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品管七大手法

品管七大手法
一QC七大手法的具體內容
1.層別法
2. 拍拉圖
3. 特性要因圖
4.檢核表
5.直方圖
6.管制圖
7.散布圖
1.層別法
1.1定義:是針對部門別人別工作方法別原材料零件別設備地點等分別壘集數據
以找出其間之差異,而針對差異加以改善的方法.
1.2對象和項目
1.2.1關于別方面可以分為:男女別,年齡別教育程度別等等.
1.2.2機械設備的層別可分為:年代別治具別新舊型別等
1.2.3時間的層別可以分為:小時別日期別周期別季節別年別等等
1.2.4原材料零件別可以分為:產地別材質別大小別重量別等等
在此表格可以一目了然地看出226的不良最多且原材料的不良最多.
分層別:
1.依不良現象別:226 232 319 229 337 701 227
2.依不良結果別:人為不良原材料不良設計不良等.
2.柏拉圖
2.1定義:根據壘集的數據以不良原因不良狀況不良發生位置或客戶抱怨的種類安全事故等
項目別分類計算出各類項目所佔之比例而按照大小順序排列,再加上累積值的圖
形一般也稱之為80 20原理.
2.2使用的意義
2.2.1掌握問題,支出最高的三項為問題的核心,區以這三項為改善目標.
2.2.2發現原因:針對主要問題要以特性要因圖加以分析
2.2.3效果確認:應找到原因並且提出對策加以實施,實施後效果可用柏拉圖來比較對策
前後的改善效益.
2.3制作方法
2.3.1決定不良的分類項目,可先以結果分類著手以找出問題的所在,然後進行原因別分
類分類項目不要超過6項
2.3.2決定數據壘集期間並且按照分類項目壘集數據:以一天,一周,一個月,一季或一年
為期間.
2.3.3按分類項目別統計數據.
2.3.4記入圖表紙並且依據大小排列畫出柱形,縱軸直線代表金額,橫軸直線代表決定項
目,然後將6種項目按照比率大小由左到右依次畫出柱形.
2.3.5點上累計值並用線連結
2.3.6記入拍拉圖的主題及相關資料
2.4範例:以F2線17:00~15:00一天間的不良品數據為例
依據上面所提供的數據可以計算累計數和累計比率數
從柏拉中可以了解一些主要的不良狀況,我們可以解決不良率為
80%的主要不良.
3.1特性要困圖
一個問題的特性受到一些影響時,將這些要因加以整理,成為相互關系而有條理的圖形,這種圖形稱為特性要因圖又叫做骨圖 3.2使用的意義
3.2.1問題的整理,使不同的人對問題的看法有一致性的看法 3.2.2追查真正的原因 3.2.3尋找對策
3.2.4教育訓練,通過分析可以找出原因從而得到改善 3.3制作方法
3.3.1決定問題或品質的特性:特性可以用零件規格,賬款回收率,產品不良率,產品不良 率等與品質有關,或者以和成本有關的材料費,人事費用加以分類.
3.3.2決定大要因:可利用4M 來分類
3.3.3決定中小要因:中小要因素約3~5個較好
3.3.4決定影響問題點的主要原因,將主要原因或是影響較大的要因做上特殊的標記以便 好采取對策.
3.3.5填制作目的,日期及制作者等資料.
3.4 舉例<以CS120固定影響為例>
IPQC 在抽檢產品時,發現有一台產品是固定影像,對此現象作出關系圖形,如下:
查檢表
定義:以簡單的數據用容易了解的方式,作成圖形或表格,只記上檢查記號並加以統計整理.
作為進一步分析或核對檢查用.
種類:
記錄查檢表:用于不良原因和不良項目的記錄用查檢表
點檢用查檢表:是確認作業實施和機械設備的情形
制作方法;
決定要壘集的數據及希望把握的項目
決定查檢表的格式,例如縱欄列入決定分類項目,橫欄記入期間或作業者
決定記錄形式,用"正"字記號.或用不同種圖形記號
決定壘集數據的方法,任何人壘集,期間多久及檢查方法
舉例以F1線Final Test的不良數為例和以IPQC制程稽核報表為例
數據查檢表以F1線Final Test為實例
說膽:判定"是"或"正常"畫"V"判定"否"或異常畫"X"暫時不用畫"NA"
直方圖
定義:將所壘集的數據,特性質或結果值,用一定的範圍在橫軸上加以區分成n個相等的區間
將各區間內的測定值所出現的次數累積起來的面積,用柱形畫出的圖形
意義:可用了解產品在規格標準之不分布的形態,制程的中心值與差異的大小等情形
制作方法(制作步驟)
找出所提供的數據中的最大值與最小值,分別以不同的記號表示出來
計算全距全距®=最大值(L)-最小值(S)
決定組數和組距:組數就是直方圖柱形數量,根據數據數量的多少來決定
組數(K)=1+3.32logn
組距=全距/組數
決定各組的上組界或下組界
最小一組的下組界=全部數據的最小值-測量值最小位數*0.5
最小一組的上組界=最小一組的下組界+組距
最小二組的下組界=最小一組的上組界
以此類推
決定組的中心點
(上組界+下組界)/2=組的中心點
制作次數分配表依照數值的大小記入各組的組界內,然後計算各組界的次數]
制作直方圖橫軸表示測量值的變化,縱軸表示次數將各組的組界分別標示在橫軸上,各組的次數的多少則用椎形畫在各組距上
填上主題規格,平均值,數據來源日期
舉例:以光箱的亮度變化為例
在Main Board Dead Pixel test站有50個光箱的亮度區別是
42.42.43.44.44.44.45.45.46.47.47.47.47.48.49.49.48.48.50.50.50.51.51.52.53.52.
53.52.54.54.55.56.57.58.57.57.56.43.43.51.51.53.53.45.55.55.50(光箱亮度的規格為50+8lux)此組數據中最大值(L)=58 最小值(S)=42
全距R=L-S=58-42=16 組數K=1+3.32logn=1+3.32log50=6.6=7(取整)
組距h=R/K=16/66=2.4
第一組下限值=最小值-測定值/2=42-1/2=41.5
上限值=下限值+組距=41.5+2.4=4.3.9
組別組界中值劃記次數
1 41.5~43.9 42.7 正 5
2 43.9~46.
3 45.1 正T 7
3 46.3~48.7 47.5 正T 7
4 48.7~51.1 49.9 正正 10
5 51.1~53.7 52.3 正下 8
6 53.7~56.1 54.6 正下 9
7 56.1~58.5 57 下 4
Total 50
列表:
X =(42+42+….+55+50)/50=50.12 C2=50故此光箱亮度的變化在規格之內
管製圖
1.定義:管制圖縱軸代表產品特性,以制程變化數據為分度,橫軸代表產品的群體號碼,制造,日期.依照時間順序將點畫在圖上,再與管制界限比較來判定產品品質是否安定的一種圖形.
2.目的:點超出上下管制界限外時,在馬上采取調查發生原因的行動,或當它在上下界限排列或特殊現象時也要采取行動.
3.種類:
3.1計量值管制圖
用來測量長度,重量,面積,面積,溫度,時間等如例子-b 的X-R 管制圖 3.2計數值管制圖,計算不良數,缺點數如例子-a 的P-Chart 不良控制圖 4.X-R 管制圖的制作方法 4.1選定管制項目
4.2搜集數據,並以一定的順序排列
4.3將數據分為K 組,並記入管制圖記錄欄里 4.4
計算各組的X,R(全距) 4.5計算X,R 的值
4.6查系數A2,D4(D3=0)請參照管制圖常用系數表
4.7計算中心線及管制界限,並描繪號出UCL X=X+A2R LCLX=X-A2R UCLR=D4R LCLR=D3R
4.8點圖
4.9管制界限之檢討
4.10繪直方圖,看是否正常分配,再與規格比較
5.P-Chart管制圖的制作方法
5.1收集資料
5.2繪制中心線管制界限
5.3點圖
5.4制程狀態的判定.
5.5如果差異太大的采取措施並要求重新計算管制界限
6.例子
管制圖實例<以F2線Final Test站不為例>
17:00 10:00 12:00 15:00 17:00 10:00 12:00 15:00 17:00 10:00 12:00
由此圖可以看出在5/14日17:00時間段不良品最多,故追蹤
散布圖
1.定義:把互相有關連的對應數據,在方格上以縱軸表示結果,以橫軸表示原因然後用點表示分布形態,根據分布形態來判斷對應數據之向的相互關系
2制作方法
2.1收集相對應的數據,至少有30組,並且填寫在數據表上
2.2找出數據中的最大值與最小值
2.3畫出縱軸與橫軸的刻度計算組距
2.4將各組對應數據標示在座標上
2.5記入必要事項,如數據的數量,產品名稱,繪圖者,日期等記錄上
3.橫軸與縱軸之間的關系
3.1正相關
X增大時Y隨計增大
3.2非顯著性相關
X增大時,Y也隨之增大,但增大的幅度不明顯
3.3負相關
X增大時,Y反而減少
3.4非顯著性負相關
X增大時,Y反而減少,但幅度並不顯著
3.5無相關
X與Y之間看不出有何種關系,X增大時,Y並不改變
3.6曲線相關
X開始增大時,Y也隨之增大,但達到某一值後,X增大時,Y時減小4舉例以CS120機種的待機電流和動作電流為例。

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