硬件测试流程
测试分3轮(即3次): 第一轮,进行所有项测试; 第二轮,开发修改问题后,回归测试; 第三轮,开发修改后仍然有问题,再次修改后回归测试;
测试 策略 •开发 调试
出 口准 则:
1、整 机基本 功能开 发已经 简单验 过一 遍,基 本功能 正常;
2、无 致命问 题;
3、无 影响测 试执行 严重问 题(如 射频测 试无法 建立通 话连接 、触摸 屏功能 不正 常);
备注: CDCP = Concept Decision Check Point PDCP = Plan Decision Check Point ADCP = Availabl e Decision Check Point GA = General Availabl e
测试流程
CDCP
概念设计 计划
PDCP
ADCP
(前期堆叠设计)开发(后期小批量试产)
详细设计和原理图PCB阶段 小批量试产前 小批量试产后 测试方案案、详细设计报告评审
开发调试
原理图检视
PCB检视
测试执行包括:整机,功能、性能、指标、可靠性测试(FIT故障注入、容错容限) 专业试验(环境气候、环境 机械、EMC、安规、手汗、百格等)、重
4、ESD 静电已 简单测 试通 过;
•测试 执行 策略
入 口准 则:
1、开 发调试 完成;
2、测 试用例 完成;
3、测 试环境 准备 好;
出 口准 则:
1、发 现的所 有问题 都已更 改并回 归测试 通过, 无严重 遗留问 题;
2、所 有测试 项目执 行完 成;
3、输 出测试 报告;
ADCP
验证
GA 发布
生命周期
小批量试产后
客户验收测试
测试环境准备及维护 开发调试
认证测试
测试执行
故障注入、容错容限)、 、手汗、百格等)、重点客户资料测试。
后回归测试;