基础统计
6 的意义
达到 Six Sigma 以后，每一百万台不良有 3~4个不良品，几乎达到完美的水平。 根据顾客的要求外部制定 CTQ，达到顾 客完全满意。 只有高品质才能创造低成本。 不认可99%。 依赖于不生产不良品的过程。
GB理论复习
6 的活动目标
•平均值移动到目标值 •减小散布 •Cp=2, Ppk=1.5 •Zst=6, Zlt=4.5
QFD:
Quality Function Deployment
定 义
Y
把核心顾客的要求事项转化成技术性的要求事项，再 从技术性的要求事项中抽出改善对象项目CTQ的Tool。
测 量
通过对现象分析的 问题与Y的明确化
Y
FMEA:
Failure Mode and Effects Analysis
明确化在产品设计阶段可发生的预想问题，为了定顺 序而使用制定对故障MODE应采取的Action Tool。
D
USL
A - 工程管理不好，技术不足。 B - 工程管理不好，技术优秀。 C - 工程管理优秀，技术不足。 D - 世界一流水平。
Process Capability Analysis for C3
Process Data USL 15.2500 Target * LSL 15.0500
LSL
USL
Poor
ZST 技术
3
4
5
Good
ZSHIFT=ZST - ZLT
定义&测量阶段
离散型工程能力计算
Defect：缺陷或不良 Opportunity：Defect在每个单位 上发生的机会 Unit：测量的最小单位 DPU = Defect Per Unit 一个 Unit中存在的Defect的个数。 DPO = Defect Per Opportunity 一个Unit存在的机会数和相关Unit中 Defect的个数。 DPMO = Defect Per Million Opportunities DPO x 1,000,000，可转换为Sigma Scale YFT = First Time Yield 不经过再作业个别工程的收益 YRT = Rolled Throughput Yield 工程当中不经过再作业合格的收益 提示Zero Defect的可能性的提示 YND = Normalized Yield 连续工程的平均收益
2.0
C3
A
LSL USL LSL USL
B
Average: 15.1447 StDev: 0.0225501 N: 30
Anderson-Darling Normality Test A-Squared: 0.280
P-Value: 0.618
ZSHIFT 管理 1.0
0.5 Good
1.5
C
LSL USL LSL
CTQ：
Critical To Quality
对产品的性能、功能、安全性等重要品质有致命影响 的核心特性值。
定义&测量阶段
不管数据的种类，在短时间相同作业条件下收集的Sample群。
GB理论复习
群内变动与群间变动的区别
群内变动（White Noise） •工程一般原因引起 •现技术水平无法控制 •影响到散布 •群间变动（Black Noise） •工程特殊原因引起 •可以发现原因并控制 •影响平均值偏离目标值 •用ZSHIFT表示 •代表管理水平
正态分布的特征
6 的参数
平均值 中央值 最频值 标准偏差 四分位数 范 围
中心值
散布
6 的参数计算
呈钟型分布 中间频率高，两边频率低 左右对称 一般情况下的分布 遵循68-95-997原则 寿命实验的数据不遵循正态分布 给出一组数据，计算他们的平均值和标准偏差 15，16，17，18，19
管 理
关注焦点
X

Control chart
Logic Tree： 把引起问题的因子根据MECE原
X1……XN 独立变量（Xs） 输入原料 管理对象 原因
Y=F（Xs） Y

则分类表示出来，因子既包含全体，又互相不重复。
反应变量 从属变量（Y） 输出产品 X 现象 结果
分 析
通过对预备因子的分 析找到主要X因子
Y,X
Pareto: 为了导出对问题核心Issue事项而使用的Tool，
一般是80％的问题因20％的Issue问题而发生。
改 善
致命少数因பைடு நூலகம்的明确化 改善成果的维持及对 CTQ项目的管理
Y,X
Process Mapping:
用于调查情报的流程 和把Process文字化明确改善而使用的Tool。
有理数群 Rational Subgroup
Subgroup内只存在群内变动，
Subgroup间只存在群间变动。 可以区分长期和短期工程能力。
一般收集30个数据，Subgroup数是6，Subgroup Size是5。
根据5M1E收集有理数群。人员、机器、材料、方法、测量和环境。•用ZST表示
•代表技术水平
Within Overall
Mean
15.1447
Sample N 30 StDev (Within) 0.0111457 StDev (Overall) 0.0227453
ZST=3*CP 6 ZLT=3 * PPK
Potential (Within) Capability
Cp
CPU CPL
2.99
3.15 2.83
0
Cpk
Cpm
2.83
*
15.05
15.10
15.15
15.20
15.25
Exp. "Overall" Performance PPM < LSL 15.77 PPM > USL 1.82 PPM Total 17.59
0
1
2
Overall Capability
Pp
PPU PPL
1.47
x
x
n
i

15 16 17 18 19 17 5
x

x
i

2
n 1

4 11 4 10 5 1 2
6总论
DMAIC 5 Step
活动阶段 活动内容
定义问题领域
GB理论复习
名词解释
活动中心 主要工具 Process Mapping Logic Tree Pareto Analysis QFD & FMEA Gage R&R 工程能力分析 RTY Graph Analysis F-Test, T-Test, ANOVA Regression Chi Square DOE
1.54 1.39
Observed Performance PPM < LSL 0.00 PPM > USL 0.00 PPM Total 0.00
Exp. "Within" Performance PPM < LSL 0.00 PPM > USL 0.00 PPM Total 0.00
Ppk
1.39
连续型工程能力计算与向后改善方向
Normal Probability Plot
.999 .99 .95 .80 .50 .20 .05 .01 .001
15.10 15.11 15.12 15.13 15.14 15.15 15.16 15.17 15.18 15.19
Poor 2.5
Probability