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第一章混合集成电路的基片

热膨胀系数应与薄膜 的尽量相近,否则将导致热应 力。 一般用热膨胀系数α来定量 描述固体的热膨胀。热膨胀系 数随温度的变化不明显。在0~ 300℃范围内常用一个平均的热 膨胀系数表示。
2. 导热系数 在大功率电路中,基片的 导热系数K是选择基片的一 个主要指标。 电路温升的影响: ①膜材再结晶、氧化,甚 至熔化、蒸发 ②端头、膜、基片间的互扩 散、反应扩散、电化学腐蚀
表 Al2O3和BeO基板性能
性能 材 料 组成 热胀系数 热导率 体电阻率 介电常 介质损耗 密度 绝缘强度 最高使 抗弯强度 (×10-6) (J/cm°C ( .cm) Ω -4 (g/ ( 10 ) (kV/cm) 用温度 数 × 2 (25 C / ° (N/cm ) (25~ S)(25°C/ cm3) (1MHz) (1MHz) (°C) (60Hz) 800° C) 300°C) 500°C) 31360 32340 39200 58800 18620 7.5 7.7 8.1 8.2 8.5 0.167/ 0.109 0.200/ 0.126 0.293/ 0.145 0.335/ 0.167 0.264/ 0.117 8.5 9.3 9.7 9.8 6.8 5 3 1 1 2 >1014/ 9×109 >1015/ 3×1010 >1015/ 8×1012 >1015/ l×1012 >1017 5×1013 150 150 160 l500 1550 1750 1800 1800
99.5% Al2O3 陶瓷电性能优良,光洁度较高(细晶陶瓷, 未经研磨,粗糙度1 μm)。适于低损耗、高频电路应用, 是目前微波集成电路中应用最广泛的基板材料。 但99.5% Al2O3 基板烧结温度高,价格贵,与厚膜的结合 较差。厚膜可用85%和75%Al2O3瓷,成本较低。氧化铝基 板的一般尺寸精度为宽±1%、厚±10%、反翘0.1/25mm以 下。 2. BeO基片 最大特点是高热导率,在常温下为2.64J/cm·℃·s, 仅次于银、铜、金而与铝相近,约为氧化铝的10倍。 机械强度不如氧化铝,但体积电阻率大、介电常数小、 高频下损耗小,适于作高频、大功率电路基板。 氧化铍基板能与大多数厚膜浆料相容。但氧化铍粉末有 毒,材料价格较贵,限制了它的应用。
第一章 混合集成电路的基片
电子科技大学 微电子与固体电子学院 杨邦朝 2010.03.
第一节 混合集成电路对基片的要求
一、 基片的作用 基片在HIC中起承载膜式元件,互连线,支撑各种外贴元器件并 起着封装的绝缘体作用。此外, 基片还有散热作用。 二、HIC电路对基片的基本要求

良好的表面光洁度。 薄膜基片:<100nm 厚膜基片:<3μm 细线化→高的光洁度(光洁度与附着力关系)。 例:薄膜电容器。。。造成击穿。
3. 基片表面状态对混合集成电路的影响 1)对薄膜电阻器的影响:对基片的粗糙度就不很敏感, 但有一定影响。 粗糙度↑,方阻↑ 2)对薄膜电容器的影响: 对基片的表面缺陷敏感,在膜 薄处易于击穿。 3)对薄膜导电带的影响:细线条要求低的粗糙度。
二、基片的电气性能 1)体电阻率 玻璃从25到300℃,电阻率下降了7个数量级。许多 玻璃中含有一定数量的碱金属离子(Na+),玻璃中主 要是离子电导。右图的斜率是离子电导的激活能。 随着温度升高,碱金属离子 向负极运动加快,与电阻膜金 属发生电化学反应,把该处金 属“腐蚀”掉。玻璃基片的碱金属 离子向薄膜电容器中的迁移, 被认为是薄膜电容器早期失效 的原因之一。
四.金属基复合基板 1.不锈钢基复合基板
2.铝基绝缘基板和多层布线基板
第四节 基片的清洗
目的:去除表面污染,在薄膜淀积之前提供干净的基片, 保证薄膜具有良好的附着力和元件不受污染破坏。 基片的清洗方法主要有机械清洗和化学清洗。 机械清洗:擦拭,超声波清洗 化学清洗法:通过溶液中某些氧化物与有机污染物(如 脂肪类)产生化学反应,并生成可溶性化合物而达到去 污目的。 通常用丙酮、酒精去油脂,用酸去除金属离子。
(3)BN为填料的绝缘金属基片 为了提高基板的导热性,在环氧树脂中大量填入高热 导率的无机材料,如氮化硼,制成了一种导热性很好的 基板。适于大面积和高密度组装,应用于大功率电路。 3. 等离子体喷涂基片 等离子体喷涂基片是用等离子体喷涂技术在铝板上, 喷涂Al2O3层,再在 Al2O3 上喷涂铜导体图案,最后浸以 聚合物并固化。

化学稳定性好。耐酸、耐碱。基片本身的化学组份能保持长期稳
定性,不与膜反应,扩散小。
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表面电阻和体积电阻高。膜式元件之间的绝缘程度取 决于基片的表面电阻和体积电阻。(表面漏电) 机械强度高。耐受恶劣的机械应力。 热膨胀系数尽可能接近膜层材料的热膨胀系数,以减 少热应力、减少因形变导致的电阻改变等。 导热性好(特别是大功率混合集成电路和高密度组装 电路) 抗热冲击性好。能承受薄膜沉积、厚膜烧成过程的高 温(200-900℃),以及使用环境的高低温度变化。 无气孔、吸水性要接近于零(缩短抽真空时间,延长 薄膜器件的稳定性)。
2. 描述基片表面的几何特征参数 三个参数:粗糙度、波动度、平整度。 1)波动度:某一位置附近最 高点与最低点的距离,h2。 2)粗糙度:反映基片上从一 个点到另一个点的起伏,h1。
基片的粗糙度与波动度或平整度无直接关系; 多晶基片的粗糙度直接受晶粒大小的控制。 3)平整度 整个基片上最高点与最低点的距离h3称为平整度。 平整度对掩膜、光刻、印刷等工艺有直接影响。 一般用h3除以基片的长度来衡量基片的平整度,称为基 片的翘度。
92% 3.60 A12O3 96% 3.75 A1203 99.5% 3.90 A12O3 99.9% 3.96 A12O3 99.5% 2.95 BeO
4. 新型SiC基片 成分:α-SiC+0.1-3.5%BeO; 高导热,比BeO高,是铝的1.2倍,从热扩散系数,热 容量来考虑,传热性比铜还好; 体积电阻率比氧化铝低,介电常数则高很多,不适合高 频电路 热胀系数与硅几乎相同,很适合于组装大规模集成电路 芯片,不需要散热器,简化了结构; 缺点:厚膜浆料与氧化铝的不同,需特殊研制。
3.机械强度 基片应具有一定的机械强度,以承受电路、外贴 元器件,以及在封装、焊接时的机械应力和热应力 的冲击。 陶瓷比玻璃坚韧;且玻璃只能在远低于软化点的 温度下工作
4. 基片热学性质和力学性质对薄膜电阻器性能的影响 热膨胀系数失配对电阻膜的方阻和电阻温度系数均 能产生影响。 薄膜电阻材料的电阻温度系数与块状材料的电阻温 度系数TCR以及基片材料热膨胀系数和膜状材料热膨 胀系数之间满足以下关系: TCRf = TCR + 1.4( as—af )
三、加工条件对基片的要求
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平整度好,以便和掩膜贴紧; 外框尺寸公差小,以便套刻、套蒸、套印。 基板应与膜材料有很好的相容性,在物理、化学性能上与 膜材料相容。 成本低。至少要达到在大批量生产时能够接受的成本和价 格。 在微波电路中,对基片的介电常数和厚度等还有严格的要 求;在某些特殊应用对基片的绝缘强度,损耗角正切值、 密度、硬度、最高使用温度也有一定的要求。
2)陶瓷 一般温度下,陶瓷的电导主要是由某些缺陷、杂质等引 起的电子电导。多晶陶瓷中的气孔会使电阻率增加。基片 表面吸附的水汽有时会使基片的电阻率下降。
2) 介电特性 玻璃和陶瓷的介电常数一般在4~10之间。高频电路 中,小的介电常数和介质损耗往往作为选择基片的主要指 标。 玻璃中有活动性大的碱金属离子(1兆赫以下)。 陶瓷是一种良好的电介质,可用于10千兆赫以下。应 选用高铝瓷,因低铝瓷中含有较多的玻璃相。


陶瓷基板材料具有耐磨、耐热、绝缘、热膨胀系数小 等特点,但存在介电常数较大,烧结温度高等缺点,并 且成型工艺较为复杂。 高分子材料由于低熔点的限制,选择面不宽,但近几 年,改性后的高熔点高分子材料性能已能满足电子工业 的高速发展所需。另外,高分子基板较为便宜。 复合基板可以充分发挥各种材料的优势,应用前景十 分乐观。
3. AlN基片 热导率高,与BeO接近,且几乎不随温度升高而降低; 电性能优良,绝缘电阻高、介电常数低和介质损耗小; 抗弯强度大,硬度为氧化铝的一半,机械加工较容易; 具有低的介电常数和热膨胀系数,与硅片的很接近,有利 于组装大面积的集成电路芯片。 AlN在厚膜电路中可作大功率、高频电路的基板,还能用 于高密度、大功率微波电路和大规模厚膜集成电路。 缺点: 金属化厚膜与AlN基片之间难于形成牢固的结合, 需要研制匹配的浆料。
三、复合基片 由于陶瓷基片的加工性较差、介电常数较高、机械强 度不够、不易制成大面积,为了克服这些缺点,并适应 大功率的需要,开发了复合基片。 复合基片是指以金属为基底、上面覆盖绝缘层而构成 的一类基片。已开发并用于生产的复合基片有瓷釉金属 基片、有机材料-金属基片和等离子喷涂基片。 具有高热导率,而且加工性较陶瓷基片好得多,成本 也可降低。可制成大型基板,图形精度良好,基板的金 属芯增大电路间的固有电容量。 金属主要是钢板、铜板和铝板。
四、基片的化学稳定性 高温稳定性:厚膜在1000℃以内烧结,要求高温时性 能稳定。 化学腐蚀的稳定性:光刻、阳极氧化等,钽膜电路的 腐蚀液中含氢氟酸,所以不能采用玻璃基片、被釉陶瓷 基片。
基片的化学性质直接与元件的电气性能相关。 玻璃中的Na+与TaN反应,所以Na2O含量越多,电阻越不 稳定。
2. 有机材料-金属基片 (1)金属-聚合物厚膜基片(M-PTF) 在钢板、铝板等表面涂上环氧树脂、聚酰亚胺树脂,在压上 几十微米厚的铜箔。工作温度在200℃以下。可焊性良好。 (2)树脂绝缘金属基片(Insulated Metal Substrate-IMS) 在铝板上,用阳极氧化法形成几十微米厚的氧化铝膜,然后 在单面涂上环氧树脂或聚酰亚胺树脂层,再压上铜箔,并电 镀以镍层,便制成IMS基板。
高纯氧化铝、氧化铍和蓝宝石是优良的基片材料。
第三节 常用基片材料
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