标准名称：无损检测计算机射线照相系统的长期稳定性与鉴定方法共 2 页第 1 页
序号标准章条
号
意见和建议
1. 1 格式与ASTM相同
2. 1 “计量器械”改“专用器具”
3. 1 “空隙”改“间隔”
4. 3.1 “寄生信号”改“混叠”；整句见孔凡琴译文
5. 3.4 “CR图象屏”改“CR测试板”
6. 3.4 包含一系列标准器具用来测试CR系统性能的一种测试板
7. 3 部分定义与E2446同
8. 3.5 扫描系统中光电转换中的信号放大
9. 3.7 成像板或激光扫描装置平稳移动时形成的一种不稳定性，其结果呈现一系列阶跃的图象线
10. 3.9 CR系统寿命期内，用以评估系统使用一段时间后的性能
11. 3.10 IP在扫描传输系统中导致的水平图象线的强度变化
12. 4.1 “几个”改“其它”
13. 4.2 CR测试板综合了多种评价图象质量的装置
14. 4.3 本标准是为工业CR用户提供使用。

15. 4.4.1 “证明CR系统的正常运行”改“以保证CR系统的正常性能”
16. 4.4.1.2 “测试并记录于文件的项目与内容包括”改“测试记录包括：”
17. 4.4.1.2a) “任意组合线对”改“可选楔型线对测试卡”
18. 4.4.1.2g) “检测日期与检测人员姓名”改“检测人员与检测日期”
19. 4.4..1.3 该句需要重新组织
20. 4.4.1.4 “人为措施”改“伪像”
21. 4.4.1.5 “光增强器”改“光电倍增管”“广泛”改“大量”
22. 5.1.1 第一句改为“对比灵敏度应符合……”1、2、3和4%改为“1%、2%、3%和4%
23. 5.1.3 “多线像质计”改“楔型像质计”；“5个组”改“5根”
24. 5.1.3 “空间分辨率应在每毫米1.5~20线对（Lp/mm）”
25. 5.1.4 “两个像质计”改“两个标尺”
26. 5.1.5 “截面宽度为5mm”改为“截面宽度最少为5mm”
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27. 5.2 “器械”改“器具”
28. 5.2.1.1 “能量在100 KeV以上，应放置0.1mm的铅屏
29. 5.2.1.2 “射线能量”改为“射线线质”
30. 补注
31. 5.4.1.1 “用记录表记录下列参数：”改为“记录下列参数”
32. 5.4.1.3 该句需要重新组织
33. 5.4.1.5 “直至4天，这对读出设备应用能力相比较来说是需要的”改为“或者根据需要”
34. 5.4.1.6 “雷值”改为“灰度值”
35. 6.1.1.1 整句见孔博士翻译
36. 6.1.2.1 将E2446引用过来
37. 6.1.2.4 “以便测试系统长期稳定性时使用”改“用于测试系统长期稳定性”
38. 6.1.3 “多线像质计”改为“楔型像质计”下同
39. 6.1.3.2 第一句改为“楔型像质计由多组线对组成”
40. 6.1.3.3 漏一段，整句见主任翻译
41. 6.1.3.4 “IP和CR读出机”改为“IP或更换CR读出机”
42. 6.1.3.5 “线质和几何条件以及IP/增感屏系统暗盒的散射大小”改为“线质、几何条件和IP增感屏的散射大小”
43. 6.2.2.1 “强度”改为“完整性”
44. 6.2.2.2. 该为“激光扫描束在扫描线上下偏移使得T形边缘图象……”；“复印”改为“打印”；“开放场中”改为“空白区域”中出现一条发亮的白线时，有可能代表在光导上面有颗粒污染；“认为缺陷”改为“伪像”
45. 6.2.2.3 “因此需要维修人员进行维修
46. 6.2.2.4 “允许对打印计算机图象的打印机进行评价”
47. 6.2.4 “为确定原因”改为“因此”
48. 6.2.5.1 “此测试”改“此项测试”；“检查光导管或光学增强管”改“光电倍增管”；“正确”改“准确”
49. 6.2.6 “消除”改“擦除”；“潜像消除为零”改为“残影消除”
50. 6.2.7 “人工缺陷”改为“人工伪像”
51. 注2 加
记录人：章怡明。