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截面積A 線路有低阻值，不等於線路有缺口 線寬3mil線路，導通性不良時，阻值會超 過10Ω 線路愈細愈長， 產生阻值愈高 壓合層次愈高， 產生阻值愈高 孔徑（盲埋孔）愈小， 產生阻值愈高 電阻R＝ 長度L
電測原理
測試機有誤測就會有漏測 只是誤測的板子可以自己找 漏測的板子客戶幫你找
絕緣性測試：測試電壓50V ～250V、電流 20mA 測試條件：100KΩ～20MΩ
測試規格與測試品質之關係
0Ω 10Ω 導通性測試 PASS 絕緣性測試 FAIL
∞Ω
FAIL PASS 20ΜΩ
導通性測試規格越趨近0 Ω，測試品質越嚴 格 絕緣性測試規格越趨近∞Ω，測試品質越嚴 格
線路為什麼有低阻值???
非短路群中任兩點之阻抗小於5Ω.
開路&短路量測原理探討(三)
實例說明
Short group 1 Short group 2 : <1 2 3 4 11 12 13> : <7 8 9 10 18 19 20>
以上為078料號短路群資料,在某次生產中,2 與7 兩個不同短路群點其外部(conn、排線) 阻抗超出系統默認值(5Ω),導致30%短路產品 誤判為良品.
隔離效果原理的探討
ICT與電表的差異就是:ICT可對旁路元件進 行隔離(Guarding),而電表不可以. 在TR-518FR的內部電路中,是利用一顆OP當 做一個隔離點(最多可有五個隔離點),若是:以 電流源當信號源輸入時,則在相接元件一之另一 腳加上一等高電位能(Guarding Point),以防止 電流流放與被測元件相接之旁路元件,確保量測 的精確性.
A
誤 測
ON ON ON
ON
SHORT
1
2
3
4ห้องสมุดไป่ตู้
IO點損壞更會發生漏測
IO損壞(常關)
OFF
嚴重漏測
ON ON ON
A
PASS
1
2
3
4
空板電測機優點(一)
超智慧軟體,支援多片排片測試及 導電膠測試(ACRT)
排片測試又稱為排版測試,其主要的用途是讓 作業人員在測試完畢后能以最快的速度判定 多片版中某片為不良品.
空板&成品電測 Bare Board Tester and Cable Tester
空板電測
成品電測
測試規格
絕緣性20MΩ測試
導通性10 Ω測試
是客戶的要求 更是大勢所趨
測試機測試規格
測試機以定電壓測試 先測導通性 再測絕緣性
導通性測試：測試電壓10V、電流20mA
測試條件：10 Ω～100K Ω
電容之Debugging(一)
在編輯電容測試資料時其高低點通常選定一 較少元件相接的腳為低點,以減少幹擾程度. 300pF以下之電容,一般使用較高的信號做量
測.
大於3.3UF之電容一般採用Mode 0(電流源測試)
方式量測.
當測量測值與標準值偏差太大時,可適當選用 不同模式測試(保證產品OK)直到穩定為止.
電容之Debugging(二)
實例說明: 175客戶反應電容測試出現不 穩定現象,據分析為
隨著新產品(P59系列)的不斷開發,相應線 路越細、點數越來越多、電氣原件越來越多. 現有的電測機已存在著誤判的隱患,出現點數 不夠的尷尬,IC無法測試的難堪.電測系統 的完善已是迫在眉捷.多功能的電測機準系統 導入勢在必行.
測試點開關（IO）基本組成
IN
ON IO OFF
IO
OUT
PASS
A
電表 治具探針 治具探針
導通性測試流程圖 （continuity）
ON
ON
A
OPEN
1 2 3 4
導通性測試流程圖 （continuity）
ON
ON
A
PASS
1 2 3 4
IO點損壞就會發生誤測
ON
A
OPEN
誤測
OFF
IO損壞(常關)
第18屆NWING-FPC技術交流研習會表資料
發表單位:自動化
前言
電測是檢驗產品電氣特性之唯一方法,也是
保證產品最終品質最有效的手段.故對電測原理 的探討與實施,有助於更多的人了解電測,了解 保障產品品質的重要途徑.
目錄
空板電測(Bare Board Tester) 成品電測(Cable Tester) ICT電測(In Circuit Tester)
ICT概論:
ICT即在線測試儀(IN CIRCUIT TEST) 是一大堆高級電表的組合.電表能測 到,ICT就能測到,電表測不到,ICT也可 能測不到.
如:R//Jumper, R無法用電表測,ICT也 無法測.
測試原理的探討
一般而言,基本上測試方法有兩大方 向,一則利用電流源當信號源,量測電壓 值,以應用在電阻量測最普遍;二則以電 壓源當信號源,量測電流值,以應用在電 容、電感量測最普遍
空板電測機優點(二)
監測系統,提高測試可靠度.
所謂監測系統就是防呆裝置: 當防呆為ON時,測試完畢為良品者,必須從設 定的方向安放否則機臺不再繼續測試的動作 .此項設計是為了防止長時間的工作所造成的 疲勞,而導致誤動作的發生.將良品與不良品混 在一起.
ICT電測
(In Circuit Tester)
開路&短路量測原理探討(一)
在開路&短路自我學習(open&short
learning)時,系統會自動將量測點之間阻抗
小于25Ω的點聚集成不同的短路群(short
groups)
開路&短路量測原理探討(二)
於開路測試(open test)時,在任一短路群 (short groups)中任何兩點之阻抗不得大於55 Ω,反之即是開路測試不良(open fail) 短路測試(short test)時分成三種情況,若有 其中以下的情況發生,則判定短路測試不良 (short test) 在短路群(short groups)中任何一點與非短 路群中任一點之阻抗一點阻抗小於5Ω. 不同短路群中任兩點之阻抗小於5Ω.
1
2
3
4
IO點損壞更會發生漏測
ON ON IO損壞(常開)
嚴重漏測
ON
A
PASS
1 2 3 4
絕緣性測試流程圖 （insulation）
ON
ON
ON
ON
A
PASS
1 2 3 4
絕緣性測試流程圖 （insulation）
ON
ON
ON
ON
A
SHORT
1 2 3 4
IO點損壞就會發生誤測
ON
IO損壞(常開)