2d100sinθ＝ 2×(2d200)sinθ=2λ 2d200sinθ＝λ
(hkl )的n级衍射可看作(nh nk nl)的一级衍射
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布拉格方程的讨论
sin＝λ/(2d)
λ一定时，d减小，将增大； 面间距小的晶面，其掠射角必须较大
掠射角的极限范围为0°-90°，但过大或过小都会造成 衍射的探测困难
为选择反射。 晶面间距d,掠射角，反射级数n,和X射线的波长λ四个量，已知三个量
，就可以求出其余一个量。
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布拉格方程的讨论
(100)晶面发生二级衍射
2d100sinθ＝2λ
假设在每两个（100） 中间均插一个原子分 布与之完全相同的面， 晶面指数（200）
（200）的面间距是d/2
衍射峰 的位置2 θ
晶面的 面间距dhkl

多种物质以混根合据物存布在拉时，它衍的射衍峰射的数据d 避免漏确定一些格含方量程较少的物相相对的强衍度射峰
对照标准衍射图 不会改变（与谱红可外以不同判）断该物质
衍射峰的 数目
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XRD的应用
1.物相分析
2.精密测定点阵参数
3.取向分析
4.晶粒大小和微观单应击添力加 的测定
材料分析方法 SEM分析方法
XRD分析方法
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SEM分析方法
SEM的结构和工作原理 SEM的主要性能 SEM的应用
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扫描电子显微镜的结构
保证电子光学系统正常工 作，防止样品污染提供高 的真空度
产生扫描电子束
稳压、稳流及相应的安全 保护电路所组成
检测样品在入射电子作用 下产生的物理信号
L层跃迁至K层， L 激发态；
ΔE=EL-EK, 能量 差以X射线光量子 的形式辐射出来
一束X射线通过物 体后，其强度将被 衰减，它是被散射 和吸收的结果，并 且吸收是造成强度 衰减的主要原因。
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晶面组
2dhklsinθ＝λ
光程差 BD＋BF＝2dhklsin θ ＝nλ; 只有当d、 θ和 λ满足布拉格方程式时才能发生衍射。
像。
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SEM的主要性能
放大倍数
MM==AACC/ASS
AS: 电子束在样 品表面扫描的幅度 AC: 荧光屏上阴极 射线同步扫描幅度 M: 则扫描电子显
微镜的放大倍数
主要性能
分辨率
对微区成分分析而 言，是指能分析的 最小区域；对成像 而言，指能分辨两 点之间的最小距离
主要取决于入射 电子束直径，电子 束直径愈小，分辨
描。
出于高能电子束与样品 物质的交互作用，结果 产生了各种信息：二次 电子、背散射电子、吸 收电子、X射线、俄歇 电子、阴极发光和透射
电于等。
信号被相应的接收器接 收，经放大后送到显像 管的栅极上，调制显像 管的亮度。由于经过扫 描线圈上的电流是与显 像管相应的亮度一一对 应，也就是说，电子束 打到样品上一点时，在 显像管荧光屏上就出现 一个亮点。扫描电镜就 是这样采用逐点成像的 方法，把样品表面不同 的特征，按顺序、成比 例地转换为视频传号， 完成一帧图像，从而使 我们在荧光屏上观察到 样品表面的各种特征图
5.宏观应力的测定
6.对晶体结构不完整性的研究
7.合金相变
8.结构分析
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汇报完毕，谢谢！
ppt课件
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X射线衍射 实际的衍射谱上并非只在符合Bragg方程的2处出现强
度，在2 的附近也有一定的衍射强度分布，成峰状，也 叫衍射峰。 符合Bragg方程的2处为峰顶。 可以根据峰的位置、数目和强度得到试样的结构信息。
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X射线衍射可以得到的信息
1、物相鉴定
1.1定性
当X射线通过晶体时，每一种结晶物质都有自己的独特的衍射花样，
率愈高
景深
指透镜对高低不平 的试样各部位能同 时聚焦成像的一个
能力范围
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SEM应用
1.形貌分析：显微组织，断口形貌，三维 立体形态。
2.成分分析。 3.断裂过程动态研究。 4.结构分析。
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X射线的物理学基础
电磁波，波长较短， 具有波动性和粒子
性
K层出现空位， K 激发态；
d:面间距； θ：入射线（反射线）与 晶面的夹角； λ：入射光的波长，Cu靶： λkα1=1.54060, λkα2=1.54443； n：整数，反射的级数
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布拉格方程的讨论
反射≠衍射 镜面可以任意角度反射可见光 X射线只有满足布拉格方程的角上才能发生反射，因此，这种反射亦成
在荧光屏上得到反 映样品表面特征的 扫描图像。
பைடு நூலகம்
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SEM的工作原理
由最上边电子枪发 射出来的电子束， 经栅极聚焦后，在 加速电压作用下， 经过二至三个电磁 透镜所组成的电子 光学系统，电子束 会聚成一个细的电 子束聚焦在样品表 面。在末级透镜上 边装有扫描线圈， 在它的作用下使电 子束在样品表面扫
石英的衍射仪计数器记录图（部分）*右上角为
石英的德拜图，衍射峰上方为（hklPa）ge 值11 ，
X射线衍射 (单晶或多晶)晶体与x射线所产生的衍射作用 衍射斑点或谱图 分析晶体结构
确定晶体所属的晶系（物相鉴定）、晶体的晶胞参数、 晶粒尺寸的大小、结晶度、薄膜的厚度和应力分布等
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