Ｌ Ｊｎ ｉｕ ，Ｍｉ ａ Ｈ ｉ ｏ ｅ
（ ｓｔｔ ｏＥｅｔ ｎｃ ｎｉｅｒ ｇＣｈ ａ ｃｄｍｙｏ Ｅ ｇ ｅｒ ｇＰ ｙｉ ，ＳｃｕｎＭｉ ｙｎ ， １０） Ｉ ｔｕｅ ｆ ｌ ｒ ｉＥ ｇ ｅ ｎ ， ｉ ａｅ ｆ ｎ ｎ ｅｎ ｈｓ ｓ ｉ ａ， ａ ａｇ６ ９０ ｎｉ ｃｏ ｎ ｉ ｎＡ ｉ ｉ ｃ ｈ ｎ ２
高的要求。制造者为了确保电子产品的可靠性，必须针对产品作一系列的可靠性试验，加速寿命试验是可靠性
试验中最普遍和重要的项 目。本文简要介绍加速寿命试验的各种模型和它们 的适用条件 ， 分析 各种加速寿命试
验的优缺点。基于加速寿命试验的基本原理，并根据电子产品的具体特点， 探讨了加速寿命试验它在电子产品
检验中的具体应用技术 。 关键词 ：可靠性 ；加速寿命试验 ；电子产品
中图分类号： ｙ ｅ ｅ ｔ ｏｎｉ ｏｄｕｃ ｓ ａ ｃ ｌ ｒ ｔ ｄ ｌｆ ｅ ｔ ｃ ｐｒ ｔ ｃ ｅ ｅ ａ ｅ ｉｅ ｔ ｓ
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．
Ｋ ｅ ｗｏ ｄ ： ｅ ａ ｉ ｔ ； ａ ｃ ｌｒｔｄ ｌ ｅｔｓ ；ｅｅ ｔ ｎ ｃ ｒ ｄ ｃ ｙ ｒ ｓ ｒ ｌ ｂｌ ｉ ｉ ｙ ｃ ｅｅ ａｅ ｆ ｅｔ ｌｃｒ ｉ ｏ ｕ ｔ ｉ ｏ ｐ ｓ
２ １１１ ｏ１ ．
Ｄｅ ｉ ＆ Ｒｅ ｅ ｒ ｈ ｓｇｎ ｓａｃ
０ 引言
加速寿命试验 是指采用加大应 力的方法促使样 品在 短期内失效 ， 以预测在正常工作条件或储 存条件下 的可靠 性， 但不改 变受试样 品的 失效分布 。加速寿 命试验 利用 Ｆ Ａ、￣ ［ Ａ等方法找 出可能 影响产品可靠性 的因素 ， ＭＥ Ｅ Ｃ 然提高其强度水准 ， 使产品在该条件下运作 ，将会加速失 效的发生 。进行 条件影响。
需确定应力等级 ， 如何来判断其应力等级是 否过大而导致 失效模式异常 。进行加速寿命试验 ，最重要的是如何选取 合适的加速 因子 。
１３ 加速寿命试验加 速模型 ．
（ Ａ ｒｅｉｓ １） ｒ ｎｕ 模型 ｈ
Ａｒｅｉ 模型广泛使用于加速的应力条件为温度 ， ｒ ｎｓ ｈ ｕ 该
模型表述如下 ： Ｌ ＝ Ａｅ Ｔ Ｅ Ｊ Ｋ
其 中， Ｌ为 某 寿 命特 征 ； Ａ为一 个 正 的常 数 ； Ｅ为
１ 加速 寿命试验
１１ ．加速寿命试验分 类
按照试验应力的加载方式 ， 加速寿命试验通常分为 叵 定应力试验 、 步进应力试验和序进应 力试验 ３ 种基本类型。 （） １ 恒定应力试验 其特 点 是对 产 品施 加 的 “ 荷 ”的 水平 保持 不 变 ， 负
ｒｌｂｌｙｔｓ ｎｔｅｐｏ ｕ ｔ ａ ｄ ｃｅ ｒｔｄｌｅｔｓ ｉ ｔｅｍｏｔ ｏ ｅａ ｉｔ ｅｔ ｏ ｈ ｒ ｄ ｃ ， ｎ ａｃｌ ａｅ ｆ ｅｔ ｓ ｈ ｓ ｃ ｍｍｏ ｎ ｏｔ ｔ ｒ ｅｔ Ｔ ｉ ｐｐ ｒ ｉ ｉ ｓ ｓ ｅ ｉ ｎａ ｄｉ ｒ ｎ ｏ ｃｓ ｈｓ ａ ｅ ｍｐ ａ ｐ ｊ ．
２１年 １ ０１ １月 薯 ’ 翔 １
电 子 测 试
Ｅ Ｅ ＲＯＮＩ Ｔ ｓＴ Ｌ ＣＴ Ｃ Ｅ
Ｎｏｖ １ ． １ Ｎｏ． １１
电子产 品加速寿命试验研 究
李军 ，缪海杰
（中国工程物理研究 院电子工程研究所 ，四川省绵阳市 ，６ １０ ２ ９０）
摘要 ：电子产品的使用者希望在 其工作寿命 内尽可能少发生甚至不发生故障 ， 这对 电子产品的可靠性提 出了较