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功能安全技术讲座第十八讲安全仪表系统中的共因失效
安全控制技术
[编者按] 本刊在2007~2008的两年间,在“安全控制技术”栏目共安排了12讲功能安全技术讲座,系统介 绍了功能安全的基本概念、方法与技术,并针对读者关心的一些问题进行了分析,得到广大读者的广泛关 注与积极回应。2009年,该讲座还将继续进行,主题将集中在安全相关子系统的功能安全评估与认证技术 上。本讲主讲人是刘瑶工程师。
例四,检修人员打开控制机柜门检查工作状 态,此时,对讲机传来另一处需要紧急检修的信息, 他回应“马上到”。由于机柜中容错系统的两个处理 器安装在同一机架中,这时它们受到同样的电磁干扰 因而发生故障。这两个处理器是安全仪表系统的一部 分,这就导致一个主要的过程单元立刻停止工作。究 其产生原因就是机柜门打开、对讲机传来的无线电信 息产生电磁干扰。
当共因失效不是严格地在同一时间内发生时, 可以借助多通道之间的比较方法采取预防措施。采用 这种比较方法可以在失效成为所有通道共有失效之前 检测出来。
一般情况下,实际分析过程中,共因失效分析 可分以下四个步骤进行:
1 )建立系统逻辑模型 要求对系统有一个基本的认识。需要考虑故障 模式、边界条件和逻辑模型等。 2 )识别共因事件组
自的印刷电路板上?
如果传感器/最终元件拥有专用的控制电子电路,那么每个通道的电子电路是否分别位于室
内各自的控制台内?
多样性与冗余
各通道是否使用不同的电子技术?例如使用一个电子电路、可编程电子及其他继电器。
7.0
各通道是否使用不同的电子技术?例如使用一个电子电路或其他可编程电子。
5.0
各传感器件是否使用不同的物理原理?例如压力、温度叶片式风速计及多普勒变换器等。
影响。主要包括敏感性分析和备选后续措施的选择等。 4 共因失效的量化方法。
λDD—检测到单一通道的失效概率,即在诊断测 试范围内单一通道的失效概率;此时,如果诊断测试
在GB 20438(IEC 61508)中介绍了一种在E/E/ 的重复率高,则有一部分失效将被揭露出来,从而导
PE系统中量化共因失效的方法。在两个或多个系统 并行操作时,采用一个共因失效因子β根据其中一个 系统的随即硬件失效估算共因失效率。此方法的应用 范围局限于硬件的共因失效。方法如下:
内部影响也是共因失效的一个主要原因,例如 相同部件以及它们的接口的设计缺陷,或者部分部件 的老化。
事实上,很多共因失效都是内外部因素共同作 用的结果。以下是几个共因失效的示例:
例一,某个冗余系统中,为保证可靠性使用了 两个元件使它们同时起作用,但系统所处环境忽然发
生地震,结果两元件都失效了。导致此次共因失效的 客观原因就是环境因素——地震,内部原因则是元件 本身的抗震性能不够。
λDUβ+λDDβD 式中:
利用经验数据选择所要使用的共因失效模型、 最小割集和参数估计等。
λDU—单一通道中未检测到的失效概率,即诊断 测试覆盖范围之外的失效概率。
4 )系统量化和结果的进一步解释
β—不可能检测到的危险故障的共因失效系数,
确定系统失效的可能性和共因失效对最终结果的 它等于在没有诊断测试时应用的总β系数。
例二,某输油站场中,出站处高压报警、高压 泄压、压力高高连锁保护停泵等保护措施共用一个压 力变送器。一旦压力变送器发生故障,上述三层保护 会同时失效,这就产生了共因失效,如果此时管内石 油压力过高则是相当危险的。其根本原因就是保护层 之间不独立,取压点未分开单独设立。
例三,为确保阀门关断时能切断管内流质,在 管道中串联安装了两个阀门。设计时这两个阀门均为 带电跳闸。若此设备附近发生火灾,则安全监控系统 一旦检测到这一情况后即给两个阀门上电,但是由于 两个阀门的电缆都铺设在同样的电缆槽上,而这个电 缆槽恰恰就在火灾区域,其后果是电缆被毁坏,两个 阀门都不能关闭。造成此次共因失效的根本原因是冗 余电缆的物理位置相同,外部因素是火灾,内部因素 则是设计缺陷。
16 仪器仪表标准化与计量 2009 . 6
安全控制技术
对 所 有 可 能 发 生 共 因 失 效 的 系 统 单 元 进 行 检 是在诊断测试覆盖范围之内的(总可以被检测到的)。
查。考察外部因素与内部影响,进一步确定共因失效
则危险共因失效引起的总失效概率为:
建模的先后次序。 3 )共因建模和数据分析
上面的几则示例分别从环境因素、设计缺陷、 电磁干扰等方面说明了共因失效的产生原因。 3 共因失效的分析方法
根据GB20438(IEC 61508),共因失效的分析 方法是:通用的质量控制;设计复审;由一个独立小 组进行的验证和测试;根据类似系统反馈的经验分析 实际的意外事故。然而此分析范围超出了硬件范围。 即使在一个冗余系统的各通道中使用软件多样化,还 是有可能在软件方法中存在一些共性,他们将引起共 因失效,例如共用的规范中的错误。
X、Y的确定方法如下:
λDβ。其中λD为各通道随机硬件危险失效的概率,β 为无诊断测试时的β系数,也就是影响所有通道的单 一通道的失效分数。
假设共因失效影响所有通道,并且与连续共因 失效的时间间隔相比,第一个通道被影响到所有通道
用户需确定系统中为避免共因失效应使用哪些 措施,然后根据表1分别求出每个逻辑子系统的XLS之 和、YLS之和,以及传感器和最终元件的XSF 之和、 YSF之和,求出它们的总和就可分别得出X、Y。
Z的值由表2、表3获得。
被影响之间的时间间隔较小。
5 如何降低共因失效概率
假设每一个通道中均执行诊断测试来检测和揭露
降低共因失效的方法主要有以下三类:
一部分失效,则可将所有失效分为两大类:一类是在诊
a)减少随机硬件失效和系统失效的总数(即减
断测试覆盖范围之外的(不可能被检测到的),另一类 少图1中两圆重合的部分)。
Chapter 18: The Common Cause Failure in the Safety Instrumented System 刘瑶
(机械工业仪器仪表综合技术经济研究所,北京市 100055) Liu Yao
(Instrumentation Technology & Economy Institute, P.R.China, Beijing 100055)
设备是否使用不同的电原理/设计方案?例如数字或模拟、不同的制造商(不重复标记)或
不同的技术
通道是否使用具有增强冗余的MooN结构?其中N>M+2
2.0 0.5
是否使用低多样性方法?例如使用同样的技术进行硬件诊断测试。
2.0 1.0
是否使用中等多样性方法?例如使用不同的技术进行硬件诊断测试。
3.0 1.5
共因失效产生的原因可能是环境因素,如火、 水、地震、电磁干扰、撞击等。同时,系统也可能受 与操作和维护有关的意外事故的影响,如运行期间的 组态错误或错误指令、人为的误开/关行为,维护期 间的升级错误和安装错误、维修程序错误、校准错误 以及更换设备错误等,它们都可能对冗余系统内的多 个部件造成影响。通常,冗余系统的所有部分都使用 同一个程序,这就存在发生共因失效的潜在可能性。 对此最根本的解决办法是,为操作和维护编写严格合 理的规程并使相关人员得到良好的培训。
致β即βD减小。 βD—可检测到危险故障的共因失效系数。当诊
断测试的重复率提高时,βD的值越来越小,并下降到 β之下。
考虑在多通道系统中的每一个通道中执行诊断 测试时,共因失效对该系统的效应。
在应用β系数模型时,危险的共因失效的概率为
β、βD均可从表4中获得:β计算公式为S =X +Y ; βD计算公式为 SD=X(Z+1)+Y。
表1 可编程电子或传感器和最终元件的评分[1]
项目
逻辑子系统
分离/隔开
XLS
YLS
在所有位பைடு நூலகம்,各通道的全部信号电缆布线是否都已分隔开?
1.5 1.5
逻辑子系统的所有通道的印刷电路板是否是单独的?
3.0 1.0
逻辑子系统通道是否在各自的框架中?
2.5 0.5
如果传感器/最终元件拥有专用的控制电子电路,那么每个通道的电子电路是否分别位于各
在设计活动中设计者在设计通道时相互间是否不进行交流?
1.0 1.0
在试运行期间,每个通道是否使用不同人员和不同测试方法?
1.0 0.5
在不同时间,由不同人员对每个通道是否进行维护?
2.5
传感器和
最终元件
XSF
YSF
1.0 2.0
2.5 1.5 2.5 0.5
安全仪表系统(SIS)是指用来实现一个或几个 仪表安全功能的仪表系统,它包括从传感器到最终 元件的所有部件和子系统。目前SIS正广泛应用于石 油、化工、电力等过程工业领域,用以监测生产过程
中的安全参量,以便在出现危险时及时采取有效措施 从而防止人身伤害、经济损失及环境影响。根据GB 21109(IEC 61511),SIS的其中一项设计要求就是 识别和考虑共因失效。在给保护层分配安全功能时,
主讲人简介: 刘瑶,女,工学学士,机械工业仪器仪表综合技术经济研究所功能
安全技术研发中心工程师,参与功能安全标准I E C 61508(G B/T 20438) 及I E C 61511(G B/T 21109)技术与应用研究、宣传和推广,功能安全 HAZOP+SIL工程项目技术辅助与支持。
第十八讲 安全仪表系统中的共因失效
仪器仪表标准化与计量 15 2009 . 6
Control Tech of Safety & Security
共因失效、共同模式失效和相关失效也是需要考虑的 内容。下面将详细介绍共因失效。 1 共因失效的定义
共同原因失效(common cause failure)是指由一 个或多个事件引起一个多通道系统中的两个或多个分 离通道失效,从而导致系统失效的一种失效。它是一 种相关失效。相对应的,在GB 21109(IEC 61511) 中,还有一个词即共同模式失效(common mode failure)与它相似但不完全相同,共同模式失效是指 两个或多个通道以同样的方式引起相同的误差结果的 失效。在此特别提请注意的是,共因失效是指多个通 道失效的原因(即引发事件)相同,但它们造成的误 差结果未必相同;而共模失效是说多个通道失效的方 式相同,而且引起的结果亦相同。