文件名称 可靠性测试标准文件编号 QZ/LCT-ZC09-2007 版本 V6.3 正气 进取 专业发布日期 2011-05-05 主控部门 综合测试部意见签名/日期拟制：综合测试部 同意李强斌 2011.05.03审核：质量管理部 同意 姚凤贤 2011.05.03审核：质量策划部 同意 沈 平 2011.05.03审核：第一产品事业部 同意 黄承梁 2011.05.03审核：第二产品事业部 同意 常玉柱 2011.05.03审核：三旗通信 同意 李志虎 2011.05.03审核：国际业务事业部 同意 朱明里 2011.05.03批准：产品质量总监 同意 王一昌 2011.05.03文件说明质量中心-综合测试部可靠性实验室负责实施。

版本号 修改时间 修改人 修改原因 修改主要内容V1.0 2005.09.05 刘利 新建V2.0 2006.01.17 刘利 更新 软压由50kg改为40kg；滑盖测试后拆机测试FPC电阻V3.0 2006.04.04 刘利 更新 增加高频振动、沙尘、滚筒跌落、酒精摩擦、铅笔硬度、胶塞拉力、和存储卡拆装等测试V4.0 2006.05.30 吴小弟 更新 触摸屏划线次数由100000次（反复一个来回记为一次）改为100000次（反复一个来回记为2次）V4.1 2006.06.26 吴小弟 更新 1.需测RF参数的测试项取消，综测仪设备不要2.中试阶段测试，由工程部提出申请改为由中试部提出申请3.增加包装振动测试和包装跌落测试项目V4.2 2006.08.30 吴小弟 更新增加触感键寿命测试项目V5.0 2006.09.10 吴小弟 更新 1. 增加高低温运行中、恒温恒湿，跌落、高频振动、温度冲击、软压、滚筒跌落、重复跌落、扭曲测试前后进行RF参数测试；2. 增加扭曲和冲击测试项目，增加5.2.4微动开关的寿命测试；3. 5.3.2.6中增加橡胶漆塑胶件和钢片材料的摩擦条件；4. 环境测试（与温度及湿度相关的测试）后，手机在常温下 统一放置1~2小时后进行外观、结构、功能的检验；5.增加7不良等级分类细则；V6.0 2007.03.29 吴小弟 更新 1． 低温储存：5.1.1.2测试条件中的持续时间由48hrs改为24hrs；温度由-30℃改为-40℃；2. 高温储存：5.1.5.2测试条件中的持续时间由48hrs改为24hrs；3. 冲击：5.1.3.2 测试条件：脉冲持续时间6ms改为18ms ；5. 砂尘试验：5.1.14.2测试条件中的持续时间3hrs改为8hrs；6. 充电器插拔：5.2.7.2测试条件：充电器、耳机和数据线插拔各为2000次；7. 耳机插拔：5.2.5.2测试条件：5000次改为2000次；8.SIM 卡插拔： 5.2.9.2测试条件：2500次改为1000次；9.储存卡拆装：5.2.10.2测试条件：3000次改为2000次；V6.1 2008.11.18 陈贯中 更新 高低温储存：时间由24h，改为16h冲击：条件改为加速度25g，脉冲6ms，每个轴的冲击次数改为1000次冲击/恒温恒湿/温度冲击/自由跌落的测试 样机数目：改为8pcs自由跌落：高度统一为1.2m，跌落面为混凝土板面盐雾的试验条件变更为：共三个喷雾周期，每次喷雾2h，每次喷雾后有一个为期22h的湿热储存周期。

储存条件为(40±2)℃,相对湿度为90％～95％翻盖标准：由5W次更新为8W次滑盖标准：由5W次更新为8W次按键寿命：由10W次改为20W次微动开关（hold键）寿命：由1W次改为2W次充电器插拔测试条件改为：3合一的充电器，充电器插拔2000次，数据线和耳机各1500次，共5000次电池盖拆装：由1000次改为500次存储卡拆装：由2000次改为500次SIM 卡拆装：由1000次改为500次触摸屏点击测试：测试速率由2次/S，改为1次/S五向键寿命：由3W次改为5W次重复跌落：跌落高度统一为8cm，跌落次数由20000次改为10000次摩擦测试：棱摩擦标准由150圈改为100圈；橡胶漆测试标准由140圈改为70圈百格：胶带的粘贴次数由2次改为3次铅笔硬度：载荷由1Kg改为0.5Kg滚筒：测试次数由1000次改为500次软压：测试标准由3000次改为2000次扭曲：测试标准由1000次改为500次增加人工汗液测试项V6.2 2010.06.07 程雷 更新 1. 增加包装重量和跌落高度的对应关系表2. 增加包装跌落测试手法,包括跌落棱/角/面的规定盐雾实验的样机测试后干燥条件改为:用吹风机吹干表面残留液体后放置与通风干燥处干燥48H修正笔误：4.1温度冲击测试（P10）: 一处写12cycles，一处写循环4次，前后不一致4.2滑盖寿命测试（P15）： 以40～45次/分的速率滑盖5万次 ＝> 应该是8万次4.3五向键寿命测试（P23）: 40000万次、50000万次 两处笔误4.4 冲击测试（P7）：脉冲持续时间18ms＝> 应该是6msX,Y,Z六个轴向＝> 应该是X,Y,Z三个轴向4.5 人工汗测试（P14）：PH值=8.5＝> 应该是PH值=10.8电池/电池盖拆装：由500次改为2000次增加低频振动测试：位移参数量：5mm取消5.4其它测试（电池充放电测试和电池内阻测试）8.壳体可靠性项目(5.3.2 5.3.3和5.3.7)取消测试条件及方法，增添指向壳体可靠性测试规范（QZ/LCT-ZC16-2009）V6.3 2011.04.14 陈贯中 更新 1.自由跌落测试增加四个角的定向跌落2.挂绳孔拉力测试中增加对拉断挂绳孔的要求3.增加USB推力测试4.增加USB外部逆插要求5.增加按键拉拔力测试6.增加高低温充电测试7.SIM卡寿命测试由500增加到20008.存储卡寿命测试由500增加到20009.重复跌落测试中增加侧面和顶部、底部的测试10.人工汗液测试中增加酸性汗液的配方和测试（PH=4.7）11.手写笔插拔测试增加对伸缩性手写笔的要求12.增加Mic和Receiver的寿命测试13.增加天线插拔测试14.增加天线弯折测试15.增加手写笔（天线）的拉力测试16.增加加严测试项序列（可选测试项）17.增加整机智能机测试项序列18.增加完整可靠性测试项目归类目 录1、目的 (9)2、适用范围 (9)3、定义 (9)4、职责 (9)5、 可靠性试验测试方法和判定标准 (9)5.1 环境试验 (9)5.1.1 低温储存测试 (9)5.1.2 低温运行测试 (10)5.1.3冲击测试 (11)5.1.4低频振动测试 (11)5.1.5高温储存测试 (12)5.1.6高温运行测试 (12)5.1.7恒温恒湿测试 (13)5.1.8 温度冲击测试 (14)5.1.9跌落测试 (14)5.1.10 ESD测试 (15)5.1.11盐雾测试 (16)5.1.12 metal dome手感测试 (17)5.1.13高频振动测试 (17)5.1.14砂尘试验 (18)5.1.15人工汗液测试 (18)5.2寿命试验 (19)5.2.1翻盖寿命测试 (19)5.2.2滑盖寿命测试 (19)5.2.3按键/侧键测试 (20)5.2.4微动开关（hold键等）寿命测试 (21)5.2.5耳机（单功能）插拔测试 (21)5.2.6笔插拔测试 (22)5.2.7充电器插拔测试 (22)5.2.8电池/电池盖拆装测试 (23)5.2.9 SIM Card 拆装测试 (23)5.2.10存储卡拆装测试 (24)5.2.11 speaker寿命测试 (24)5.2.12振动器寿命测试 (24)5.2.13摄像头翻转测试 (25)5.2.14待机时间测试 (25)5.2.15开关机键寿命测试 (25)5.2.16触摸屏点击测试 (26)5.2.17触摸屏划线测试 (26)5.2.18 EL背光寿命测试 (27)5.2.19 LED指示灯寿命测试 (27)5.2.20五向键寿命测试 (27)5.3机械测试 (28)5.3.1重复跌落测试 (28)5.3.2 纸带磨擦（RCA） (29)5.3.3附着力（百格）测试 (29)5.3.4胶塞拉力测试 (29)5.3.5堵头按压测试 (29)5.3.6酒精摩擦 (29)5.3.7铅笔硬度测试 (30)5.3.8手机抗压测试 (30)5.3.9挂绳孔拉力测试 (30)5.3.10螺钉测试（ScrewTest） (31)5.3.11滚筒跌落测试 (31)5.3.12软压测试 (32)5.3.13扭曲测试 (33)5.3.14钢球跌落测试 (33)5.3.15包装振动测试 (34)5.3.16包装跌落测试 (34)5.3.17触感键寿命测试 (35)5.3.18 USB推力测试 (36)5.3.19 USB外部逆插 (36)5.3.20 按键拉拔 (36)5.3.21 高低温充电 (37)5.3.22 Mic和Receiver的寿命测试 (37)5.3.23 天线插拔测试 (37)5.3.24 天线弯折测试 (38)5.3.25手写笔（天线）拉力测试 (38)6、 特殊加严测试序列（可选测试项，建议亚热带区域产品必做） (39)6.1 长周期湿热存储 (39)6.2翻/滑盖（湿热环境） (40)6.3 软压（湿热环境） (40)6.4 Speaker寿命（高温环境） (41)7.整机智能机测试序列 (41)7.1 振动摩擦 (41)7.2 硬压 (41)7.3 LCM挤压 (42)7.4 结露测试 (42)7.5 触摸屏点击（电容屏） (43)7.6 触摸屏划线（电容屏） (43)7.7 盐雾测试（电容屏） (44)7.8 高温高湿（电容屏） (44)7.9铅笔硬度（电容屏） (44)7.10 Lens耐摩（电容屏） (45)7.11 水雾干扰测试(电容屏) (45)7.12 低温运行（电容屏） (45)8、可靠性测试实施计划 (46)9、不良等级分类细则： (54)10、相关/支持性文件 (58)11、质量记录 (58)1、目的为保证龙旗控股份设计、委托制造的手机及相关产品品质符合国家、行业、企业可靠性标准要求，特制定此文件；2、适用范围本文件适用于龙旗控股设计、委托制造、采购的手机及相关产品（零部件）在研发、中试、量产阶段的可靠性试验，由综合测试部负责实施；3、定义无4、职责4.1 可靠性测试工程师4.1.1研发阶段可靠性测试；4.1.2中试阶段可靠性测试；4.1.3参加可靠性分析会；4.1.4可靠性测试报告；4.1.5维护可靠性试验室；4.2可靠性测试技术员4.2.1拟定可靠性测试计划；4.2.2研发可靠性测试；4.2.3中试可靠性测试；5、 可靠性试验测试方法和判定标准5.1 环境试验在做温度冲击、跌落、恒温恒湿、低温运行、高温运行、高频振动、软压、滚筒跌落、重复跌落、冲击和扭曲测试前的手机先进行常温下的RF参数测试；5.1.1 低温储存测试5.1.1.1测试目的：手机低温环境下的适应性；5.1.1.2测试条件：温度：-40℃±2℃、持续时间：16hrs；5.1.1.3测试数量：4pcs；5.1.1.4测试设备：高低温箱；5.1.1.5测试前检查项目：对手机进行全面外观、结构、功能检测；5.1.1.6 测试方法：a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；b. 一半手机带满电电池，不插卡，设置为关机状态；一半手机不放电池，放入高低温箱内，手机间的间距大于等于10cm，调节温度控制器到-40℃；c. 持续16个小时之后，在常温下放置1~2小时，然后进行外观、结构、功能检查；d. 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算；e. 对于翻盖手机，应将一半样品闭合为初始状态，一半样品打开到使用状态；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置；5.1.1.7检验标准：手机外观，结构，功能无异常；a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 结构检查：装饰件，logo，LENS等无开胶以及其它与测试前状态不一致的现象；c. 外观检查：壳体表面无裂纹以及其它与测试前状态不一致的现象；d. 样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；5.1.2 低温运行测试5.1.2.1测试目的：验证样机低温环境下的工作性能及传导的射频性能；5.1.2.2测试条件：温度：-20℃±2℃；持续时间：4hrs；5.1.2.3测试数量：4pcs （试验中RF测试2pcs）；5.1.2.4测试设备：高低温箱，CMU200/CMD55，延长射频线，稳压电源等；5.1.2.5测试前检查项目：对手机进行全面外观、结构、功能、RF参数检测；a. 功能测试：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能及不同信道、不同功率等级下的射频参数；b. 结构测试：壳体配合，结构件配合，天线，Lens，显示屏，装饰件以及其它未描述到的结构；c. 外观检测：喷漆，印刷，电镀等以及未描述到的外观；5.1.2.6测试方法a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；b. 手机带满电电池并插卡（测试RF参数时取下SIM Card），设置为开机状态后，放入高低温箱内，手机间的距离大于等于10cm，调节温度控制器到-20℃，并将所测样机同CMU200/CMD55和电源连接好；c. 持续1小时后，使用稳压电源给待测手机供电，用延长射频线与CMU200/CMD55连接并进行通话，在电压设置为3.6V和4.2V的情况下进行RF参数测试；并保存测试数据（测试方法：参照第一事业部整机射频指标测试规范）；d. 持续4个小时之后，在常温下放置1~2小时，然后进行外观、结构、功能检查；e. 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算；f. 对于翻盖手机，应将一半样品闭合为初始状态，一半样品打开到使用状态；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置；5.1.2.7检验标准：手机外观，结构，功能无异常；RF参数指标符合要求；a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 结构检查：结构无异常（壳体无变形、配合缝隙无变大；转轴无松动或变紧，无异常手感等）以及其它与测试前状态不一致的现象；c. 外观检查：样品外观无异常（表面喷漆、电镀无裂纹等）以及其它与测试前状态不一致的现象；d. 样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；e. RF参数符合规格要求（参考整机射频指标测试规范（TDMA制式）；5.1.3冲击测试5.1.3.1 测试目的：用于验证手机的抗冲击性能及射频参数指标；5.1.3.2 测试条件：加速度25g，脉冲持续时间6 ms ；波形: ½ 正弦波；X、Y、Z三个轴向各冲击1000次；5.1.3.3 测试数量：8pcs（试验后RF测试2pcs）；5.1.3.4测试设备：电动振动系统；5.1.3.5测试前检查项目：对手机进行全面外观、结构、功能和及不同功率等级、不同信道的射频参数；5.1.3.6测试方法：a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；b. 将手机装上带满电电池，插上测试卡，设置为开机状态后，固定在振动台上夹紧；参数设置：加速度25 g，脉冲持续时间 6 ms ；波形: ½ 正弦波；启动振动系统，X、Y、Z六个轴向各冲击1000次，每个轴向冲击后都要对手机进行外观、结构、功能检查；c. 所有检查完成后，使用稳压电源给待测手机供电，用射频线与CMU/CMD连接并进行通话，在电压设置为3.8V的情况下进行RF参数测试（测试方法：参照第一事业部整机射频指标测试规范）；5.1.3.7检验标准：外观、功能、结构正常；RF参数指标符合要求；a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；b. 结构检查：无零件松动、脱落，晃动无异常以及其它与测试前状态不一致的现象；c. 外观检查：外观无异常；d. 内存检查：样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；e. RF参数符合规格要求（参考整机射频指标测试规范（TDMA制式））；5.1.4低频振动测试5.1.4.1测试目的：用于验证手机的抗振性能；5.1.4.2测试条件：5~20Hz，位移：5mm，X、Y、Z三个轴各1h；5.1.4.3测试数量：8pcs；5.1.4.4测试设备：电动振动系统；5.1.4.5测试前检查项目：对手机进行全面外观、结构、功能检测；5.1.4.6测试方法：a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；b. 将手机装上带满电电池，插上测试卡，设置为开机状态后，固定在振动台上夹紧。