EMC实验报告
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EMC 屏蔽效能的测试报告
一、实验原理：
1. GB12190-1990 高性能屏蔽室屏蔽效能的测量方法：
指测试过程中，除了与特定设施有关的频率之外，为考核屏蔽室屏蔽效能而选取的典型测试频率范围，分以下三个频段(见表1)。

表1
1）在20-300MHz 频段内由于天线尺寸和屏蔽室的谐振效应，使测量结果常常会因测试方法的微小变动产生极不正常的变化，所以在该频段内未推荐测试方法。

如确有必要侧试，本标准的小环法或频段II 测试方法可供参考。

2)侮个频段仅测一个频率点，用以粗略估计屏蔽室的屏蔽效能。

屏蔽效能的表示：
在频段I ，屏蔽效能由右式表示:SE=20log
1
2
E E
→
→
，
在频段II ，屏蔽效能由右式表示:SE=20log
1
2
H
H →
→
，
在频段III ，屏蔽效能根据指示器方式的用右式表示:SE=10log 1
2
P P 。

2. 测量的一般要求
一般要求
a.在正式侧量之前可对屏蔽室进行初测，找出性能差的门、接缝和安装不良的电源滤波器及通风孔，以便正式测量之前子以修补。

对于新建的屏蔽室，尤其有必要进行初测;
b.在测试之前，应把金属设备或带金属的设备搬走，如桌子、椅子、柜子和不用的仪器等;
c.屏蔽室的电源滤波器及室内电源线只给检测仪器及照明供电;
d.在测试中，所有的射频电缆、电源和其他平时要求进人屏蔽室的设施均应按正常位置放置;
e.电磁环境应满足GB 3907的要求，检测仪器本身应满足抗干扰要求，
f.为了不致发生生理危害，应采取专门的预防措施，这对频段Ⅲ的测量尤为重要;
9.测量中，对各种导线、电缆的进出口、门、观察口及板与板之间的接缝应特别注意;
h.有些测试方法要求在不同的位置、不同的极化条件下对某一结构要素作多次测量，
i.测试报告应记录可接近的屏蔽壁数目、受试屏蔽壁的数目，以及局部测试区的数目和位置。

3.测试用天线
本标准对不同频段的测试天线规定如下:
a.频段I:环形天线，
b.频段I:偶极子天线，
c.频段III:微波喇叭及其等效天线。

二、测试系统基本组成：
实验仪器：
表2
三、测试方法与要求
基本测量方法是将壁面划为若干较小的区域，逐个照射并进行测试。

发射天线与屏蔽室之间距离的选择应使小区域上受到的照射相当均匀。

3 cm波段源天线的波束应有近似50°的宽度，对于2.5m ×2.5m的区域能产生基本均匀的照射。

检测喇叭天线应与屏蔽室的邻近侧壁相距 1.3m，并位于受照壁及其对壁的中分面上。

检测天线辐射轴的初始位置应与发射天线的辐射轴共轴。

使所有的区域都受到测试。

测试时，发射天线先垂直极化，然后水平极化。

在测试单层连续板构成的屏蔽室时，对于发射天线的每一种极化应采用下列试程序:检测天线面对受照射的区域，在保持天线增益不变的条件下对该区域进行搜索，然后把极化平面转动90°，重复测试。

为减小屏蔽室内驻波效应对测试结果的影响，在每次测试过程中，检测天线的几何位置都应在各个方向上大致移动 /4的距离。

测试报告中，应记下每位置的最大透入场强或衰减器的读数。

在对多层板构成的屏蔽室的测试中。

如果屏蔽板层间距离是λ/4的奇数倍时，屏蔽效能最高，间距为λ/2的倍数时，屏蔽效能最低。

为检查这种与双层屏蔽壁间距尺寸有关的谐振特性，需要增加一项测试。

测试方法与对单层屏蔽板测试相同，不过应在测试中局部地连续改变屏蔽壁的层间距离。

方法是在被照内屏蔽壁的中央外附一根直径约l0mm长约lm的绝缘杆，在检测喇叭天线的每一个测试位置，通过垂直移动此绝缘杆改变屏蔽板层间距离。

对于两屏蔽壁层间距离不能变动的屏蔽室，则应选取比上述谐振频率增减5%的两个附加频率，按单层板屏蔽室测试方法重复测试。

应记录该项测量结果备查。

四、测试步骤
3.1屏蔽舱门的低频屏效测试（100Hz~1MHz）
3.1.1测试系统配置
频谱仪,低频信号源,环形天线等.
3.1.2测试方法：
step1：自由空间校准（低频磁场）,将环形天线与低频信号源连接，两个环形天线的距离根据GB/T12190-90,距离d=(60+t)cm,d1=30cm,d2=30cm. t指测试焊接板的厚度,本次实验焊接板厚度为10cm，取d=70cm.
Step2：打开低频信号源，调节低频信号源，使其输出频率为150000Hz，输出骚扰信号的功率为10dbm。

将环形天线水平放置，并记录频谱仪的接收频率；然后将环形天线垂直放置，再次记录频谱仪的接收频率。

Step3：用螺钉按上图把测试焊接板装在测试窗口，保持信号源频率和输出电平不变，记下接收机的读数P2(dBm)。

Step4：计算测试件的屏蔽效能SE= P1 -P2 (dBm)。

Step5：重复上述步骤可测得该焊接板在不同频率点的屏蔽效能。

3.3实验数据
表格3屏蔽舱门的低频屏效测试数据记录
3.1.3数据处理与数据计算:
屏蔽效能：SE=20log
1
2
E E
→
→
，SE=20log
1
2
H
H →
→
，SE=10log
1
2
P P ，带入屏蔽后的数据中最小的值作为屏蔽效能计算数值：取屏蔽后接收功率的最大值，计算屏蔽效能。

max P =-72.8，min SE =-41.37-（-72.8）=31.43（dbm ）.
取屏蔽后接收功率的平均值：ave P =-84.85，ave SE =-41.37-（-84.85）=43.48（dbm ）.
3.2屏蔽部件的微波段屏效测试(1.7~18GHz)
3.2.1测试系统配置：
喇叭天线，高频信号源，频谱仪。

3.2.2测试步骤：
Step1：将喇叭天线之间的距离调整为2.3m 距离，并对准，然后打开高频发射源发射11.5GHZ ，10dbm 的电磁波，记录此时频谱仪的数据，以进行空间校准。

Step2：将信号源关闭，在不改变发射天线与接收天线之间的距离，将屏蔽设备加入到喇叭天线之间，并发射与空间校准时相同频率和功率的信号，记录频谱仪的读数。

Step3：重复上述步骤，多次测量，并记录数据。

3.2.3数据处理：
对一种确定的方法应记录最小屏蔽效能和平均屏蔽效能。

平均屏蔽效能取决于平均幅值。

对于n 次测量，接收功率2P 的平均幅值按下式计算:
=2av =1
1P =201og{n k n
k ∑
按照上式计算得：
2
av
P =-47.35
铜网的屏蔽效能：
p S =-27.04--34.75=.(dbm)（）771
五、自动测试系统简介
注:根据GB/T12190-90,距离d=2.0m+w/2、d1=2.0m 、d2=w/2. w 指测试屏蔽室的宽度
六、实验体会
通过这次试验，对频谱仪的使用有了进一步的了解，学会识别高频、低频信号源，并使用不同的发射接收天线来测试高频、低频信号；信号在未发射时，频谱仪上就有数字显示，但是没有峰值，当接收信号时有峰值信号出现，频谱仪上显示的是接收和发射信号的阈值。

试验结束后结合课本的知识做进一步的巩固和思考。

手动设置参数
发射信号
接收信号
自动采
集数据
显示并记录测试结果。