Agilent 射频与微波器件测试解决方案
议程


Agilent Measurement Forum
射频微波器件及测试技术发展
Agilent 网络仪产品：PNA-X,E5061B 频率源测试技术 微波器件的系统级参数测试



热点技术问题的解决方案
有源电路非线性参数测试和建模分析 脉冲器件测试 混频器测试 噪声系数测试 太赫兹测试
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频谱分析 & NPR测试 解调分析
N9030A PXA
外部源和信号分析 仪连接网络仪后背 板连接点，所有测 试使用同一个测试 通路
单音或双音CW测试，脉冲测试
E8267D Vector PSG Source
噪声测试，NVNA
N5242/4A PNA-X
新产品
E5061B-3L5
E5061B-3L5, 5 Hz 到 3 GHz
E5061A/62A 300 kHz 到 1.5/3 GHz E5061/62A
2 端口配置, 外加 增益-相位测试端口（1 兆欧/50欧姆 内置直流偏置源
5 Hz
2 端口配置（TR和S参数测试） 50 欧姆和 75 欧姆测试 低成本
脉冲调制能力
• 内置脉冲调制器和脉冲发生器
接收机技术
• 大动态范围，内置接收机衰减器，0.1dB压缩点 12dBm • 宽接收带宽，IFBW最大5MHz • 接收机和激励源的灵活频率关系配置
PNA-X网络仪的激励源功率性能
最大输出功率
PNA-X 提供大功率激励信号
• 满足有源电路测试要求 • 提高仪表测试动态范围
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接收机功率压缩点
接收机灵敏度
基于PNA-X的器件测试平台
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rear panel
J11
J10
J9
J8
J7
J4
J3
J2
J1
Source 2 (standard) Source 1
OUT 1
Pulse modulator
OSC&PLL
On wafer
Pulsed RF and DC
T/R Module Test
射频微波器件测试要求

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器件线性特性测试
S参数，增益，反射，相位非线性，群时延，隔离度等

器件非线性特性测试
增益压缩，交调，谐波，杂散

变频器件和通道测试
变频增益，相位，群时延，
Single Connection:
Gain compression, IMD, noise figure, harmonics, true differential, PAE, hot S22
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Mm-wave
Antenna Test
T/R Module Test
LO
OUT 1
OUT 2
Pulse modulator
OUT 2
To receivers
Pulse generators
1 2
3 4
R1
A
R3
C
R4
D
R2
B
Test port 1
Test port 3
Test port 4
Test port 2
被测件
E5061B-3L5 LF-RF 网络分析仪
ENA 系列 “5 Hz 到 3 GHz 网络分析仪” 新产品
Scopes / Digitizers / VSA Software
校准标准
E5052B 信号源分析仪 Power Sensor, E-Cal, Noise Source
Welcome to the PNA-X
Page 10 January 2009
Agilent网络仪覆盖广阔的测试应用
Amplifier Test
Pulsed RF and DC
MБайду номын сангаасterials Measurements
Mixer Test
50 GHz 43.5 GHz PNA-X
26.5 GHz
13.5 GHz
Signal Integrity
NVNA
Component characterization X-parameter extraction Pulse envelope domain
DC-DC (POL/VRM)
频率响应和阻抗测试 从 100 kHz 到 MHz 范围
在数兆赫兹范围内都
有很高的动态范围

在低频范围内也有很高的动态范围 一次扫描就可以覆盖 5 Hz 到 3 GHz 的范围
环路增益测试 毫欧级阻抗值和 S21测试 从接近直流频率到数千兆赫兹
DC-DC 变换器
系统中的射频微波器件
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Mixer Test
Amplifier Test
Single Connection:
Gain compression, IMD, noise figure, harmonics, true differential, PAE, hot S22
Load pull Noise parameters
/find/pna-x
Scanning Microscope
Agilent PNA-X微波高性能网络分析仪
• Agilent 新的微波网络仪平台。 • 针对射频微波器件测试的应用。满足对放大器，混频器， 多通道器件，脉冲器件,差分器件等微波射频器件测试要求。 • 完整的激励源配置方式：双源配置，单音激励，双音激励， 扫频双音激励，连续波形式或脉冲调制形式
• 节省 时间 , 资金 , 尺寸 , 维修成本 • 改善 精度 , 速度， 指标
不仅仅是VNA，还是 可内部和路的双源 矢量噪声系数分析 脉冲调制器和发生器 频谱仪 非线性分析
关键模块微波特性测试系统
NPR / 复杂信号激励 80MHz or 1GHz BW Options
N8241A 1GHz
噪声源用于噪 声测试校准
+28V
J11 J10 J9 J8 J7
Agilent Measurement Receivers Forum RF jumpers
Mechanical switch
J4 J3 J2 J1
rear panel
Pulse generators
+ Signal combiner 1 2
• 测试功能完整（线性参数，非线性参数和噪声参数）。
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• 频率范围：N5241/2/4/5A： 10 MHz～ 13.5G/26.5G/43.5G/50GHz • 端口数量：2端口或4端口配置 • 先进的接收机处理技术，仪表大测试动态范围，高测试精 度。 • 灵活的配置方式。 • 大屏幕显示，方便简单的操作使用。
• 仪表的测试速度。 • 完整的差分和共模混合S参数测试
平衡器件测试
• 真实的差分激励状态的参数测试
• 功率扫描模式下参数测试
器件测试新思路
Agilent – 单次连接多参数测量SCMM Measurement Forum
Gain, match, isolation
Pulsed-RF
IMD, harmonics, spurs
对测试仪表的要求
• 仪表提供满足要求的大功率激励信号。 • 仪表对大功率的承载能力，大功率状态仪表的校准问题和被测件参数测试。
• 热状态下S22参数测试。 • 非线性参数的建模和非线性参数的测试 • 完整的性能参数测试，包含传输反射参数，非线性参数，噪声系数。
低噪声放大器 混频器测试 T/R组件测试
R1
OUT 1
Source 1 OUT
2
OUT 1
Source 2 OUT
2
3
L O
4
Noise receivers
Pulse modulator
Pulse modulator
To receivers
10 MHz 3 GHz
326.5 GHz
A
R3
C
R4
R2
D
B
Test port 1
Test port 3
内置双激励信号源
PNA-X完整的测试能力
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单次连接实现完整的参数测试
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脉冲状态时域测试
扫频状态下增益，驻波性能测试
内置双源激励状态下交调性能测试
扫功率状态下1dB压缩性能测试
扫频状态噪声系数测试
PNA-X 网络仪的完整配置

模块一致性测试
幅度一致性，相位一致性

噪声特性测试
相位噪声，噪声系数

器件功率特性测试
峰值功率，脉内功率，平均功率，功率下降

复杂激励下器件和通道特性测试
线性调制线性度，干扰测试，临道功率比测试

脉冲特性测试
脉冲边沿，过冲
微波电路测试的挑战
测试应用
功率放大器测试
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无线通信接口
（Zigbee, 蓝牙, HF/UHF RFID 等)
在低频频段具有高的动态范围 需要提供直流偏置的测试环境
传感器信号
滤波器
收发信机