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TOFD盲区检测工艺试验报告
二、设备器材
TOFD
仪器型号
仪器编号
探头规格
楔块角度
试块
耦合剂
其他
UT
仪器型号
仪器编号
探头型号
耦合剂
试块
三、TOFD探头设置
序号
模拟
工件
厚度
探头
频率
晶片
尺寸
楔块
角度
探头
延迟
探头
前沿
PCS
mm
时间窗设置
灵敏度设置
1
2
3
4
四、测试方法及结果
1、初始扫查面盲区
根据公司使用的设备、探头,按照上表PCS及相关设置,在扫查面盲区高度测定试块上对人工缺陷进行非平行扫查,确定各种设置下可见侧孔的最小深度,可见侧孔最小深度则为初始扫查面盲区高度值。实际测量结果如下:
序号
模拟试块
编号
模拟试块
厚度mm
PCS
mm
模拟试块下表面焊缝宽度mm
检测区域
初始底面盲区高度计算值mm
1
2
3
4
5
6
7
五、TOFD盲区解决办法
1、手工超声检测(UT)
按照公司《超声波检测工艺规程》制定检测工艺,对相应厚度对比试块上人工缺陷进行检测,检测时用对比试块上的刻槽和侧孔模拟扫查面盲区缺陷和底面盲区缺陷。检测结果如下:
编制:年月日
审核:年月日
序号
对比试块厚度和编号
探头规格
实测值K
探头前沿mm
缺陷位置
缺陷类别
缺陷尺寸
mm
距探头前沿距离mm
长度lmm
深度d1mm
最高波幅(dB)
检测方法
1
2
3
4
2、偏置非平行扫查
参照底面盲区高度计算公式:
设置合适的偏置量,计算偏置后,最大检测区域处底面盲区高度值,计算结果如下:
序号
模拟试块编号
模拟试块厚度
PCS
mm
检测区域
初始底面盲区高度计算值mm
偏置量mm
偏置后最大检测区域处底面盲区高度计算值mm
1
2
3
4
5
6
7
六、试验结论
1、TOFD检测时,扫查面及底面均存在盲区。
2、对扫查面存在的盲区,按本公司超声波检测工艺规程进行脉冲反射法超声检测,能够发现相应的缺陷,且满足NB/T 47013.10-2015标准中要求的扫查面盲区≤1mm的要求,因此,当TOFD存在扫查面盲区时,脉冲反射法超声检测可作为TOFD检测的一种有效的辅助检测方法。
TOFD盲区检测工艺试验报告
报告编号:
一、试验目的及适用范围:
1.通过对公司投入使用的TOFD仪器设备及探头在盲区试块上进行盲区测试试验,确定仪器设备及探头检测盲区的大小,为制定现场TOFD检测操作指导书提供技术参数和盲区检测解决方案。
2.适用于公司投入现场TOFD检测的相应TOFD仪
探头编号
PCS
mm
可见侧孔最小深度(mm)
数据名称
初始扫查面
盲区高度(mm)
1
2
3
4
2、初始底面盲区高度
初始底面盲区高度由计算所得,计算公式为:
式中T为板厚,X为下表面焊缝宽度的一半+熔合线外10mm,S为PCS的一半。
备注:在该试验中,焊缝宽度在相应的模拟试块上测量焊缝宽度。实际检测中,焊缝宽度应为被检测焊缝的实际宽度。
3、对底面存在的盲区,按本公司超声波检测工艺规程进行脉冲反射法超声检测,能够发现相应的缺陷,且满足NB/T 47013.10-2015标准中要求的底面盲区≤1mm的要求,因此,当TOFD存在底面盲区时,脉冲反射法超声检测可作为TOFD检测的一种有效的辅助检测方法。
4、对底面存在的盲区,可按本公司衍射时差法超声检测工艺规程要求,增加两侧偏置非平行扫查,可满足NB/T 47013.10-2015标准中要求的底面盲区≤1mm的要求。因此,当TOFD存在底部盲区时,偏置非平行扫查检测可作为TOFD检测的一种有效的辅助检测方法。