智能卡测试系统技术指标
智能卡测试系统包含非接触式智能卡测试模块、接触式智能卡测试模块和接触式智能卡协议分析模块。
非接触式智能卡测试模块
技术指标要求
自动化测试
平台提供基于可二次开发的测试环境，提供测试过程底层数据和命令的自动解析和图形化显示功能，基于ISO14443协议的测试环境，操作系统为Windows XP sp3, Vistal, Win7.
测试环境支持USB、TCP/IP、RS232三种通信接口，操作系统为Windows，以达到良好的驱动兼容性
测试平台的开放性决定它可集成到客户自己的测试平台可以与其他接触式卡及读卡器测试套件同步运用
主要功能要求模拟非接触式卡片测试仪，支持ISO14443的Type A, Type B, T=CL 协议以及防碰撞，支持数据速率为106, 212, 424, 828kbps
支持Innovatron协议
支持ISO/IEC15693协议，可选数据速率有高速和低速，采用的编码模式为1-4和1-256字节.
支持Mifare协议，支持的类型有classic，light，Ultra light，Ultra light C
支持FeliCa协议，支持的数据速率为212-424kbps
支持NFC测试，遵守NFC Forum规范，支持的测试传输模式为：tag 模式（tag1-tag4），读写模式，对等模式。
支持的数据传输速率为106,212,和424kbps
底层数据扑捉和解析
即使没有任何协议封装的数据也可以展示其底层交换帧
可编程参物理参数
磁场强度可调
调幅指数，从0%-100%
数场强上升时间，0-5ms
载波频率，12.56MHz-14.56MHz
调制的上升或下降时间，0-10us
逻辑参数
Type A的暂停时间范围，0-4.4ms
帧等待时间ETU可调
Type B的帧时钟周期可调
传输速度为106, 212, 424, 848kbps
可进行的测试电气测试
可进行共振频率的测试其范围为11-24MHz
可进行芯片阻抗测试，在13.56MHz的条件下实际测量
可进行磁场测量其范围为0-8A/m
可进行EMD测试
逻辑测试
自动测试
其分为以下几部分：
发送Type A的指令，等待处理判断，发送Type B的指令并接收应答（对于Type B卡）;
发送Type B的指令，等待处理判断，发送Type A的指令等待应答（对于Type A卡）
转换磁场，等待判断，发送（A或B的指令），接收应答
发送请求，等待，发送请求，接收应答
防撕裂
PICC重置表征
监测最小的FDT
逻辑测试
通过API控制测试
响应时间的测量（FDT, TR0，TR1）
发送的标准帧
发送畸形的块（错误的比特数）
距离的模拟检测
分离RX通道允许通信使用射频放大器
传统调制比率可测
触发器测试仪提供多种触发器，同步的或由外部实验设备进行同步
软件开发
可用元素, 库，通信Dll
支持的开发语言：C, C++, VB, .NET 等任何支持Dll的开发语言。
接触式智能卡测试模块
技术指标要求
自动化测试
平台提供基于可二次开发的测试环境，提供测试过程底层数据和命令的自动解析和图形化显示功能，基于ISO7816协议的测试环境，操作系统为Windows XP sp3, Vistal, Win7.
测试环境支持USB、TCP/IP、RS232三种接口，操作系统为Windows，以达到良好的通讯兼容性
可二次开发的测试平台，可集成到客户自己的测试平台
可以与其他非接触式卡及读卡器测试设备同步运用
主要功能要求支持协议ISO7816-3，T=0和T=1协议
MicroSmart技术实现硬件加速传输和接收的字符
支持USB 2.0, ISO/IEC 7816-12大批量存储以及自定义的协议
支持SWP协议，满足规范ETSI TS 102 613和TS 102 622，支持SWP，HCI层
同步芯片存储晶体
可用的库包括T2G, Eurochip, SLE4442, SLE4407, AT24CXX
可实现自定义协议的开发
可实现硬件加速
支持底层数据扑捉和解析
即使没有任何协议封装的数据也可以展示其底层交换帧
可编程参
数物理参数：
电压
VCC支持范围：0-10V
Vol支持范围：0-5V，其在每一个触点上的值都可独立调整Voh支持范围：1-7V，其在每一个触点上的值都可独立调整Vil支持范围0.2-5V
Vih支持范围1-6.8V
频率
ISO7816时钟频率的范围：10KHz-20MHz
ISO7816时钟占空比为30%-70%
信号的上升和下降时间
触点VCC范围为20ns-1.8V/ms
触点c2，c3，c4，c6，c7，c8范围为10ns-5um
所有的pin脚都是相互独立的可以单独处理
ISO7816的传输参数
ETU宽度范围：1-4096个时钟周期
BGT,初始ETU宽度，时钟周期可调
BWT, CWT, EGT, RGT, WWT，ETUs可调
时钟停在高低电平可调
时钟停止tG和tH计时，时钟周期可调
奇偶控制可强行控制在0,1…等奇数
输入奇偶错误检查可以被禁止
5千欧或者20千欧的固定上拉电阻
可以模拟1千欧到100千欧之间的任何值SWP传输参数
波特率为49kbps到1.9Mbps
SWP的占空比为0%-50%
SWP S2的检测阈值为1
USB-IC传输参数
USB-IC特有的附件程序由测试者管理
提供的供电电压为1.8V和3.0V
可进行的测试电气测试
开路/短接测试
有效触点为C1，C2，C3，C4，C5，C6，C7，C8
强制电流为：-500uA-500uA
漏电测试
有效触点为C1，C2，C3，C4，C6，C7，C8
测量范围+/-5mA或者+/-500uA
电压测量
有效触点为C1，C2, C3，C4，C6，C7，C8
电压范围为+/-10V
可用模式：动态模式，提供一模拟视角的电压在你选择电压时供你选择静态模式，提供一个即时电压值
爆炸模式，512000电压测量在40ns之间在C1和C6间进行，使信号图像化模拟出来
电流测量
有效触点：C1，C2，C3, C4，C6，C7，C8
有效电流范围：+/-100mA, +/-25mA, +/-5mA, +/-500mA
电流模式：动态模式，提供一模拟视角的电流在你选择电流时供你选择
静态模式，提供一个即时电流在所选触点上
爆炸模式，512000电流测量在40ns之间在C1和C6间进行，使信号
图像化模拟出来
逻辑测试
抗撕裂测试，模拟芯片免疫系统抵抗撕毁读卡器
定时测量，测量芯片一个命令的响应
并发I/O测试，同时发送的字符ISO / IEC 7816和SWP,与一个用户定义的时
间偏移量
SWP框架测试，发送的帧由点/位组成,使发送的数据没有位填充,或CRC错
误
接触式智能卡协议分析模块
技术指标要求
自动化测试
平台提供基于可二次开发的测试环境，提供测试过程交互数据和命令的自动解析和图形化显示功能，基于ISO7816协议的测试环境，操作系统为Windows XP sp3, Vistal, Win7.
测试环境支持USB、TCP/IP、RS232三种接口，操作系统为Windows，以达到良好的驱动兼容性
可作为第三方监测接触式读卡器和卡之间的ISO7816协议的数据并解析
测试平台的开放性决定它可集成到客户自己的测试平台
可以与其他卡及读卡器测试套件同步运用
主要功能支持协议ISO7816-3，T=0和T=1协议，支持波特率范围为
要求49kbps-1.9Mbps 可实现块级和LCC级的解析
支持USB 2.0, I SO/IEC 7816-12大批量存储以及自定义的协议
同步芯片存储晶体
可用的库包括T2G, Eurochip, SLE4442, SLE4407, AT24CXX
可实现自定义协议的开发
可实现硬件加速
可编程参
数
ISO7816-3的协议分析模式：采用I/O方向的检测算法
可进行的测试电气测试
进行测试的有效触点为C1，C6，C7，
样本数512000
可能同时执行电压和电流的测量来表征卡和终端的特性
解析特性测试类型的展示：
逻辑状态的改变
解析特点分析
调制的波特率
时钟频率的检测
信号的模拟表示
I/O方向
信号显示：
信号在C1，C2，C3，C4，C6，C7，C8上的显示触发输入
触发输出
测试过程中的时间可以精确到20ns
触发器可以提供同步的和由外接设备实现的同步
传输方式RS232，TCP/IP 10/100Mbps，USB2.0
软件开发对于嵌入式开发，支持的编程语言为，C, C++, VB, .NET以及任何语言
支持的Dll
可用元素为，测试所需的库和通信Dll 对于远程开发，推荐windrive的交叉编译器。