缺陷检出能力、信噪比的测试方法
一、70°探头缺陷检出能力、信噪比的测试方法
1. 设备：SZT-8型探伤仪、SZT-8多功能转换盒、GTS-60
试块、70°探头、耦合剂、压块。

2. 将SZT-8多功能转换盒用9芯高频线及电池4芯电源线
与SZT-8型探伤仪连接好，通道选择置A上，功能选择置外接探头上，70°探头暂不接Q9插座上。

3. 开机，仪器置A超显示状态，轨型置P60，抑制置大，
调节A通道衰减器使电噪声电平≤10％（满刻度的），记录此时衰减器读数为S０＇＝ dB
4. 将70°探头对接于Q9插座上，探头置GTS-60试块上，
偏斜20°角，前后移动探头，用二次波探测GTS-60试块的Φ4平底孔回波。

Φ4平底孔回波应出在7.2大格上，调节衰减器使Φ4平底孔反射波波幅达到80％时。

此时衰减器的读数 dB并按下式（1）算出。

在此基础上保持探头不动，释放衰减器，使Φ4平底孔反射回波前面的杂波达到80％时衰减器读数 dB并按下式（2）算出。

S t＝S2－S0＇（1）S t—检出能力，S2—衰减器读数。

S0＇—电噪声电平
S噪＝S3－S2（2）S3—杂波80％时衰减器读数。

5. 测试结果分析
标准：缺陷检出能力≥20dB，信噪比≥10dB
实测：S t＝ dB S噪＝ dB
经测试后，70°探头的缺陷检出能力及信噪比合格或不合格。

二、37°探头缺陷检出能力、信噪比的测试方法
1. 设备：SZT-8型探伤仪SZT-8多功能转换盒、GTS-60试
块、37°探头、耦合剂、压块。

2. 将SZT-8SZT-8多功能转换盒用9芯高频线及电池4芯
电源线与SZT-8型探伤仪连接好，通道选择置D或E上，功能选择置外接探头上，37°探头暂不接Q9插座上。

3. 开机，仪器置A超显示状态，轨型置P60，抑制置大，
调节D通道衰减器使电噪声电平≤10％（满刻度的），记录此时衰减器读数为S０＇。

4. 将37°探头对接于Q9插座上，探头置GTS-60试块上，
前后移动探头，探测GTS-60试块的螺孔和3mm深度的上斜裂，调节衰减器使两波等高，并使波幅达到80％。

此时衰减器读 dB并按下式（1）算出。

在此基础上保持探头不动，释放衰减器，使3mm深的上斜裂反射回波前面的杂波达到80％时衰减器读数 dB并按下式（2）算出
S t＝S2－S0＇（1）
S t—检出能力，S2—衰减器读数，S0＇—电噪声电平
S噪＝S3－S2（2）S3—杂波80％时衰减器读数
1.测试结果分析
标准：缺陷检出能力≥22dB，信噪比≥8db
实测：S t＝ dB S噪＝ db
经测试后37°探头的缺陷检出能力及信噪比合格或不合格。

三.0°探头缺陷检出能力、信噪比的测试方法
1. 设备：SZT-8型探伤仪、SZT-8多功能转换盒、GTS-60试
块、0°探头、耦合剂、压块。

2. 将SZT-8多功能转换盒用9芯高频线及电池4芯电源线
与SZT-8型探伤仪连接好，通道选择置F上，功能选择置外接探头上，0°探头暂不接Q9插座上。

3. 开机，仪器在置A超显示状态，轨型置P60，抑制置大，
调节F通道衰减器使电噪声电平≤10％（满刻度的），记录此时衰减器读数为S0＇。

4. 将0°探头对接于Q9插座上，探头置GTS-60试块上，探
测试块底面，调节衰减器使底面反射波幅达到80％。

此时衰减器读数 dB并按下式（1）算出。

在此基础上保持探头不动，释放衰减器，使底面反射回波前面的杂波达到80％时衰减器读数 dB并按下式（2）算出
S t＝S2－S0＇（1）
S t—检出能力，S2衰减器读数，S0＇—电噪声电平
S噪＝S3－S2（2）
S3—杂波80％时衰减器读数
1.测试结果分析
标准：缺陷检出能力≥24dB，信噪比≥16Db
实测：S t＝ dB S噪＝ dB
经测试后0°探头的缺陷检出能力及信噪声比合格或不合格。