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第五章 应力、应变测试.


应变片的结构
电阻应变片的结构及分类
应变片的分类
体型 金属应变片 薄膜型 应变片 半导体应变片 体型 薄膜型 扩散型
PN结及其他形式
丝式 箔式
电阻应变片的结构及分类

应变片的分类
金属丝式应变片
U型
V型
H型
电阻丝式应变片的敏感元件是丝栅状的金属丝。电阻丝是应变 片受力后引起电阻值变化的关键部件,它是一根具有很高电阻率的
X光衍射法 光测弹性力电阻应变片将应变转换为电参量进行测试。测试时,将 电阻应变片粘贴在被测物体表面, 随零部件变形即可产生成比 例的电阻变化。广泛应用于工程测量和科学实验中。 非线性小,电阻的变化同应变成线性关系; 应变片尺寸小,重量轻,惯性小,具有良好的动态特性,频率响应 好;贴在试件上对其工作状态和应力分布基本上没有影响。 适用于静态测量和动态测量。 测量应变的灵敏度和精度高,动态测试精度可达1%,静态为0.1%。 测量范围大,变形范围1%~2%。
应力、应变电测法原理
纵向应变
ε —应变 μ—为泊松比 λ —压阻系数
dL L
E—弹性模量
横向应变
轴向应力 金属丝电阻率
dr dl r l
E
d
dR 1 2 E R

E
dR K R
K为单根金属丝的灵敏度。当金属丝发生单 位长度的变化时,电阻变化率与其应变的 比值,即单位应变的电阻变化率。

应力、应变及其关系
在杆件受到拉伸(或压缩)的情况下,只有一个主应力 σ 1,它 的方向与外加载荷F的方向平行,该方向的应变为 ε 1,并且有
1 E1
E为材料弹性模量
应力、应变测试方法

常用测试方法
电阻应变测量 脆性涂层法
云纹方法
激光全息干涉法 激光散班干涉法
声弹性
第五章 应力、应变测试
本章主要内容

应力、应变测试方法 应力、应变测试原理


电阻应变片的特性及应用
电阻应变片的信号调理电路
电阻应变仪
应力、应变测试方法

测量应力、应变的目的
为了研究机械结构、桥梁、建筑等某构件在工作状态下的受力、 变形情况,通过测试测得构件的拉、压应力、扭矩及弯矩,为结构 设计、应力校核或构件破坏的预测等提供可靠的测试数据。
电阻应变片的特性及应用
电阻值R
应变片的阻值指应变片没有粘贴也不受力时,在室温下测定 的电阻值。应变片阻值也有一个系列,如60Ω、120Ω、350Ω、
600Ω和1000Ω,其中以120Ω最为常用。阻值大,承受电压大,
优点:横向效应很小 ,允许电流大 ,柔性好、蠕变小、疲劳寿命 长 ,生产效率高 。
电阻应变片的结构及分类
半导体式应变片
胶膜衬底 P-Si
优点:灵敏度高、频 率响应范围宽、体积 小、横向效应小 。
缺点:温度系数大、 灵敏度离散大以及在 较大变形下非线性比 较严重。
内引线 外引线 焊接板
半导体式应变片是以半导体单晶硅条作敏感元件的 ,工作原 理是基于半导体材料的压阻效应。即施加一定载荷产生应力时,电 阻率会发生一定的变化。
应力、应变测试方法

应力测试系统
应变片 电桥盒 应变仪 记录仪
应变片——能将试件上的应变变化转换成电阻变化的传感元件,其转 换原理基于金属电阻丝的电阻应变效应
电桥盒——将电阻微小的变化进行处理的测量电路。
应变仪——用于将电桥的输出信号进行放大的高增益放大器。应变仪 还具有阻抗变换的作用。
电阻应变片的结构及分类
用,使用温度在70℃以下
纸浸胶基应变片:具有一定耐潮湿性,适合长期使用。 使用温度为180℃ 胶基应变片:耐蚀性和绝缘性能好,弹性系数高, 使用温度在-50~+170℃
电阻应变片的结构及分类
金属箔式应变片
金属丝经高温液化后,高压高速喷射,而后雾化沉积在基片上,形 成3~10μm层,再用光刻腐蚀法形成电路。
金属细丝,直径约为0.01~0.05mm。常用材料有铜镍合金、捏铬
合金、铂、铂铬合金、铂钨合金等
要求电阻丝材料具有电阻温度系 电阻应变片的结构及分类 数小、温度稳定性良好、电阻率大等 应变片的分类 特性,同时,金属电阻丝的相对灵敏 纸基应变片:制造简单,便宜,易于粘贴。耐热性 系数要大,且能在相当大的应变范围 和耐潮性差。适合短期室内实验室使 内保持常数 。 丝质应变片
应力、应变电测法原理
电阻的相对变化量由两方面因素决定: 1)对于金属材料,电阻的变化主要由金属丝几何尺寸的改变引起; 电阻丝灵敏度系数(dR/R)/ ε 为(1+2μ )。 2)对于半导体材料,其工作原理基于半导体的压阻效应,材料受力 后, 材料的电阻率发生变化。其灵敏度系数为(dR/R)/ ε 为λ E。 用应变片测量应变或应力时,根据上述特点,在外力作用下, 被测对象产生微小机械变形,应变片随着发生相同的变化,同时应 变片电阻值也发生相应变化。当测得应变片电阻值变化量为ΔR时, 便可得到被测对象的应变值,根据应力与应变的关系,得到应力值
绝缘电阻
应变片绝缘电阻是指已粘贴的应变片的引线与被测件之间的 电阻值Rm。通常要求Rm在50~100 MΩ以上。绝缘电阻过低, 会造成应变片与试件之间漏电,使应变片的指示应变产生误差。 Rm取决于粘结剂及基底材料的种类及固化工艺。在常温使用条 件下要采取必要的防潮措施,而在中温或高温条件下,要注意选 取电绝缘性能良好的粘结剂和基底材料。
E
电阻应变片的特性及应用

应变片的主要参数
几何尺寸
1)基长l:应变片的敏感元件在纵轴方向的长度。在应变变化梯度 大的场合,应使用小基长的应变片,但基长很小时,横向灵敏度大。
2)基宽b :在与应变片纵轴垂直方向,应变片敏感元件外侧之间的 距离。基宽以较小为佳,但是太小会影响散热。
电阻应变片的特性及应用
应力、应变电测法原理

电阻应变效应
导体或半导体材料在外界力的作用下产生机械变形时,其电阻 值相应发生变化。这种现象称“应变效应”。 原始电阻值
L R A
受力拉伸后电阻值的变化
L L dR d dL 2 dA A A A
金属导线受拉变化图
dR dL d dA R L A
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