8.缺陷当量的确定
被检缺陷的深度大于或等于探头的3倍近场区时，采用AVG曲线及计算法确定缺陷当量。对于三倍近场区内的缺陷，可采用距离-波幅曲线来确定缺陷当量。也可采用其他等效方法来确定
9.从两个相互垂直的方向进行检测，尽可能检测到锻件的全体积
10.检测过程中仪器和探头系统的复核
A．校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮发生变化时
试件名称
试件编号
试件材料
试件尺寸
热处理状态
焊接方式
仪器型号
探测时机
耦合剂
探头型号
探头编号
晶片尺寸
标准试块型号
灵敏度试块型号
表面补偿
检验灵敏度
扫查灵敏度
探测表面状态
仪器时基线调整
比例
测长方法
执行标准
验收标准
探测人员资格
1.了解所探工件及现场工作情况
2.检测前，选定探伤仪器、标准、探头，校核设备辨力。调节和复核扫描量程和扫查灵敏度
B．检测人员怀疑扫描量程或扫查灵敏度有变化时
C．连续工作4小时以上
D．工作结束时
11.按相关标准记录缺陷
12.检测结束前按标准对仪器和探头系统复核
13.判定合格与否并记录保存
14.后处理，如：擦除耦合剂，清理工件等
部门：编制：校对：批准：日期：
4.确定验收标准，依据验收标准要求确定检查范围和检查人员
5.确定单直探头基准灵敏度
6.扫查灵敏度一般不得低于最大检测距离处的Ф2mm平底孔当量直径
7.测定工件材质衰减系数(T≥3N)
α=[(B1-B2)-6]/2T
式中：α--衰减系数，d B/m（单程）；(B1-B2)—两次衰减器的读数之差，d B；T—工件检测厚度，mm；