电镜技术实验报告
任课老师:
实验名称：实验二：透射电镜使用及常规样品观察
实验目的:
了解透射电子显微镜的基本原理、电镜生物标本的制备方法及电镜金属标本的制备方法和观察。

实验原理:
透射电子显微镜是以图象方式提供样品的检测结果，其成像的决定因素是样品对入射电子的散射，包括弹性散射和非弹性散射两个过程。

薄样品成像时，未经散射的电子构成背景，而像的衬度取决于样品各部分对电子的不同散射特性。

采用不同的实验条件可以得到不同的衬度像。

透射电子显微镜不仅能显示样品显微组织的形貌，而且可以利用电子衍射效应同样获得样品晶体学信息
透射电镜的构造及与光学显微镜比较:
三、仪器与材料:
仪器：JEM-2100型透射电子显微镜、超薄切片机、恒温箱、400目铜
网等
姓名: 专业: 日期: 成绩:
学号:
占
成
您
系
统
透
射
电
子
盘
镜
照
明
系
统透
射
光
学
显
微
镜
—比刚
3、对所观察样品进行拍照
五、实验结果及思考：
实验结果以照片形式附在最后
思考：
1、透射电镜的制样目的：要使样品做的很薄，以利于电子束的穿过。

2、什么是超薄切片技术：超薄切片技术包括：取材、固定、脱水、浸
透、包埋、切片及染色。

电镜样品采用戊二醛和锇酸双重固定，用酒精或
丙酮脱水，环氧树脂进行包埋。

3、铜网的构造及其作用：铜网一般直径为3毫米，上面铳有许多微米大小的孔，在铜网上覆盖了一层很薄的火棉胶膜并在上面蒸镀了碳层以增加其膜的强度，被分析样品就承载在这种支撑膜上。

4、SEM照片与TEM照片比较：SEM图象是三维的，而TEM图象是平面二维的；SEM图象的标尺一般比TEM的大近十倍；SEM图象反应的是样品表面的信息，而TEM图
象反应的是样品内部结构。

铜网铜网网孔
金样本金颗粒
卩》■门in
Ji Microscope
4 士
Accelerating Voltage
200 kV
Majftlfica
tloti
150000 x
乂還, .-W -XT
1—20 nm-- 1
测量金颗粒：一个长度为5.85nm，—个长度为5.03nm
铜网上的膜金颗粒电子衍射图
测量金颗粒电子衍射图半径：由内圈到外圈,
半径依次为：4.17 1/nm、4.71 1/nm、7.03 1/nm、8.34 1/nm
-可编辑修改 -
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