1.1 数电实验仪器的使用及门电路逻辑功能的测试
1.1.1 实验目的
（1）掌握数字电路实验仪器的使用方法。

（2）掌握门电路逻辑功能的测试方法。

1.1.2 实验设备
双踪示波器一台
数字电路实验箱一台
万用表一块
集成芯片：74LS00、74LS20
1.1.3 实验原理
图1.1是TTL系列74LS00（四2输入端与非门）的引脚排列图。

Y A B
其逻辑表达式为：=⋅
图1.2是TTL系列74LS20（双4输入端与非门）的引脚排列图。

Y A B C D
其逻辑表达式为：=⋅⋅⋅
与非门的输入中任一个为低电平“0”时，输出便为高电平“1”。

只有当所有输入都为高电平“1”时，输出才为低电平“0”。

对于TTL逻辑电路，输入端如果悬空可看作逻辑“1”，但为防止干扰信号引入，一般不悬空。

对于MOS逻辑电路，输入端绝对不允许悬空，因为MOS电路输入阻抗很高，受外界电磁场干扰的影响大，悬空会破坏正常的逻辑功能，因此使用时一定要注意。

一般把多余的输入端接高电平或者和一个有用输入端连在一起。

1.1.4 实验内容及步骤
（1）测量逻辑开关及电平指示功能
用导线把一个数据开关的输出端与一个电平指示的输入端相连接，将数据开关置“0”位，电平指示灯应该不亮。

将数据开关置“1”位，电平指示灯应该亮。

以此类推，检测所有的数据开关及电平指示功能是否正常。

（2）检测脉冲信号源
给示波器输入脉冲信号，调节频率旋钮，可观察到脉冲信号的波形。

改变脉冲信号的频率，示波器上的波形也应随之发生变化。

（3）检测译码显示器
用导线将四个数据开关分别与一位译码显示器的四个输入端相连接，按8421码进位规律拨动数据开关，可观察到译码显示器上显示0～9十个数字。

（4）与非门逻辑功能测试
①逻辑功能测试
将芯片74LS20中一个4输入与非门的四个输入端A、B、C、D分别与四个数据开关相连接，输出端Y与一个电平指示相连接。

电平指示的灯亮为1，灯不亮为0。

根据表1.1中输入的不同状态组合，分别测出输出端的相应状态，并将结果填入表中。

表1.2
②与非门对脉冲信号的反相传输及控制功能的测试
将芯片74LS00中一个2输入与非门的A输入端接频率为1kHz脉冲信号，B输入端接数据开关，输出端Y接示波器。

用双踪示波器同时观察A输入端的脉冲波形和输出端Y的波形，并注意两者之间的关系。

按表1.2中的不同输入方式测试，将结果填入表中。

1.1.5 预习要求与思考题
（1）阅读实验原理、内容及步骤。

（2）了解集成芯片引脚的排列规律。

（3）TTL集成电路使用的电源电压是多少？
（4）TTL与非门输入端悬空相当于输入什么电平？为什么？
（5）如何处理各种门电路的多余输入端。

1.1.6 实验报告及要求
（1）画出规范的测试电路图及各个表格。