DDR测试软件简要说明书如以上的示范图:闪动的代表8颗粒的区域横着数0-7带表第一颗区域8-F代表第二颗区域,0-7带表第三颗区域,8-F代表第四颗区域依次带表8颗颗粒的内存条⒈DDR8位与16位的单面测法:注意:DDR的颗粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8⑴.0-7(第1颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第一颗粒已经损坏⑵. 8-F(第2颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第二颗粒已经损坏⑶. 0-7(第3颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第三颗粒已经损坏⑷.8-F(第4颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第四颗粒已经损坏⑸. 0-7(第5颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第五颗粒已经损坏⑹. 8-F(第6颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第六颗粒已经损坏⑺. 0-7(第7颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第七颗粒已经损坏⑻. 8-F(第8颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第八颗粒已经损坏⒉如果你是128M的双面DDR内存,如以上显示界面图:1-16M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------ 16-32M ------------------------------------------------------------------------------------------------------- 32-48M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------48-64M------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 从1M到64M的上面的4根虚线上出现乱码的话,代表这跟内存的的第一面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)64-80M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------ 80-96M -------------------------------------------------------------------------------------------------------96-112M------------------------------------------------------------------------------------------------------------112-128M---------------------------------------------------------------------------------------------------------- 从64M到128M的上面的4根虚线上出现乱码的话,代表这跟内存的的第二面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)注意:在内存的PCB板上的两边标着1与92的代表第一面93与184的代表第二面,1-128M的8根虚线是用来区分两面区域的作用.⒊SD的8位与16位的单面测法:注意:SD的颗粒排列循序是8-4-7-3-6-2-5-1⑴.0-7(第1颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第8颗粒已经损坏⑵. 8-F(第2颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第4颗粒已经损坏⑶. 0-7(第3颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第7颗粒已经损坏⑷.8-F(第4颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第3颗粒已经损坏⑸. 0-7(第5颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第6颗粒已经损坏⑹. 8-F(第6颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第2颗粒已经损坏⑺. 0-7(第7颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第5颗粒已经损坏⑻. 8-F(第8颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第1颗粒已经损坏4.通过以上的说明SD的双面是跟DDR的是一样的但是颗粒的好坏判断要按照他们的排列循序来判断的.5.PCB板的短路或者虚焊的测法:在以8根虚线上都出现乱码代表这根内存的PCB板有问题.6.不点亮内存的测试方法:很多内存短路和颗粒损坏后都不能点亮,不点亮的可以用一根好的内存去带动他.必须SD的带SD的.DDR的带DDR的.内存软件会自动跳过好的那根去检测坏的那条.7.使用方法:直接把软盘插入软驱,在主板的CMOS里设置软驱起动,起动后本软件会自动引导到测试界面进行检测RAM Stress Test（RST）内存测试软件使用指南近日比较关注内存的检测问题，找到了名为“RAM Stress Test”的软件（简称“R. S. T.）。
但是下载下来，只有区区的2M多，并且是nero格式的文件，这么小的文件能检测内存吗？于是在Google上查找相关说明，经过跋山涉水，终于找到一片，但是很不幸，在一家被挡在墙外的网站上，也就只好半转载、半理解得写出了这一篇使用说明。
先看软件介绍。
这个可以从网络上搜索。
例如，它是一个独立开发的系统，没有依附任何操作系统，相容于x86系列，只要BIOS认的到的容量都能测。
也有人写道，是什么专业测试软件，很贵（500美元）等等，其实只需要知道能测试内存好坏就可以了。
而且，该软件不但可以测试内存好坏，还可以测试内存上的芯片……，对，就是芯片（chip）。
当发现内存错误时，软件会明确发生错误的内存芯片位置，发出警告音。
在Dos系统下，它还可以打印检测报告。
彪悍。
但能检测的单条内存容量最大为2G。
据说，测试DDR2内存也不灵，而且目前最新版本是4.4.2，以后改为硬件了（看这里），囧。
软件为光盘镜像文件，用刻录机做成成启动光盘，使用非常简易，电脑只要设定为软、光盘启动，插入制作好的盘即可自动运行。
程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（Base Memory，由主板自带的，据说是DOS时代的遗物，为了运行DOS系统而产生的，通常小于640K，具体的看这里。
），第二项是扩展内存地址（Extended Memory，一般就是知内存槽里插的内存了，科学的解释还得看这里。
），第三项是测试你CPU的L2 cache。
基本内存与扩展内存，其实以内存模块来说是一样的，差别是在于内存寻址的区段不同，基本内存的地址为0~640KBytes，扩展内存的地址为1024KBytes 以上的内存地址，中间的641~1024KBytes，则被以前设计IBM 兼容PC （x86）的架构保留成为I/O 地址，至今的计算机多多少少仍继承的的内存架构（I/O与内存共享地址）。
具体使用步骤，还是看别人现成的吧。
注，下列图片引自史莱姆论坛（/）这张图是我自己补的，为了说明测试时候的情况。
测试时，下方的白色区域，会有一行红色的闪动数字和字母：0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF哪一行出现了字母，比如图5/7中，就说明哪一颗芯片出错了。
其中，从1M到64M的4条虚线上出现的话，说明内存的的第一面的颗粒有问题；从64M到128M的4条虚线出现的话，说明这根内存的的第二面的颗粒有问题。
在内存的PCB板上的两边标着1与92的代表第一面，93与184的代表第二面。
我只使用该软件检测了DDR一代双面的内存，DDR一代单面内存、SD内存没有检测，PCB板也没有检测。
所以不知道网上说的对不对，但是也照搬过来了。
上面提到的闪动的字母和数字依次代表内存条的8颗颗粒。
从左到右横着数：0-7代表第1颗粒区域、8-F代表第2颗粒、0-7代表第3颗粒、8-F代表第4颗粒、0-7代表第5颗粒、8-F代表第6颗粒、0-7代表第7颗粒、8-F代表第8颗粒。
DDR8位与16位的单面测法:⑴. 0-7(1 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第1颗粒已经损坏⑵. 8-F(2 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第2颗粒已经损坏⑶. 0-7(3 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第3颗粒已经损坏⑷. 8-F(4 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第4颗粒已经损坏⑸. 0-7(5 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第5颗粒已经损坏⑹. 8-F(6 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第6颗粒已经损坏⑺. 0-7(7 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第7颗粒已经损坏⑻. 8-F(8 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第8颗粒已经损坏注意DDR的颗粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8SD的8位与16位的单面测法:⑴. 0-7(1)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第8颗粒已经损坏⑵. 8-F(2)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第4颗粒已经损坏⑶. 0-7(3)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第7颗粒已经损坏⑷. 8-F(4)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第3颗粒已经损坏⑸. 0-7(5)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第6颗粒已经损坏⑹. 8-F(6)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第2颗粒已经损坏⑺. 0-7(7)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第5颗粒已经损坏⑻. 8-F(8)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第1颗粒已经损坏（注：PCB板上从1到84为第一面，颗粒的排列顺序从1到84为8-7-6-5-4-3-2-1，切记注意）板的短路或者虚焊的测法:如果在8根虚线上都出现乱码，说明这根内存的PCB 板有问题。
PCBRAM Stress Test（RST）内存测试软件说明Ram Stress Test是美国Ultra-X公司旗下的一个专业记忆体测试程式，是专门给系统生产厂商出机前用的测试程式，他其实是从其他的产品独立出来的一项测试，该公司专作系统测试的软硬体，方便生产厂商将产品做详细测试，至于R.S.T.在目前记忆体生产业使用非常普遍，因为经过他的测试几乎就能应付大部分的记忆体问题，所以是非常好用的一个测试工具！闪动的一排测试数字代表内存8颗粒的测试情况。