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微电子计算例题ppt课件


4 5 108
3 3.21022 个原子/cm3
说明:以上计算的原子体密度代表了大多数 材料的密度数量级
例题2: 计算硅原子的体密度,其晶格常数为 a 5.43A
8 5.43108
3 51022 个原子/cm3
特定原子面密度 例题3:
2 a 2a
2
2 5 108
2
5.661014 个原子/cm2
说明:不同晶面的面密度是不同的
2. 波粒二象性
例题4:
计算对应某一粒子波长的光子能量
已知波长 633nm
能量为
E h hc
6.6251034 2.9979108 632.8109
3.13861019 J
换算为更为常见的电子伏形式
3.1386 1019 E 1.61019 1.96ev
半导体器件基础
例题
1. 基本的晶体结构
(a)简立方 (b)体心立方 (c)面心立方
1 个原子 2 个原子 4 个原子
例题1:
计算简立方、体心立方和面立方单晶的原 子体密度,晶格常数为 a 5A
1 5 108
3 0.81022 个原子/cm3
2 5 108
3 1.61022 个原子/cm3
设费米能级位于价带上方0.3eV处,Eg=1.42eV
n0
Nc
exp
Ec EF
kT
4.7 1017
exp
1.12 0.0259ຫໍສະໝຸດ 0.0779cm3p0
Nv
exp
Ev EF
kT
7.0 1018
exp
0.3 0.0259
6.531013 cm3
说明:此半导体为 n 型半导体
0.25 0.0259
1.81015 cm3
说明:某个能级被占据的概率非常小,但是 因为有大量能级存在,存在大的电子浓度值 是合理的。
例题11:
计算T=400K 时硅中的热平衡空穴浓度
设费米能级位于价带上方0.27eV处,T=300K时硅 中有效价带状态密度值为 Nv 1.041019 cm3
设费米能级位于导带下方0.25eV处,T=300K时硅中有效
导带状态密度值为 Nc 2.81019 cm3
f
(E)
1
1
exp
Ec
EF kT
exp
Ec EF
kT
exp
0.25 0.0259
6.43105
得到电子浓度为:
n0
Nc
exp
Ec EF
kT
2.8 1019
exp
5. 载流子浓度
本征半导体中
n0
Nc
exp
Ec EF
kT
p0
Nv
exp
EFv EEFv
kT
有效状态密度
Nc
2
2 mnkT
h2
3/ 2
,
Nv
2
2 mpkT
h2
3/ 2
电子和空穴的有效质量
mn mp
说明:T=300K时,有效状态密度数量级在10的19次方
例题10:
求导带中某个状态被电子占据的概率,并 计算T=300K 时硅中的热平衡电子浓度
Nv
2
2 mpkT
h2
3/ 2
Nvv 11.0.04411010919 3400340000003/23/21.610.60101910c1m9 c3m3
kT
0.0259
400 300
0.03453ev
得到空穴浓度为:
p0
Nv
exp
Ev EF
kT
1.60 1019
exp
基本概念
均匀半导体
由同一种材料组成,而且掺杂均匀的半导体。 例如:纯净的(本征)硅,杂质均匀分布的硅。
非均匀半导体
成份不同,或掺杂不均匀的半导体材料。 例如:纯净的(本征)硅,杂质均匀分布的硅。
平衡状态:热平衡状态,没有外界影响(如电压、电场、磁场 或者温度梯度等)作用于半导体上的状态。 在这种状态下,材料的所有特性与时间无关。
例题5: 计算一个粒子的德布罗意波长
已知电子的运动速度为 v 107 cm / s 105 m / s 电子动量为
p mv 9.111031 105 9.111026 kg m / s
德布罗意波长
h p
6.625 1034 9.111026
7.27 109 m
72.7
o
A
说明:典型电子的德布罗意波长的数量级
基本概念
元素半导体
由一种元素组成的半导体。
化合物半导体
基本概念
非简并半导体 简并半导体
基本概念
非简并半导体 简并半导体
3. 能级
例题6:
计算无限深势阱中电子的前三能级,势阱的宽 度为 a 5A
说明:从计算中可以看到束缚态电子能量数量级
4. 费米能级
例题7: 费米能级被电子占据的概率
f (E)
1
1
1
exp
E
EF kT
1
exp
EF EF kT
50%
说明:温度高于绝对零度时,费米能级量子 态被电子占据的概率为50%.
n0
Nc
exp
Ec EF
kT
2.8 1019
exp
0.22 0.0259
5.731015 cm3
p0
Nv
exp
Ev
EF kT
1.04 1019
exp
0.90 0.0259
8.43103 cm3
说明:此半导体为 n 型半导体
例题12’:
计算 T=300K 时砷化镓中的热平衡电子和 空穴浓度。 Nc 4.7 1017 cm3 Nv 7.01018 cm3
例题8:
令T=300K,试计算比费米能级高3kT的能 级被电子占据的概率
f (E)
1
1
1
exp
E
EF kT
1
exp
3KT kT
4.74%
说明:比费米能级高的能量中,量子态被电 子占据的概率远小于1.
例题9:
令 T=300K,费米能级比导带低 0.2 eV。求 (a)Ec 处电子占据概率; (b)Ec+kT 处电子占据概率.
0.27 0.03453
6.43
1015
cm3
说明:任意温度下的该参数值,都能利用 T=300K 时 Nv 的取值及对应温度的依赖关系求 出
例题12:
计算 T=300K 时硅中的热平衡电子和空穴
浓度
Nc 2.81019 cm3
Nv 1.04 1019 cm3
设费米能级位于导带下方0.22eV处,Eg=1.12eV
k 1.381023 J / K
kT 1.381023 300 4.141021 J 0.0259eV
fF
(E)
1
exp
1
E
EF kT
1
exp
1
0.2 0.0259
4.43104
fF
(E)
1
exp
1
E
EF kT
1
exp
1
0.0259 0.2 0.0259
1.6104
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