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误 差 在 标 准 值 的 ±1 ％ 范 围
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X射线的应 用范围
X射线定性分析基本原理： 布拉格方程： nλ=2dsinθ
当一束X射线照射到晶体上时，被电子所散射，向空间 辐射出与入射波同频率的电波，产生相干散射。这些散射 波之间的干涉作用，使得空间某些方向上的波相互叠加， 在这个方向上可以观测到衍射线。衍射线在空间分布的方 位和强度，与晶体结构密切相关。
X射线衍射原理及应用实例
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X射线衍射的基本原理
X射线物相分析方法实例
Hale Waihona Puke .X射线产生原理：
整个X射线光管处于真空状态。当阴极和阳极之间通以数十千伏的 高压电时，阴极灯丝产生的电子在电场的作用下被加速，并高速 射向阳极靶，电子与阳极靶碰撞，在阳极靶产生X射线。
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定性分析 定量分析 晶格常数. 晶粒尺寸 宏观应力
X射线衍射理论所要解决的中心问题是：依靠晶面间距 在衍射现象与晶体结构之间建立起定性和定量的关系。
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X射线物相分析实例
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目前市面上出售的伪劣面粉中的滑石粉的掺 加量通常在5％～40％之间。本实验以较难 检测的掺有5％滑石粉的面粉进行XRD分析 ，结果见图4。其中作为三强线的d值为 9.417、3.122、4.690。与ICDD滑石的X射线 衍射数据标准值吻合。此方法准确性好，可 用于面粉中滑石粉的鉴定。
实验表明，滑石粉与面粉的混和物进行X射线衍射分析，面粉影响滑石粉的准 确分析；滑石粉面粉经CCl4。初步分离面粉后可以鉴定滑石粉，但CCl4 是有毒 溶剂；灰化处理去除滑石粉中的面粉，但高温灰化，滑石粉的结构及其X射线 衍射特征线可能发生变化，影响其检测鉴定。因此，实验考察了滑石粉面粉的 灰化温度和灰化时间对X射线衍射特征线的影响，择加热温度分别为450℃、 550℃、600。C、650℃和700℃，加热时间分别为1 h、2 h、3 h、4 h和5 h。表2 ～4列出了不同温度和时间时滑石粉的X衍射特征三强线d值的变化。