逐次逼近寄存器型ADC设计报告
组 员（学 号）： 张健 20083474
单炯 20083478
崔亚军 20083479
朱小龙 20083498
专 业（年 级）：集成电路设计与集成系统
课 程 名 称 ：
提 交 日 期 ：
逐次逼近寄存器型模数转换器（SAR ADC）设计报告
- 2 - 一、组员分工：
序 号 组 员 承 担 工 作
1 张健 版图
2 单炯 模拟（其他模块）
3 崔亚军 数字（SAR逻辑）
4 朱小龙 （DAC、SH）
二、项目设计要求：
设计一个12bit逐次逼近寄存器型模数转换器SAR ADC
三、项目参数要求：
分 辨 率 12bit
采样频率 100KHz
功 耗
< 2mW
电源电压 2.5V
面 积 < 3mm2
工作温度 0~80℃
工艺技术 0.25um
四、项目设计内容：
1. 逐次逼近寄存器型模数转换器（SAR ADC）整体结构：
Analog In S/H
DAC
SAR LOGIC VDAC
VCOMP Vin
SAR REGISTER COMPARE
图1 逐次逼近寄存器型模数转换器工作原理框图 逐次逼近寄存器型模数转换器（SAR ADC）设计报告
- 3 - 2. 逐次逼近寄存器型模数转换器（SAR ADC）的特点及应用：
特点：中级转换速度，低功耗，高精度，小尺寸
应用：便携式仪表、笔输入量化器，工业控制和数据/信号采集器等
3. 逐次逼近寄存器型模数转换器（SAR ADC）工作原理：
SAR ADC其基本结构如图1所示，包括采样保持电路(S/H)、比较器(COMPARE)、数/模转换器(DAC)、逐次逼近寄存器(SAR REGISTER)和逻辑控制单元(SAR LOGIC)。模拟输入电压VIN由采样保持电路采样并保持，为实现二进制搜索算法，首先由SAR LOGIC控制N位寄存器设置在中间刻度，即令最高有效位MSB为“1”电平而其余位均为“0”电平，此时数字模拟转换器DAC输出电压VDAC为0.5VREF，其中VREF为提供给ADC的基准电压。由比较器对VIN和VDAC进行比较，若VIN>VDAC，则比较器输出“1”电平，N位寄存器的MSB保持“1”电平；反之，若VIN 4. 逐次逼近寄存器型模数转换器（SAR ADC）各子模块设计： 子模块1： 比较器（COMPARE） （1） 电路结构：(给出电路结构图) 逐次逼近寄存器型模数转换器（SAR ADC）设计报告 - 4 - （2） 工作原理： 比较器的部分是模拟和数字转换的一个通道，通过比较电压的高低来确定数字信号，来达到逐次逼近的目的，当生成的电压高于基准电压的时候，比较值为 0 ，就会生成一个比刚才小 一点的电压继续比较，如果基准电压高于生成的电压，那么比较值为 1 ，就会生成一个高一点的电压。 实际上，比较器的输出由低电平转换到高电平时，或者从高电平转换到低电平时，需要一定的时间（决定电压比较器的响应），其次由于比较器的增益是有限的，并且存在失调电压， 因此它的输入端将出现不确定的电压，该不确定电压将直接影响到电压比较器的灵敏度（对输入端电压判别的灵敏度）。电压比较器的开环增益越高，失调电压越小，则其不确定电压越小， 即灵敏度越高左端的恒流源电路时产生一个30uA 的电流，然后通过电流镜镜像到比较器的内部。 （3） 参数设定： M1 M2 M3 M4 M5 M6 M7 M8 P/N N N P P N P N N W/L（u） 3/1 3/1 4.5/1 4.5/1 4.5/1 38/1 35/1 4.5/1 逐次逼近寄存器型模数转换器（SAR ADC）设计报告 - 5 - C1 C2 0.2pf 5pf （4） 仿真网表： .lib 'mix025_1.l'tt vdd vdd gnd 2.5 vin1 vin1 gnd 1.2 * vin1 vin1 gnd pwl 0 1.25 1u 2v 2.3u 2.2v 2.5u 1.3v 5u 1.7v //动态仿真 *vin2 vin2 gnd sin 1.25 1.25 1200k //动态仿真 Vin2 vin2 gnd pwl(0 0 10u 2.5) C1 N38 Gnd 0.2pF C2 out Gnd 5pF M3 N37 vin1 N36 Gnd nch L=1u W=3u M4 N36 vin2 N38 Gnd nch L=1u W=3u M5 Gnd N35 N35 Gnd nch L=1u W=4.5u M6 N36 N35 Gnd Gnd nch L=1u W=4.5u M7 out N35 Gnd Gnd nch L=1u W=35u M8 Vdd N37 N37 Vdd pch L=1u W=4.5u M9 N38 N37 Vdd Vdd pch L=1u W=4.5u M10 out N38 Vdd Vdd pch L=1u W=38u i11 Vdd N35 30uA .tran 10n 10u *.tran 10n 5u //动态仿真 .print v(out) v(vin1) v(vin2) .end （5） 仿真结果： Vdd Ibias 2.5V 30uA 逐次逼近寄存器型模数转换器（SAR ADC）设计报告 - 6 - （要求给出仿真结果图，并对结果图中所显示的功能或结果数值进行说明） 功能仿真 动态仿真 动态仿真结果将一正弦信号和一不确定信号进行比较，说明比较器能够实现此功能。 逐次逼近寄存器型模数转换器（SAR ADC）设计报告 - 7 - （6） 版图： （要求在版图中标出该模块与外界连接的各端口名称，用标尺标出版图尺寸值） 子模块2： 采样保持电路(S/H) （1）电路结构：(给出电路结构图) （2）工作原理： 采样保持电路的电路结构为：传输门开关，采样电容器，保持电路。其中保持电路为电压跟随器，当开关导通的时候，通过外加信号给电容充电，断开后由于电容无法放电，将继续保持原来的电压，这个电压被电压跟随器保持下来，这样的结构就构成了采样保持电路。 采样保持电路的传输门电路如下： 传输门为低电平导通，原理为：分别由 Nmos 和 Pmos 的源和漏链接传输门的两端，然后 Nmos和 Pmos 的栅极分别加载上相反的电压，当 Nmos 加高电平， Pmos 加低电平的时候，传输门导通，当 Nmos 加低电平， Pmos 加高电平的时候，传输门关闭。同时用 Nmos 和 Pmos 来做传输门可以减少传输中的阈值损失。采样保持电路使用了电压跟随器，即上图中的运放的（ in- ）逐次逼近寄存器型模数转换器（SAR ADC）设计报告 - 8 - 端口直接连入（ OUT ）。 （3） 参数设定： M1 M2 M3 M4 M5 M6 M7 M8 M9 M10 M11 M12 P/N P N P N N N N N P P P P W/L(u) 15/1 3/1 15/1 3/1 4.5/1 4.5/1 3/1 3/1 15/1 15/1 94/1 14/1 C1 C2 C3 pf 1 3 3 （4）仿真网表： .lib 'mix025_1.l'tt vin in gnd sin 1.25 1.25 0.1meg vk k gnd pulse(2.5 0 0.1n 1n 1n 1u 5u) C1 N1 out 3pF C2 out Gnd 3pF C3 N4 Gnd 1pF M4 N3 K Gnd Gnd nch L=1u W=3u M5 N4 N3 in Gnd nch L=1u W=3u M6 N2 N2 Gnd Gnd nch L=1u W=4.5u M7 N10 N2 Gnd Gnd nch L=1u W=4.5u M8 N1 N4 N10 Gnd nch L=1u W=3u M9 N8 out N10 Gnd nch L=1u W=3u M10 out N2 Gnd Gnd nch L=1u W=14u M11 N3 K N6 N6 pch L=1u W=15u M12 N4 K in N6 pch L=1u W=15u M13 N8 N8 N6 N6 pch L=1u W=15u 逐次逼近寄存器型模数转换器（SAR ADC）设计报告 - 9 - M14 N1 N8 N6 N6 pch L=1u W=15u M15 out N1 N6 N6 pch L=1u W=94u i16 N6 N2 30uA v17 N6 Gnd 2.5 .tran 10n 40us 10n .print v(in) v(k) v(out) .end * End of main circuit: Module0 （5）仿真结果： （要求给出仿真结果图，并对结果图中所显示的功能或结果数值进行说明）