XRF9－软件
样品运动控制 能谱获取系统 图谱处理系统
定性 能量及强度校准 定量方法建立（灵敏度、标准曲线） 输出文件版面格式设计
XRF9－软件
XRF9－软件
XRF9－安全设计
样品室与照射工作舱独立 样品室开关操作具备感应触点 射线光闸连锁控制 指示灯提示
XRF9－样品前处理
XRF7－便携X射线能谱仪
X能谱仪器的构成（小型便携）
XRF7技术指标
元素分析范围：铝(Al)～铀(U) 元素含量分析范围：1 ppm--99.99% 测量时间：<300秒 整机功率：40W 重量：1.7kg 测量对象：块状固体、液体、固体粉末 X射线辐射剂量<1μSv/h 重复性：RSD<4％
X射线
X射线与物质的相互作用
北京普析X射线分析仪器
两大类：
X射线衍射仪
多晶：XD2、XD3、XD6 单晶：无
X射线荧光分析仪
能谱色散：XRF7、XRF8、XRF9 波长色散：无
X射线能谱仪产品系列
XRF7
➢XRF7便携能量色散X射线荧光分析仪
XRF8
➢XRF8全反射X射线荧光分析仪
45kg AC 220V/5A，0~40℃，湿度<80%
XRF9－功能指标
测量时间：60～ 300s 测量对象：块状固体、固体粉末、液体 元素分析范围 ：Al～U 同时分析元素数量：30 含量分析范围 ：1ppm~99% 样品三维运动控制精度：1mm 样品监视镜头数量：3（俯视、侧视、放大） 样品台尺寸：400(L)×100(W)×100(H)mm
样品形态 粉状试样 液体样品
处理
不处理（装入容器中） 压力机加压成型 熔化、玻璃珠化
滤纸取样干燥
前处理装置
---------模块压机 玻璃珠试样制 作装置
干燥装置
块状样品 不处理（平坦处放置测定部位） -------------
有机体样 品
表面研磨、切削 硝化处理
研磨机 硝化装置
XRF9－应用领域
XRF9
➢XRF9能量色散X射线荧光分析仪
X射线荧光激发原理
X射线荧光激发原理
基本原理：
原子在受到X射线源照射作用时，某层轨道上飞 行的电子如果被X射线束打中，该电子会向更低能级 轨道发生跃迁，能级差造成的多余能量被释放出来， 以电磁波的形式发出。而这一高频电磁波的频率同样 在X波段上，因此它也是一种X射线，称X-荧光。
因为每种元素原子的电子能级是特征的，它受到 激发时产生的X-荧光也是特征的。 探测器根据不同 能量特征对所有收集的X荧光能量谱线进行甄别，并 根据荧光强度大小进行定量，这就是能谱仪分析的主 要理论依据。
X射线能谱分析应用特点
样品前处理简单（固体、粉末、薄片） 适用分析的元素范围广（一般Na～U） 多元素同时分析，检出限ppm级 分析快速，几分钟完成测试 耗材、附件及周边设备简单
塑料外壳、电路板等聚合物中Br、Cl、Pb、Hg、Cd测定 陶瓷、焊锡等其他样品的Cd、Pb、Hg、Br、Cr的测定 矿石、金属冶炼、铜阳极、铸铁、金银首饰、宝石鉴定 石油元素检测、各种催化剂、陶瓷材料 血液、体液、毛发、药品等微量元素分析 工业排放污水、土壤中重金属测量 水泥、钢材元素分析
XRF9－技术指标
项目 稳定性 重复性 激发功率 探测器分辨率 X射线辐射剂量
代表元素检出限（ppm，塑料基体）
代表元素检出限（ppm，铝基体）
主机重量 输入条件
指标 <3％ <5％ 50W 149eV <1μSv/h
Cr：5、Br：2 .5、Cd：4、Hg：4、Pb：5
Cr：8、Mn：3.5、Sr：3、Sn：6、Pb：4
全反射X射线能谱
全反射X射线能谱分析图谱示意
全反射X射线能谱
技术指标
多元素同时分析
从11号元素Na到92号元素U，一次同时分析近30种元素；
检出限低
最低绝对检出限：ng～pg级（ 10－9 ～ 10－11 g ） ； 最低相对检出限：ppb级；
样品用量少
可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜 样品等进行定性、定量分析，样品用量μL、μg级；
XRF9－结构
XRF9－原理框架
XRF9－台式X射线荧光能谱仪
先进的多光束可调节系统 高分辨率探测器 采用XYZ三维运动样品台 大型样品分析室 CCD摄像及自动定位系统 自动调节双层六通道滤光系统
XRF9－配置规格
高压电源：50kV/1mA（SPELLMAN进口） X光管：Ag靶（国产， Mo/W/Rh可选） 滤光片：6通道自动调节 样品台：120mm*120mm 三维运动控制 探测器：Si-PIN（AMPTEK进口） 信号处理系统： PX-4 （AMPTEK进口） 数据处理系统：XRF9 防护机柜：连锁防护
测量时间短
30秒～600秒
前处理简单，直接测量
粉末样品、悬浮液样品等有平面的样品都可直接进行分析；
使用功率小于0.5kW，安全可靠。
XRF7－应用领域
RoHS指令电子信息产品有害物质检测 环境保护行业（自来水、污水污泥等） 农业（土壤中元素的快速测定） 地矿、冶金 合金回收 考古以及材料行业 轻工、食品
XRF8 －全反射X射线荧光能谱仪
全反射X射线能谱
仪器的特点－与传统X射线能谱仪的区别
全反射X射线能谱
全反射X射线能谱分析图谱示意
X射线荧光与衍射分析仪器技术
北京普析通用仪器有限责任公司
提纲
X射线原理 仪器分类 能谱仪技术应用介绍 衍射仪技术应用介绍
X射线
1895年伦琴发现X射线。 X射线和可见光一样属于电磁辐射，但其波长比 可见光短得多，介于紫外线与射线之间，约为10–2到 102埃的范围 。X射线的频率大约是可见光的103倍， 所以它的光子能量比可见光的光子能量大得多，表现 出明显的粒子性。由于X射线具有波长短光子能量大 这个基本特性，所以，X射线光学 (几何光学和物理光 学) 虽然具有和普通光学一样的理论基础，但两者的 性质却有很大的区别，X射线与物质相互作用时产生 的效应和可见光迥然不同。