DEK印刷機CPK值之計算公式介紹
＊經由測量同一點的重覆50 次cycle之後,得到如下樣本數:
＊取樣數代表50個與測量點的誤差值- 圖例如下↓
Process Capability
Sample (取樣數) : X1,X2,~~~X50 共50個
Mean (平均值) : X1+X2+~~+x50 / 50 =X
Standard Deviation ( 標準差= Sigma ) 計算如下:
(X1-X )²+(X2-X )²+ ~ ~ +(X50-X )²/ 50= A Standard Deviation = A開根號CPK計算方式如下:
Upper CPK = ( USL –X ) / 3Sigma Lower CPK = ( X– LSL) / 3Sigma
CPK = min ( Upper CPK& Lower CPK ) ←取數值最小者
USL(Upper Specification Limit)=規格值上限(+0.025mm)
LSL(Lower Specification Limit)=規格值下限(-0.025mm)
P.S : 以上是MPM-UP3000的規格值±o.oo1 inch, 僅供舉例說明
說明: 1.當X愈接近USL/LSL中心值(一般為0)時愈好(意謂~取樣點均勻分佈於中心值+/- 兩側)
2. X1,X2,~~~,X50等樣本分布愈靠近中心線(X)愈好
*因為Sigma的值愈小→所得出CPK值愈大*
3.客戶可隨時在DEK機台求取CPK值, 而MPM無此功能。