序号
项目名称
试验条件
标准与要求
8
高温试验
＋85℃，2h，温度变化 外观无机械损伤，如变形、裂痕、松弛等，不
率不大于 1℃/min，恢复 得出现光纤断裂、光缆拉出、光纤端点处的故
室温 1h 后
障以及光缆密封损坏等
9
插入损耗变化量在规定范围内
10
低温试验
－40℃，2h，温度变化 外观无机械损伤，如变形、裂痕、松弛等，不
1. 分路器标准简介
1.1 分路器标准简介
本建议书给出的光分路器需要满足以下标准：
IEEE 802.3-2005：信息技术－系统间通信和信息交换－局域网和城域网特定要求－第 3 部分：CSMA/CD 接入方式和物理层规范－增补文件：用于用户接入网的媒质接入控制参 数、物理层和管理参数；
ITU-T G.983：基于无源光网络的宽带光接入系统（BPON）； YD/T 1475-2006：接入网技术要求——基于以太网方式的无源光网络(EPON)； 中国电信企业标准：中国电信 EPON 设备技术要求（v2.1）； 中国电信企业标准：中国电信 PON 网络 ODN 技术要求（征求意见稿）； 同时，光分路器应满足 Telcordia GR-1209-Core 和 Telcordia GR-1221-Core 的试验程序要求， 即《GR-1209-Core：一般性能试验要求》，以及《GR-1221-Core；可靠性试验要求》。在这 两个标准中，规定了光分路器的外观、环境性能、机械性能、光学性能、水浸泡测试的项目以 及遵循的标准和要求。
障以及光缆密封损坏等
25
插入损耗变化量在规定范围内
2. 光分路器常规性能测试方法
2.1 下行损耗测试
组网图示
FOT-932 B
光
分
FOT-932 A
路
器
测试步骤
图 1 光分路器下行插入损耗测试示意图
1) 接入被测分光器之前，先直连两台 FOT-932 进行通信校准；
2) 接入被测光分路器，两台 FOT-930 分别连至分光器的 in 口和分光口 1；
后 13
插入损耗变化量在规定范围内
14 高低温循环试 －25℃～＋70℃，各点 外观无机械损伤，如变形、裂痕、松弛等，不
验
恒温 1h，温度变化率不 得出现光纤断裂、光缆拉出、光纤端点处的故
大于 1℃/min，12 个循 障以及光缆密封损坏等
环，恢复室温 2h 后
15
插入损耗变化量在规定范围内
（4） 机械性能
2) 测试并记录分光器的上、下行插入损耗和回波损耗值。
2.7 高温特性测试 组网图示
FOT-932 B
光
分
FOT-932 A
路
器
测试步骤
图 9 光分路器高温特性测试示意图
1) 将分路器放于周围+85°C 的环境超过 12 小时后，如图连接光分路器和两台 FOT-932；
2) 测试并记录分光器的上、下行插入损耗和回波损耗值。
50N/min～250 N/min， 得出现光纤断裂、光缆拉出、光纤端点处的故
施 加 点 距 插 头 22 ～ 障以及光缆密封损坏等
28cm，2min 后
21
插入损耗变化量在规定范围内
22 光缆扭转试验 ±180o，负荷 1.5kg，扭 外观无机械损伤，如变形、裂痕、松弛等，不
转速率 10 次/min，载重 得出现光纤断裂、光缆拉出、光纤端点处的故
输出光口损耗值； 6) 计算最大插入损耗与最小插入损耗的差，即为分路器插损的均匀性。
2.3 下行回波损耗 组网图示
光
FOT-932
分
路
器
测试步骤
图 5 光分路器下行回波损耗测试示意图
1) 如图，将光分路器的 in 口连至 FOT-932；
2) 开启 FOT-932 回波损耗测试功能，测试 in 口下行未截止条件下的回波损耗；
2.8 温度交变特性测试 组网图示
光
FOT-932 B
分
FOT-932 A
路
器
测试步骤
图 9 光分路器温度交变特性测试示意图
1) 将分路器放于温度交变测试环境，要求完成两次温度交变循环，其中一次循环为：在+85°C 的环境达到 1 小时后，以 1°C/分钟的转变速度转变到-40°C，并在-40°C 环境达到 1 小时； 再以 1°C/分钟的转变速度转变到+85°C；
率不大于 1℃/min，恢复 得出现光纤断裂、光缆拉出、光纤端点处的故
室温 1h 后
障以及光缆密封损坏等
11
插入损耗变化量在规定范围内
12
湿热试验
＋40℃，90％～95％， 外观无机械损伤，如变形、裂痕、松弛等，不
4d，温度变化率不大于 得出现光纤断裂、光缆拉出、光纤端点处的故
1℃/min，恢复室温 2h 障以及光缆密封损坏等
3) 设置两台 FOT-930 工作波长窗口为 1310nm、1490nm、1550nm；
4) 启动 FOT-932 快速测试选项，读出三个波长下的下行(即 A→B)插入损耗值；
5) 将 FOT-932 连至分光口 2，重复以上步骤测插入损耗值，直到最后一个分光口，记录每一 个输出光口损耗值；
6) 计算最大插入损耗与最小插入损耗的差，即为分路器插损的均匀性。
2) 在温度交变过程中，如图连接光分路器和两台 FOT-932；
3) 连续测试并记录分光器的上、下行插入损耗和回波损耗值。
3) 将分光器的分光口光纤以较小半径（直径小于 1cm）绕 10 圈以上，以消除空置的分光口 带来的回波损耗；
4) 开启 FOT-932 回波损耗测试功能，再测试 in 口下行截止条件下的回波损耗。
2.4 上行回波损耗 组网图示
FOT-932
光 分 路 器
测试步骤
图 6 光分路器上行回波损耗测试示意图
点距插头 22～28cm，25 障以及光缆密封损坏等
次后
23
插入损耗变化量在规定范围内
（5） 水浸泡试验
表 5 光分路器水浸泡试验的标准与要求
序号
项目名称
试验条件
标准与要求
24
水浸泡试验 PH=5.5 ± 0.5 ， ＋ （ 43 外观无机械损伤，如变形、裂痕、松弛等，不
±2）℃，7d，24h 后 得出现光纤断裂、光缆拉出、光纤端点处的故
2.2 上行插入损耗测试 组网图示
FOT-932 A
光
分
FOT-932 B
路
器
测试步骤
图 3 光分路器上行插入损耗测试示意图
1) 接入被测分光器之前，先直连两台 FOT-932 进行通信校准；
2) 接入被测分光器，两台 FOT-932 分别连至分光器的 in 口和分光口 1；
3) 设置两台 FOT-932 工作波长窗口为 1310nm、1490nm、1550nm； 4) 启动 FOT-932 快速测试选项，读出三个波长下的上行(即 A→B)插入损耗值； 5) 将 FOT-932 连至分光口 2，重复以上步骤测插入损耗值，直到最后一个分光口记录每一个
3) 选择光分路器的任意两路相邻或非相邻的分光口，一口(A)连至光源，另一口(B)连至光功率 计，光功率计测得的数据即为 B 口对 A 口的方向性。
4) 换两个分光口，重复测试。
2.6 低温特性测试 组网图示
光
FOT-932 B
分
FOT-932 A
路
器
测试步骤
图 8 光分路器低温特性测试示意图
1) 将分路器放于周围-40°C 的环境超过 12 小时后，如图连接光分路器和两台 FOT-932；
项目名称
标准与要求
工作波长
1310nm、1490nm、1550nm
3
工作带宽
4
插入损耗(IL)
5
方向性(directivity)
6
均匀性(uniformity)
7
偏振相关损耗（PDL）
±40nm 与分路比相关
≥55dB 与分路比相关 与分路比相关
（3） 环境性能
表 3 光分路器环境性能试验的标准与要求
5) 将光分路器的分光口 2～n 依次连至 FOT-932，重复 2）~4）步，测试 2～n 口的上行回波 损耗。2.5 方向性源自试 组网图示A FOT-932
B
光
FOT-932
分
路
器
测试步骤
图 7 光分路器方向性测试示意图
1) 如图连接光分路器和两台 FOT-932。
2) 将一台 FOT-932 设为光源，发射 1310nm 的连续光；另一台 FOT-932 设为光功率计。
1) 如图，将光分路器的分光口 1 连至 FOT-932；
2) 开启 FOT-932 回波损耗测试功能，测试分光口 1 上行未截止条件下的回波损耗；
3) 将分光器的 in 口光纤以较小半径（直径小于 1cm）绕 10 圈以上，以消除空置的 in 口带来 的回波损耗；
4) 开启 FOT-930 回波损耗测试功能，测试分光口 1 上行截止条件下的回波损耗；
表 4 光分路器机械性能试验的标准与要求
序号
项目名称
试验条件
标准与要求
16
振动试验
频率 10～55Hz，振幅 外观无机械损伤，如变形、裂痕、松弛等，不
0.75mm，每分钟一个倍 得出现光纤断裂、光缆拉出、光纤端点处的故
频程，容差±10％，X、 障以及光缆密封损坏等
Y、Z 方向各持续 30min
17
插入损耗变化量在规定范围内
后
18
冲击试验
490m/s2 ， 半 正 弦 波 外观无机械损伤，如变形、裂痕、松弛等，不
11ms，X、Y、Z 方向各 得出现光纤断裂、光缆拉出、光纤端点处的故