CPK 名词解释及方程式组成结构：
CPK=CP *（1 - K ）
U ：设计目标数
设计上、下限： 设计上限： 平均数+ 3σ 设计下限：平均数- 3σ
控制上、下限：图纸的控制要求尺寸，如 100±0.25 ，则尺寸控制上限为100.25，控制下限为99.75。

X
–
(AVERAGF): 平均数（每组数据总和的平均值）
CPK 方程式： *
（
1 -
）
控制上限 - 控制下限
设计上限 - 设计下限 设计最大值+设计最小值
2
-
平均数
（控制上限 - 控制下限）/ 2
测量最大值+平均数
2
K ： 方程式：
μ – 平均数
（设计上限 - 设计下限）/2
控制上限 - 控制下限 设计上限 - 设计下限
CP ： 方程式： （Xi-X －）2∑
N
σ：西格玛 方程式： μ： 方程式：
R ：客户所需求的σ倍数 N ：数据组内的数据个数 ∑ ：求合数
CPK 计算例题
某产品其中一项尺寸控制要求为100mm ±0.25mm ，取10pcs 产品进行测量，数据分别为：
该项尺寸控制上限为100.25mm ，控制下限为99.75。

X –
=（100.21+100.25+100.20+100.19+100.18+100.17+100.16+100.18+100.19+100.23）/10 = 100.196
= = 0.02615339366 ≈ 0.026
CP = （100.25-99.75）/ [ 100.196+3*0.026 – (100.196-3*0.026) ] = 0.5 / 0.156 = 3.20512820512 ≈ 3.205
K = (100.205-100.196) / [ (0.078- (-0.078)/2 ] =0.009/0.078 = 0.115
CPK = 3.025*(1-0.115) =3.025*0.885 = 2.677
σ
=
10
（100.196-100.21）2+（100.196-100.25）2+（100.196-100.20）2+（100.196-100.19）2+（100.196-100.18）2+（100.196-100.17）2+（100.196-100.16）2+（100.196-100.18）2+（100.196-100.19）2+（100.196-100.23）2
10
0.00684
μ
= （100-25+100.16）/ 2 = 100.205
一、公式1
、
Ca=(
實際平均值-
規格中心值)/(
規格公差
/2)=(X-μ)/(T/2) T=Su-S1= 規格上限
-
規格下限=
規格公差
CP=
規格公差
/6
個估計實際標準差
=T/6δ
Cpk=(1-|Ca|)*C p
2
、
CPK=(1-K)*CP; 其中
CP=(
规格上限-
下限）/
（
6SIGMA) K=( 平均值
-
规格中心值）/
（规格上限
-
下限）*2
※制程准確度
Ca(Capability o f Accuracy)
Ca值是衡量制程之實際平均值與規格中心值之一致性
一Ca之計算：
Ca=
實際中心值－規格中心值
x100%= X- U X100%
規格公差的一
半
T/2
T=SU -SL =規格上限－規格下限
等級判定
Ca
值越小
,
品質越佳.
依
Ca
值的大小分為四個等級
注:分母之所以取規格公差的一半是為了易知X是較規
格中心值U 偏高或偏低.
A
級
:
理想的狀態故維持現狀
.B
級
:
盡可能調整,
改進為A
級
.
C 級:
應立即檢討并予于改善
.D
級
:
應采取緊急措施,
并全面檢討
,
必要時應考虙停止生產
.
➢
制程精密度
Cp(Capability of Pr ecision)
Cp
值是衡量規格公差范圍與制程變量寬度兩者之間相差的程度。

Cp
值之計算(
分兩種情況：單邊規格和雙邊規格)
單邊規格時：
Cp=
規格上限－實際平均值
= Su-X (SU > X,
只有上限規格
)
3
個估計實際值標准差3δ
Cp =
實際平均值－規格下限
=
X- SL (SL < X, 只有下限規格)。