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白光干涉仪工作原理
白光干涉仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是
以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式
扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反
映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。

白光干涉仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、
光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、国防
军工、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从
纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据ISO/ASME/EUR/GBT
四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。

白光干涉仪工作原理
白光扫描干涉测量法是一种非接触的测量方式，通过干涉条纹，来比较样品测试表面跟
理想参考面的偏差。
白光干涉扫描对于测量粗糙，不连续表面很有帮助。因为白光扫描的测试结果是基十每
个像素点上的光强信号单独分析，其结果是基于绝对物理高度的结果。单波长激光干涉系统
在测量粗糙样品时，就没有这样的优点，移相法在处理每个像素的数据时候会结合邻近像素
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相位结果，并且得到的原始结果是基十相位的而不是物理距离。这使在测量处理粗糙样品表
而的数据时候，白光干涉扫描具有很大优势，能测量粗糙或者有台阶跳跃结构的表而；而在
测量光滑样品表面时，单色光移相法则相对具有速度快的优势。

正如上图所示，每条信号线代表了每个像素在扫描过程中光强信号的变化。
·每条信号线包络的峰值即为这个像素的完美等光程点。
·每个像素点的物理绝对高度都是以这个等光程点为参考的。
·如图把等光程点连接起来就形成了样品表而的而形。