比 例是改变的。
例:TiO2 由 1 : 2 变成 1 : 2-x (TiO2-x )
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(2) 、位置增殖:在缺陷反应时,因缺陷消长其总的位置数要改
第四章 晶体的结构缺陷
总述—
1、缺陷产生的原因——热起伏、杂质 2、缺陷定义——实际晶体与理想晶体相比有一定程度的偏离
或不完美性, 把两种结构发生偏离的区域叫缺陷。 3、研究缺陷的意义——导电、半导体、发色(色心)、发光、
扩散、烧结、固相反应……。(材料科学的基础) 4、 缺陷分类——点缺陷、线缺陷、面缺陷
键性质),则在 NaCl晶体中,如果取走一个Na+ ,晶格中 多了一个e, 因此VNa 必然和这个e '相联系,形成带电的空 位:
V
Na
写作 V Na e V N a
同样,如果取出一个Cl- ,即相当于取走一个Cl原子加一 个e,那么氯空位上就留下一个电子空穴(h• ),即:
V Clh• V C •l
晶 点缺陷:缺陷的尺寸处在一、两原子大小的级别 体 线缺陷:晶体结构中生成的一维的缺陷,通常是指位错

陷 面缺陷:通常是指晶界和表面
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§4–1 点缺陷
一.点缺陷类型
1.点缺陷的类型
1)根据点缺陷对理想晶格偏离的几何位置及成分来划分:
空位
正常结点位置没有被质点占据,称为空位。
填隙原子
质点进入间隙位置成为填隙原子。
在离子晶体中带相反电荷的点缺陷之间,存在一种有利于缔
合的库仑引力。如:在NaCl晶体中, V N aV C • l(V N V a C •)l
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2. 书写点缺陷反应式的规则 (1)、位置关系:在化合物MaXb中,M位置的数目必须永远与 X位置的数目成一个正确的比例(a:b)。M与X的比例不符合 位置的比例关系,表示存在缺陷。
缺陷化学——把材料中的点缺陷看作化学实物,并用化学热力 学原理来研究缺陷的产生、平衡及其浓度等问题的一门学科。 1.缺陷化学符号的表示法
Az b
用一个主要符号表明缺陷的种类,用一个下标表示 缺陷位置,用一个上标表示缺陷的有效电荷
“˙”—有效正电荷 、“'”—有效负电荷 、“×”—有效零
电荷。
① 空用位M:X用离V子M晶和体VX为分例别(表示MM2+原;子X空2-位)和:X原子空位;
⑥、带电缺陷:不同价离子之间的替代就出现了除离子空位
以外的又一种带电缺陷。如Ca2+进入NaCl晶体,Ca2+取代
Na+,写作CaNa•;Ca2+取代ZrO2晶体中的Zr4+,则写成CaZr'',
表示 Ca2+在Zr4+位置上同时带有二个单位负电荷。
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⑦缔合中心:一个带电的点缺陷也可能与另一个带有相反符 号的点缺陷相互缔合成一组或一群,这种缺陷是把发生缔合的 缺陷放在括号内的方法来表示:(VM''VX••),(Mi ••Xi'')。
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