三阶文件生效日期2012.04.15 编号SOP-QR-122版本/次A/0
卡尺内校作业指导书
编制人黄民国审核人批准人
日期2012.04.15日期日期
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文件编号修改版本修改页数修改内容描述修改人批准人生效日期SOP-QR-122A0 / 首次发行/
XRF检测样品拆分原则版本/次A\0
1.0目的：
保证计量仪器的有效使用，确保产品实现过程的质量。

2.0适用范围；
本公司所有卡尺。

3.0职责：
品管部计量管理人员负责计量仪器的校准工作。

相关使用部门配合计量管理人员进行校准工作。

4.0校准方法：
4.1校准项目及要求﹕
量块（外校有效期内）被检卡尺
4.2校准条件与设备
4 .2.1校准条件
环境温度:15~25℃范围内,温度波动不超过±3℃/6h﹔湿度:不大于75%RH﹔. 4.3校准过程
4.3.1外观﹕采用目视观测。

4.3.1.1目测外部是否有弯曲变形。

4.3.1.2检验卡尺游尺与本尺之间是否畅顺
4.3.1.3 归零后检查卡尺内外量量爪测量面是否完全密合
4.3.1.4 检查带表卡尺表针运行是否平稳、顺畅
4.3.1.5 检查数显卡尺显示是否清晰
4.4基本误差校准
4.4.1选取合适的标准量块分用被检卡尺测试量，记录测量结果。

4.4.2 选取10mm量块用深度尺测量并记录测量结果
4.5. 测量结果判定
4.5.1依下表判断测量结果.
卡尺内型允许误差
游标卡尺±0.06 深度±0.02
带表卡尺±0.04
数显卡尺±0.04
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4.5.2判断合格则贴合格标签，不合格时依具体情况暂停使用或降级使用。

5.0校准记录
《仪器校验记录表》。