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拉晶教程


State Key Lab of Silicon Materials
5) 放 肩 a.减慢提拉速度 (0.5mm)
b.降低溶液温度 (140-160)
6) 转 肩 a.接近预定目标直径时,提高 拉速 (提至150mm/h) b.为保持液面的不变,转肩时或转肩 后应开启埚升
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2.2 拉晶工艺过程
图3
拉晶基本流程
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1) 拆 炉 准备拆炉用品:1.耐高温手套 2.酒精(无水乙醇) 3.无尘布 或绸布(可重复使用) 4.台车 5.穿好工作服,戴好口罩等
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8) 收 尾 (防止位错反延) a.逐步缩小晶体的直径直至最后缩小成为一点 · 提高拉速 · 升高温度 b.位错反延的距离大约等于生长界面的直径 c.影响单晶的成品率 9) 冷 却 停止石墨加热器的加热,使单晶冷却,此时单晶 处于急速冷却状态,需调整冷却速度,防止单晶产 生缺陷(内裂,冷却提速60-80mm,后可减至 200mm) 冷却时间 · 单晶直径 · 剩余埚底料
注意事项:1.清理干净(沉积的硅化 物及积硅) 2.检查石墨件的使用情况(裂纹,变形 ,螺丝松动等) 3.安装热场要均匀,对称 4.取光孔要对准
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2) 装料、熔料 a. 石英坩埚的检查及安装(是否有孔 、气泡、黑点、气泡群或划伤等) b. 多晶硅的安装注意点 c. 掺杂 (确认与工艺单上一致) 3) 籽晶与熔硅的熔接 a. 温度的稳定(装料量越大,所需时间越长) b. 籽晶的预热(减少籽晶与熔体的温度差,从而减少籽晶中产生 的热应力) 4) 引晶 a. 排除籽晶中的位错 b. 拉速1-5mm/min 直径3-5mm 长度80-150mm
(2)软件方面
1.在输入工艺数据后,能自动控制 各流程;
直径计测值 直径设定值 + P I D 计算 引上速度设定值 出力
2.在单晶等晶过程中具备直径控制 、拉晶速度控制的功能。本控制的
引上速度平均值 引上速度设定值
+ -
P I D 计算
温度设定值出力
程序块图表如图2所示
图2 单晶直径控制和拉速控制程序模块
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• 2. 区熔法 (FZ法) :采用高频率线圈从外围来加热溶解多 晶棒,在与籽晶接触后移动线圈的方法制取单晶。
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2. 硅单晶的生长
2.1 硅单晶的生长装置
· 机械部分 · 电气部分
7) 等径生长
a.达到目标直径时,能实现直径的自动控制
b.保持晶体的无位错生长 · 温度梯度(轴向、径向温度梯度不能过大) · 难熔固体颗粒、炉尘(坩埚中的熔体中的SiO挥发后, 在炉膛气氛中冷却混结成的颗粒)、坩埚起皮后的脱落物等 方法:1.调整热场的结构和坩埚在热场中的初始位置,可改变晶体中的温度 梯度 2.调节保护气体的流量、压力,调整气体的流向,可以带走挥发物 SiO和有害杂质CO气体,防止炉尘掉落 c.无位错单晶的判断(111晶向、100晶向)
L
ωs= ωL
Φ2 δs 即 S’ =0.932×
Φ2 ×S Φ’2
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例:测得Φ457mm坩埚的内径为439mm,晶体直径为205mm,当籽晶的提拉速 度为1.6mm/min时,坩埚随动应为多少? Φ2
解: S’ =0.932×
Φ’2
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直拉单晶硅的生长技术
赵建江 浙江大学硅材料国家重点实验室
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课程的主要内容
1.单晶的制造方法 1. 直拉法 (切克劳斯基法、CZ法):利用旋转着的籽晶 从坩埚中的溶液提拉制备出单晶的方法
例题2:装入60kg高纯多晶硅,拉制成8~12 Ω· cm 的掺磷单晶硅,需要掺入 6×10-3Ω· cm 的母合金多少克? 解:以头部为11 Ω· cm 计算掺杂较有保证,可查表得对应的目标浓度为 4×1014 ,查母合金6×10-3Ω· cm对应的浓度为 C合金=1.1×1019 W=60000g 4×1014 M = 60000 × = 6.85g 0.35 × 1.1×1019﹣4×1014
2.5 硅晶体的掺杂
目标浓度 投料量 掺杂元素原子量
Cs W M m= Ko d No
分凝系数 硅的密度 阿伏伽德罗常数
投料量
目标浓度
m =W
合金
si
C Ko C
合金
si
C
si
分凝系数
掺杂母合金浓度
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例题1:需要拉制重掺硼单晶硅,装料量为60Kg,目标电阻率为5×10-3Ω· cm, 试计算需要掺入高纯硼多少克? 解:W=60000g d=2.33g/cm3 Cs=2.01×1019(从表中查出5×10-3Ω· cm对 应的杂质浓度值) M=10.81 (元素周期表 B) No=6.02×1023 Ko=0.8 2.01×1019 M= 0.8 × 2.33 60000 × 6.02×1023 10.81 ≈ 11.614g
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计算如下:
生长出的晶体质量: ωs=1/4 πΦ2 S tδs 式中 S——晶体拉速 t——生长时间 δs——固态Si密度:2.33g/cm3 Φ——晶体直径
补充的液体质量: ωL=1/4 πΦ’2 S’ tδL 式中 S’ ——埚比随动速度 t——生长时间 δL——液态Si密度:2.5g/cm3 Φ’——坩埚内径 S’ = S Φ’2 δ
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谢!
c. 突然停电、停水 1.瞬间停电(几秒),检查恢复停电前的工艺状态,并进行干预,使工艺恢 复正常,
2.停电时间较长,液面都快结晶,则应先关闭真空泵,并手动摇柄将坩埚 下降或转动晶升电机(注意方向),使单晶脱离液面,同时关闭氩气阀( 防止正压) 及时来电或者长时间不来电,视具体情况具体操作
停水的主要原因:循环水泵烧坏、缺相或抽不上水 停水的后果:炉壁、炉盖、电极、坩埚轴等水冷部位会迅速升温,水温升 高,变成高压蒸气,会冲破薄弱环节(如塑料水管,窥视孔玻璃等部位, 密封件在高温灼烧下变脆、烧焦,发生漏气,电极、埚轴、炉底等甚至烧 坏,损失非常惨重) 停水的应急措施:开启备用水泵供水,如停电,则立即将应急自来水阀打 开供水
d. 氧浓度 石英坩埚 硅溶液 单晶棒 1% 99%
以氧化硅的形式从融液表面蒸发掉
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e. 碳浓度
构成热场的石墨材料 2.4 再加料工艺 提高单晶的生产效率 硅多晶混入单晶中
再加料的注意事项:
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(1)硬件方面 1.在单晶旋转的同时能上拉 2.软轴驱动部、坩埚移动驱动部 的构造能耐高重量负荷 3.坩埚旋转的同时能够上下移动 4.耐减压、耐高温的构造 5.装置要密封,无漏气等 6.在停电、地震等非常情况有安 全对策功能
图1 单晶生长装置概略图
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2.6 埚升速度的计算方法 保持液面在热场中的位置不变 固液界面稳定——有利于单晶生长
开启埚升——一定的上升速度(埚升随动)
埚升随动速度偏小——液面下降 埚升随动速度偏大——液面上升
合适的埚升随动=
在相同时间内生长出的单 晶质量等于埚升随动补充 的液体质量
a. 晶面 (由籽晶的晶面决定)
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b. 导电型
代表性掺杂物和导电型
P型掺杂 N型掺杂 c. 电阻率 单晶在固化时出现掺杂剂的偏析现象,单晶头尾电阻率的变化趋势 降低比例视掺杂剂的分凝系数而定。(杂质浓度与电阻率反比) B 0.8 P 0.35 As 0.3 Sb 0.026 B(硼) (铝镓铟) P(磷),Sb(锑),As(砷)
205 × 205 × S=0.932 × × 1.6 ≈0.325 (mm/min) 439 × 439
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3. 异常情况及处理方法
a. 挂边或搭桥 原因:1.装料间隙大,增加料的总高度 2.没有装成小山型,坩埚上壁接触硅料较多 3.熔料时,没有及时下降埚位或者下降埚位不够 后果:拉晶过程中会黏附上很多挥发物,时而会掉入埚中,破坏单晶的生长 处理方法:1.降低埚位(不得降过下限位),转动坩 埚,将挂边处转至热场中温 度较高的一 方(一般在两边电极的方位) 2.升高功率,让挂边处硅料迅速熔化 注意:防止“跳硅”
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2.3 拉晶条件和单晶特性 单晶生长参数
1.多晶装料量 2.杂质种类(掺杂) 3.杂质掺杂量 4.单晶旋转数 5.坩埚旋转数 6.初始坩埚位置 7.单晶生长导电型号(P型或N型) 2.电阻率 ( ρ ) 3.断面内电阻率变化率 ( Δ ρ ) 4.氧浓度 ( Oi ) 5.碳浓度 ( Cs ) 6.单晶缺陷 ( OSF, MD )
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