三维形貌仪测量原理
三维形貌仪是一种用于测量物体表面形貌的仪器。

它基于光学原理，通过记录光线在物体表面的反射或散射来获取物体的三维形状信息。

三维形貌仪的测量原理主要包括以下几个步骤：
1. 光源发射：三维形貌仪通过发射光源（如激光或白光）照射在物体表面，光源发射出的光线传播到物体表面。

2. 光线反射/散射：光线照射到物体表面后，根据物体表面的
性质，光线可能会有反射或散射现象。

其中，反射光线的方向与入射光线的方向相对称，散射光线的方向则随机分布。

3. 光线收集：三维形貌仪通过相机或其他光学探测器收集物体表面反射或散射的光线。

收集到的光线会通过光学系统进入成像系统。

4. 成像：收集到的光线经过光学系统的聚焦和成像处理，最终形成物体表面的图像。

成像系统可以利用单一的相机或多个相机进行成像。

5. 图像分析：通过对物体表面图像进行分析处理，可以得到物体表面的三维形貌信息。

常用的分析方法包括三角剖分法、相位测量法、结构光法等。

通过以上测量原理，三维形貌仪可以实现对物体表面的高精度、非接触式的三维形貌测量。

它在工业、制造、科学研究等领域中广泛应用，可用于表面质量检测、产品设计、模具制造、雕刻等方面。