实验一 实验箱及小规模集成电路的使用一 实验目的1 掌握实验箱的功能及使用方法2 学会测试芯片的逻辑功能二 实验仪器及芯片1 实验箱2 芯片：74LS00 二输入端四与非门 1片74LS86 二输入端四异或门 1片 74LS04 六非门 1片三 实验内容1 测试芯片74LS00和74LS86的逻辑功能并完成下列表格。

（1） 74LS00的14脚接＋5V 电源，7脚接地；1、2、4、5、9、10、12、13脚接逻辑开关，3、6、8、11接发光二极管。

（可以将1、4、9、12接到一个逻辑开关上，2、5、10、13接到一个逻辑开关上。

）改变输入的状态，观察发光二极管。

74LS86的接法74LS00基本一样。

表1.2 74LS86的功能测试（2）分析74LS00和74LS86的四个门是否都是完好的。

2 用74LS00和74LS04组成异或门，要求画出逻辑图，列出异或关系的真值表。

（3）利用74LS00和74LS04设计一个异或门。

画出设计电路图。

实验二译码器和数据选择器一实验目的1继续熟悉实验箱的功能及使用方法2掌握译码器和数据选择器的逻辑功能二实验仪器及芯片1 实验箱2 芯片：74LS138 3线－8线译码器1片74LS151 八选一数据选择器1片74LS20 四输入与非门1片三实验内容1 译码器功能测试（74LS138）芯片管脚图如图2.1所示，按照表2.1连接电路，并完成表格。

其中16脚接＋5V，8脚接地，1～6脚都接逻辑开关，7、9、10、11、12、13、14、15接发光二极管。

表2.12 数据选择器的测试（74LS151）按照表2.2连接电路，并完成表格。

其中16脚接＋5V，8脚接地；9、10、11，为地址输入端，接逻辑开关；4、3、2、1、12、13、14、15为8个数据输入端，接逻辑开关；G为选通输入端，Y为输出端，接发光二极管。

表2.23 分别用74LS138（配合74LS20）和74LS151实现逻辑函数),,,(7421m m m m F ∑=,要求画出逻辑图。

GND 816 Vcc 74LS1381 A 02 A 13 A 24 S 25 S 3 7 Y 7 15 Y 0 14 Y 1 13 Y 2 12 Y 3 11 Y 4 6S 1 10 Y 5 9 Y 6GND 816 Vcc 74LS1511 D 32 D 23 D 24 D 05 Y 7 G 15 D 4 14 D 5 13 D6 12 D7 11A 0 6 Y 10 A 1 9A 2实验三加法器和中规模集成电路的改造一实验目的1掌握半加器和全加器的功能测试2掌握中规模集成电路的功能改造。

二实验仪器及芯片1 实验箱2 芯片：74LS00 二输入端四与非门1片74LS151 八选一的数据选择器1片74LS86 二输入端四异或门1片74LS54 四组输入与或非门1片三实验内容1 测试用异或门（74LS86）和与非门（74LS00）组成的半加器的逻辑功能（1）按照图3.1进行连线，其中A、B接电平开关，Y、Z接发光二极管。

（2）按表的要求改变A、B状态，填表。

2 测试全加器的逻辑功能（1）用异或门74LS86、与或非门74LS54、与非门74LS00组成全加器，按图3.2接线，其中A、B、CI接电平开关，S、CO接发光二极管，74LS54的3、4、5、9、10、11均接地。

（2）按表要求改变A、B、CI的状态，并填表。

图3.23 测试以下电路的逻辑功能，要求写出真值表，得出逻辑表达式并化为最简与或式。

74LS54逻辑表达式：J I H G F E D C B A F ⋅+⋅⋅+⋅⋅+⋅=GND 7 14 Vcc 74LS541 A2 B 3C 4D 5E 6 Y 13 J12 I 11 H 10 G9 F8GND816 Vcc 74LS1511 D 32 D 23 D 24 D 05 Y 7 G 15 D 4 14 D 5 13 D6 12 D7 11A 0 6 Y 10A 1 9A 2实验四 中规模集成电路的改造一 实验目的掌握中规模集成电路的功能改造。

二 实验仪器及芯片1 实验箱2 芯片： 74LS151 八选一的数据选择器 1片74LS04 六非门 1片三 实验内容1 用74LS151和74LS04实现逻辑函数∑=),,,(),,,(m m m m D C B A F ,并画出逻辑图GND 816 Vcc 74LS1511 D 32 D 23 D 24 D 05 Y 7 G 15 D 4 14 D 5 13 D6 12 D7 11A 0 6 Y 10 A 1 9A 2实验五 触发器及示波器的使用一 实验目的1 熟悉并掌握D ，J-K 触发器的构成工作原理和功能测试方法。

2 学会正确使用触发器集成芯片。

二 实验仪器及芯片1 双踪示波器2 器件：74LS74 双D 触发器 一片 74LS76 双JK 触发器 一片三 实验内容边沿触发器的测试1在实验箱上将D 触发器连接成T ’触发器2 用示波器CH1通道显示时钟CP 信号；用CH1通道显示触发器输出信号Q ，观察Q 的变化发生在CP 的什么状态？3 把D 触发器换成JK 触发器，并连接成T ’触发器，利用示波器观察Q 与CP 的关系4 绘制时序图5 要求画出D 和JK 触发器改造成T ’触发器的连接图。

74LS7421D3 1CP 5 1Q GND 7 14 Vcc 12 2D 11 2CP 9 2Q 8 2Q 13 2R D 10 2S D 6 1Q 1 1R D 41S D 74LS761 1CP 4 1J 5 Vcc 15 1Q 16 1K 13 GND 12 2K 11 2Q9 2J 2 1S D 6 2CP 3 1R D 7 2S D 82R D10 2Q 141Q 图5.1 D 触发器的逻辑符号图5.2 JK 触发器的逻辑符号实验六 集成移位寄存器一 实验目的掌握集成双向移位寄存器74LS194的逻辑功能。

二 实验仪器及芯片1 实验箱2 芯片：74LS194 双向移位寄存器 1片三 实验内容1 并行输入－并行输出寄存器逻辑功能的测试。

0D ~3D 接逻辑电平开关，0Q ~3Q 接发光二极管，CP 接按键脉冲。

74LS194的状态功能如表6.1。

按照表6.2的要求进行输入，观察输出0Q ~3Q ，并在表中记录结果。

表6.12 右移逻辑功能的测试按照表6.2的要求进行输入，观察输出0Q ~3Q ，并在表中记录结果。

3左移逻辑功能的测试按照表6.3的要求进行输入，观察输出0Q ~3Q ，并在表中记录结果。

表6.2 并行输入－输出功能测试74LS1941 CR 4 D 1 5 D2 15 Q 0 16 Vcc 13 Q 2 12 Q 3 11CP 9 S 02 S R 6 D3 3 D 0 7 S L 8GND 10S 114 Q 1 图6.1 74LS194的管脚图表6.3 右移功能测试表6.4 左移功能测试4用74LS194和74LS04实现扭环形计数器，画出逻辑图和状态转换图。

实验七 集成计数器一 实验目的1 掌握集成计数器74LS161的逻辑功能。

2 熟悉74LS161的管脚排列。

二 实验仪器及芯片1 实验箱2 芯片：74LS161 四位二进制计数器 一片三 实验内容1 并行预置输入芯片管脚如图7.1所示。

0D ~3D 接逻辑电平开关，0Q ~3Q 接发光二极管，CP 接按键脉冲，LD 接地，CR 接高电平（＋5V ），P 和T 一起接高电平（＋5V ）。

按照表7.2的要求进行输入，观察输出0Q ~3Q ，并在表中记录结果。

2 计数功能的测试0D ~3D 接逻辑电平开关，0Q ~3Q 接发光二极管，CP 接按键脉冲。

要求计数器从100074LS1614 D 15 D 2 15 CO 16 Vcc 13 Q 1 12 Q 2 11Q 3 2 CP 6 D 3 3 D 0 7 P 8GND 10T14 Q 0 1 CR 9 LD图7.1 74LS161的管脚图开始计数，一直到1111。

按照表的要求进行输入，观察输出0Q ~3Q ，并在表7.3中记录结果。

表7.3 计数器计数逻辑功能测试3 用预置法实现七进制计数器，要求分别用发光二极管和七段数码管显示。

使用74LS00和74LS161各一片，画出连线图。

只需要画出原理图即可。

。

实验八用555定时器构成多谐振荡器一实验目的1．掌握555定时器的逻辑功能。

2．熟悉555定时器的管脚排列。

二实验仪器及芯片1．实验箱2．芯片：555定时器一片三实验内容1．用555定时器构成如图多谐振荡器电路（所标出的电容、电阻为参考值）。

调整R2的阻值，用实验箱的频率计测量频率f，再用示波器测量T、t W1、t W2.，用万用表测量R1、R2的电阻值，计算占空比q，填入表中：2．根据R1、R2、C的值，用理论公式计算以下表中各项，并求与理论值的相对误差：。