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第二节 输入保护电路
二、输入保护电路 当外界干扰或静电感应使输入端有很高的电压时，高电压可 以使二极管击穿。只要设计二极管的击穿电压小于MOS晶体管的 栅击穿电压，首先使D击穿，产生的大电流在R上引起压将，从而 使加在MOS晶体管栅极的电压降低，防止了栅击穿。电阻R还有 限流的作用，防止二极管击穿引起过大的电流而被烧坏。由于干 扰信号包括静电引起的输入端高电压都是瞬时的脉冲信号，只要 电流不是非常大，二极管不会被烧坏，从而可以继续起保护作 用。这种单二极管保护电路非常简单，占用面积也小，但是对于 CMOS IC输入级的NMOS和PMOS两个晶体管的栅极不能都有很 好的保护作用。
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第二节 输入保护电路 防止闩锁效应的措施：
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第二节 输入保护电路
二、输入保护电路 3、在CMOS VLSI 中还可以用一个栅接地的NMOS管和一个栅 接电源的PMOS管共同构成输入保护电路，由于保护电路的MOS 管尺寸较大，其源漏区pn结又可以起到二极管保护作用。保护电 路MOS管的宽长比（W/L）一般在200以上。
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第二节 输入保护电路
一、栅击穿问题 例如： 一个作为输入端的MOS晶体管，tox 45nm,W 60 m, L 2 m 若使等效栅压达到栅击穿电压50V，栅上需要积 累的电荷为
QG CGVG WLCoxVG 92 fF 50 V 4.6 10
V
' R VDD VTp
1
' R
' R K P1 K P 3
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第一节 输入缓冲器
用CMOS史密特触发器作输入缓冲级，可以提高输入噪声容限。 对CMOS史密特触发器最大的输入高电平、低电平噪声容限为
V NHM VDD V

V NLM V
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C
因此只要很少的电荷就可以引起栅击穿。人体所带的静电荷足以 引起上千伏的栅压，因此防止杂散的静电荷引起栅击穿是很重要 的。
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第二节 输入保护电路
二、输入保护电路 1、为了防止MOS IC中接到芯片输入端的MOS晶体管出现栅击 穿，必须在MOS IC的输入端增加保护电路，用来为栅上积累的静 电电荷提供放电通路，保护连接输入压点的MOS管的栅。 最简单的保护电路是由一个二级管D和一个电阻R组成的。
上式最后的近似是考虑 I B 2 I RW 后的结果。 由Q2的电流放大特性可知，因外界触发而引起的集电极电流等于
I C 2 2 I B 2 21I AG
若该电流流经电阻Rs时所产生的压降足以保证Q1的导通，则此时 就有 I C 2 21 I AG I B1 I RS I B1 （考虑到 I B1 I RS ） 也即有 21 I AG I B1 I AG 1 1 1 整理后得到
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第二节 输入保护电路
其中条件（2）的推导如下 设外界干扰引起的触发电流I AG 使Q1的EB结正偏电压大于≥0.7V。 此时Q1导通，若 I C1 流过Rw产生的压降大于0.7V，就能使Q2也导 通，并引起较大的电流 I B 2 ，有等效电路可得到如下关系：
IC1 1I AG I RW I B 2 I B 2
当采用对称设计时，CMOS史密特触发器有对称的正、反向触发 电平，即
1 V VDD V 2

1 V VDD V 2

使输入噪声容限比对称设计的CMOS反相器增大
V 。
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第一节 输入缓冲器
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第二节 输入保护电路
一、栅击穿问题 MOS晶体管是绝缘栅场效应器件。当栅极加电压时会在栅氧化层 中形成一定的电场，电压越高或者栅氧化层越薄，电场强度越 大。当上氧化层上的电场超过一定的强度，会引起氧化层击穿， 造成MOS器件永久性破坏。 引起氧化层本征击穿的电场在5 106 ~ 1107V / cm 范围。 若 tox 50nm ，允许的最大栅压为 VGm 25 ~ 50V ； 若tox 25nm ，则 VGm 12.5 ~ 25V 由于MOS晶体管的栅极，即集成电路的输入端，会受到外界的各 种干扰而形成很高的栅压。由于MOS晶体管栅极和其他电极之间 是绝缘的，外界引入的各种杂散电荷将在栅上积累，形成等效栅 压，这种静电引起的等效栅压将会造成栅击穿。
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第二节 输入保护电路 防止闩锁效应的措施：
（1）减小阱区和衬底的寄生电阻Rw和Rs，这样可以减小寄生双 极管发射结的正向偏压，防止Q1和Q2导通。 （2）降低寄生双极晶体管的增益，增大基区宽度可以降低双极管 的增益，如适当加大阱区深度；从版图上保证NMOS和PMOS的 有源区之间有足够大的距离。 （3）使衬底加反向偏压，即p型衬底接一个负电压而不是地，这 样可以降低寄生NPN管的基极电压，使其不易导通。 （4）加保护环，这时比较普遍采用的防护措施。保护环起到削弱 寄生NPN晶体管和寄生PNP晶体管之间的耦合作用。在NMOS周 围增加接地的p+保护环，在PMOS周围增加接Vdd的n+保护环， 这会增加面积。
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CMOS电路版图中的闩锁效应
有下图所示的反相器的版图剖面示意图可见，在这个P阱CMOS电 路中，以N型衬底为基区，P+源区及漏区为发射区，P阱为集电区 形成一个横向的寄生PNP三极管。而以P阱为基区，N+ 源区及漏 区为发射区，N型衬底为集电区又形成一个纵向的寄生NPN三极 管。这两个寄生三极管构成了一种PNPN的四层可控硅（SCR）结 构，其等效电路图中，Rs、Rw为衬底和P阱的体电阻。
VIH min 2.0V
VIL max 0.8V
这样的电平如果直接送入逻辑电路的输入端，将使CMOS电路不 能正常工作。 3 2013-7-29
第一节 输入缓冲器
要通过输入缓冲器转换成合格的CMOS逻辑电平，再送到其他电 路的输入端。可以通过一个专门设计的CMOS反相器实现电平转 换，它的逻辑阈值设计在输入高、低电平范围之间，即 VIH min VIL max Vit 1.4V 2
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第二节 输入保护电路 CMOS电路版图中的闩锁效应
产生闩锁效应的基本条件有三个： （1）外界因素使两个寄生三极管的EB结处于大于等于0.7的正向 偏置。 （2）两个寄生三极管的电流放大倍数乘积大于1： （3）电源所提供的最大电流大于寄生可控硅导通所需要的维持电 流Ih。
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第二节 输入保护电路 防止闩锁效应的措施：
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第二节 输入保护电路 防止闩锁效应的措施：
（5）用外延衬底，在先进的CMOS工艺中，采用p+衬底上有p-外 延层的硅片，p-外延层较薄，大约比n阱深几个微米。这样使寄生 pnp晶体管的集电极电流主要被p+衬底收集，从而极大减小了寄 生NPN晶体管的基极电流，使NPN晶体管失去作用。 （6）采用SOICMOS技术是消除闩锁效应的最有效途径。由于 SOICMOS器件的有源区完全有二氧化硅包围隔离，不会形成纵 向和横向的寄生双极晶体管，从根本上避免了闩锁效应。
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第二节 输入保护电路
二、输入保护电路 2、上图所示可以很好保护NMOS管栅极，但是对PMOS管栅极保 护作用较差。若把二极管接在VDD和输入端之间，则对PMOS管 栅极保护作用好而对NMOS栅极保护差。 因此，CMOS IC中一般都采用双二极管保护电路，用两个二极管 和一个电阻构成的保护电路。
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第一节 输入缓冲器 CMOS史密特触发器的正向阈值，或叫正向触发电平
V

V DD R VTN 1 R
其中 R K N1 K N 3 用史密特触发器作输入级，当接受TTL输入电平时，即 使 VIL 接近或大于NMOS管的阈值，只要 VIL V ，输出 就是合格的CMOS高电平。 从高电平向低电平变化时的反向阈值，即反向触发电平
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第三节 输出缓冲器
当一个电路的输出要驱动一个很大的负载电容时，为了保证电路 有一定的工作速度，必须使电路的输出既能提供足够大的驱动电 流。因为电路的延迟时间可近似用下式表示：
CLV1 td ID
在一定负载电容和逻辑摆幅的情况下，要减小电路的延迟时间必 须增大MOS管的驱动电流；要增大驱动电流只有增大输出级 MOS管的宽长比，而这样将加大前一级的负载电容，影响前一 级的工作速度。因此在驱动很大负载电容时，如扇出很大的情况 或是接到片外的输出端，需要经过一个输出缓冲器电路或叫输出 驱动器
第一节 输入缓冲器
为了降低输入级反相器的逻辑阈值，而又不使NMOS管宽长比很 大，可以采用另一种输入缓冲器电路。 在第一级反相器上面增加了一个二极管，用来降低加在反相器上 的有效电源电压，从而降低反相器的逻辑阈值。另外增加一个反 馈管Mf来改善第一级反相器输出高电平。当Vin VIL max 0.8V 时， M2弱导通，使输出高电平降低。这个较差的高电平经过第二级反 相器反相后，输出一个较差的低电平，只要这个低电平使Mf导 通，靠Mf把第一级的输出电平拉到合格的高电平。第二级反相器 的尺寸根据驱动能力的要求设计。
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第二节 输入保护电路
二、输入保护电路 其中D1是p+n-二极管，D2是n+p-二极管，R是多晶硅电阻。 这种保护电路对NMOS管和PMOS管都有很好的保护作用。这种 保护电路的缺点是占用面积较大，不仅因为增加了一个二极管， 而且为了防止闩锁效应，在两个二极管周围都要增加保护环。