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复旦大学微电子考研试题882半导体器件原理

一.选择题15*6
1。

p+-n结耗尽层宽度主要取决于:B
A:p+区浓度B:n区的浓度C:p+区和n区的浓度
2。

二极管正向阈值电压Vf:b
A:随温度升高而升高B:随温度升高而下降C:不随温度变化
3。

p-n结隧穿电压比雪崩击穿电压:B
A:来得大B:来得小C:在同一数量级上
4。

双极型晶体管共基极连接:
A:只有电流放大作用B:既有电流放大作用又有电压放大作用C:无电流放大有电压放

5。

晶体管基区运输系数主要决定于:c
A:基区浓度B:基区电阻率和基区少子寿命C:基区宽度和基区少子扩散长度
6。

npn平面晶体管发射效率与发射区浓度关系;C
A:发射区浓度越高发射效率越高B:发射区电阻率越高发射率越高C:发射区浓度
不能太高否则发射率反而下降
7。

电子迁移率等于1500,400K温度下其扩散系数为:B
A:39B:52C:70
8。

题目给出mos结构的Qsc~ψs关系图,要求判断其衬底是什么型(n型,p 型,中性)
9.理想的mos结构C~V关系图与实际的C~V关系图的差别是:
A:只有p型时,向负方向平移一段距离B:n型时向正方向平移一段距离C:向负方
向平移一段距离,与类型无关
10.mos管"缓变沟道近似"是指:
A:垂直与沟道方向电场和沿沟道方向电场变化很慢B:沿沟道方向的电场变化很慢
C:沿沟道方向的电场很小
11.mos工作时的沟道夹断点电压Vdsat:
A:与栅电压Vgs无关B:在长沟道与短沟道是不同C:始终等于Vgs-Vt
12.nos管体电荷变化效应是指;
A:衬源偏压Vbs对阈值电压Vt的影响B:沟道耗尽层受栅压Vgs影响而对电流Ids影
响C:沟道耗尽层受栅压漏源电压Vds影响而对电流Ids影响
13.mos亚阈值电流的主要特征:
具体选项没记下,主要是电流随Vgs指数变化,当Vds大于3KT/q时电流与Vds关系不

14.nos管短沟道效应是指:
选项没有记下
15.控制cmos倒相管latch-up最有效的方法:
A:提高沟道电场B:等比率缩小器件C:增大衬底电阻
二.名词解析5*6
1.试说明迁移率的定义是什么?其量纲是什么?
2.试说明mos管沟道长度调变效应及其影响
3.试说明mos管有放大作用的基本原理
4.试说明mos管的频率特性和其基本参数的关系
5.试说明如何降低n沟道mos集成倒相器静态工作时的功耗
三.计算题1*30
有一个n沟道mos场效应管,衬底浓度Na=10^17(cm^-3),氧化层厚度Tox=5
0nm,氧化层中正电荷密度Nss=10^10(cm^-2),金属AL的功函数Wm=4.
2ev,硅的电子亲和势为4.05ev.试求该管的阈值电压Vt,它是什么型?在Vg=3
v,Vds=2v时,它工作在什么区?(注:其他的所有常数都没有给出)。

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